Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "high-temperature characteristics" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
DC characteristics of the SiC Schottky diodes
Autorzy:
Janke, W.
Hapka, A.
Oleksy, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/202279.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
silicon carbide
Schottky diodes
static characteristics
high-temperature
Opis:
The isothermal and non-isothermal characteristics of silicon carbide Schottky diodes in the wide range of currents and ambient temperatures are investigated in this paper. The measurements of the diodes characteristics have been performed with the use of a pulse method, with fast registration of measurement points after the diode current turning on, or with the use of a fully static method, in which the self-heating phenomenon is taken into account. Apart from the measurements, the series of numerical experiments, giving the isothermal and non-isothermal characteristics as a result, were executed. The complex, accurate numerical procedures as well as simplified analytical calculations were implemented. A good conformity of all calculation and measurement results have been obtained. In the presented investigations, for relatively high currents and ambient temperatures, the influence of self-heating on the SiC Schottky diodes static characteristics is significant. The large (even 4 V for the ambient temperature 300.C ) values of voltages corresponding to the nominal diode currents have been observed.
Źródło:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences; 2011, 59, 2; 183-188
0239-7528
Pojawia się w:
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Structural investigations and determination of current and voltage characteristics in htsc 2G SF12050 tapes
Badania strukturalne oraz wyznaczanie charakterystyk prwo-napięciowych dla taśm htsc 2GSF12050
Autorzy:
Jędryka, J.
Szota, M.
Nabiałek, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/352918.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
nadprzewodniki wysokotemperaturowe
charakterystyka prądowo-napięciowa
prąd krytyczny
analiza składu chemicznego
mikrostruktura
high-temperature superconductors
current and voltage characteristics
critical current
analysis of chemical composition
microstructure
Opis:
Investigations of a state-of-the art high-temperature ceramic superconducting tape of SF 12050 series are presented. The study focuses on current and voltage characteristics, examination of microstructure and analysis of chemical composition in superconducting tapes of SF series. In order to measure current parameters, a measuring system was designed to investigate sections of the tapes at the temperature of liquid nitrogen. The system is powered with direct current with parameters I= 0 ÷ 580A and U= 0 ÷ 8V. Measurements of critical current were taken by means of determination of the decline in voltage along the measurement section for the tape with accuracy of 1nV. Analysis of chemical composition was carried out using scanning microscope which features chemical composition microanalyser EDX. The paper presents microscope images which are a result of examination of the structures by means of light microscope and scanning microscope. The method of preparation of superconducting tapes for soldering and the method of selection of solder were also presented.
W pracy zaprezentowano wyniki badań ceramicznej wysokotemperaturowej taśmy nadprzewodzacej najnowszej generacji z serii SF 12050. W artykule przedstawiono badania dotyczące wyznaczania charakterystyk prądowo-napięciowych, obserwacji mikrostruktury oraz analizy składu chemicznego taśm nadprzewodzących z serii SF. Do badań parametrow pradowych został zaprojektowany i zbudowany układ pomiarowy umożliwiający badanie odcinkow taśm w temperaturze ciekłego azotu. Układ ten jest zasilany źródłem prądu stałego o parametrach I= 0 580A oraz U= 0 8V. Pomiary prądu krytycznego sa wykonywane przez określenie spadku napięcia na odcinku pomiarowym tasmy z dokladnoscia do1 nV na odcinku pomiarowym nadprzewodnika. Analizę składu chemicznego przeprowadzono przy zastosowaniu mikroskopu skaningowego z mikro-analizatorem składu chemicznego EDX. W pracy zamieszczone zostały obrazy mikroskopowe bedace wynikiem obserwacji struktur za pomocą mikroskopu świetlnego oraz skaningowego. Przedstawiona została rownież metoda preparatyki tasmy nadprzewodzacej do lutowania oraz sposob doboru lutowia.
Źródło:
Archives of Metallurgy and Materials; 2011, 56, 4; 1045-1045
1733-3490
Pojawia się w:
Archives of Metallurgy and Materials
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies