- Tytuł:
- Importance of wheat grain orientation for the detection of internal mechanical damage by the X-ray method
- Autorzy:
-
Grundas, S.
Velikanov, L.
Archipov, M. - Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/25784.pdf
- Data publikacji:
- 1999
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Instytut Agrofizyki PAN
- Tematy:
-
grain hardness
internal damage
X-ray method
mechanical damage
wheat grain - Źródło:
-
International Agrophysics; 1999, 13, 3
0236-8722 - Pojawia się w:
- International Agrophysics
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł