Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Atomic Force Microscopy" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-12 z 12
    Tytuł:
    Enhancing capabilities of Atomic Force Microscopy by tip motion harmonics analysis
    Autorzy:
    Babicz, S.
    Smulko, J.
    Zieliński, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/199918.pdf
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    atomic force microscopy (AFM)
    harmonics
    van der Waals forces
    Opis:
    Motion of a tip used in an atomic force microscope can be described by the Lennard-Jones potential, approximated by the van der Waals force in a long-range interaction. Here we present a general framework of approximation of the tip motion by adding three terms of Taylor series what results in non-zero harmonics in an output signal. We have worked out a measurement system which allows recording of an excitation tip signal and its non-linear response. The first studies of spectrum showed that presence of the second and the third harmonics in cantilever vibrations may be observed and used as a new method of the investigated samples characterization.
    Źródło:
    Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences; 2013, 61, 2; 535-539
    0239-7528
    Pojawia się w:
    Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Structural Aging and Degradation of Human Fingernail Plates Upon Cosmetic Agents
    Autorzy:
    Kulesza, S.
    Bramowicz, M.
    Gwoździk, M.
    Wilczyński, S.
    Goździejewska, A. M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/354662.pdf
    Data publikacji:
    2019
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    Atomic Force Microscopy
    Scanning Electron Microscopy
    fractal characterization
    nanoscale property mapping
    Opis:
    The knowledge whether and how chemical species react with tissues is important because of protection against harmful factors, diagnose of dermatological diseases, validation of dermatological procedures as well as effectiveness of topical therapies. In presented work the effects of chemical agents on plates of human fingernails were studied using Atomic Force Microscopy and Scanning Electron Microscopy. Apart from that, mapping of the elastic properties of the nails was also carried out. To obtain reliable measures of spatial evolution of the surface variations, recorded images were analyzed in terms of scaling invariance brought by fractal geometry, instead of common though not unique statistical measures.
    Źródło:
    Archives of Metallurgy and Materials; 2019, 64, 1; 181-184
    1733-3490
    Pojawia się w:
    Archives of Metallurgy and Materials
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Application of epoxy functional silanes in the preparation of DNA microarrays
    Autorzy:
    Frydrych-Tomczak, E.
    Uszczynska, B.
    Ratajczak, T.
    Markiewicz, W.T.
    Figlerowicz, M.
    Nowicki, M.
    Maciejewski, H.
    Chmielewski, M.K.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/80900.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    DNA microarray
    gene expression
    organofunctional silane
    oligonucleotide
    atomic force microscopy
    goniometer
    Źródło:
    BioTechnologia. Journal of Biotechnology Computational Biology and Bionanotechnology; 2014, 95, 1
    0860-7796
    Pojawia się w:
    BioTechnologia. Journal of Biotechnology Computational Biology and Bionanotechnology
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    The implementation and the performance analysis of the multi-channel software-based lock-in amplifier for the stiffness mapping with atomic force microscope (AFM)
    Autorzy:
    Sikora, A.
    Bednarz, Ł.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/201101.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    atomic force microscopy (AFM)
    stiffness mapping
    lock-in amplifier
    software development
    torsional oscilators
    Opis:
    In this paper the implementation of the surface stiffness mapping method with the dynamic measurement mode of atomic force microscopy (AFM) is presented. As the measurement of the higher harmonics of the cantilever’s torsional bending signal is performed, we are able to visualize non-homogeneities of the surface stiffness. In order to provide signal processing with the desired sensitivity and selectivity, the lock-in amplifier-based solution is necessary. Due to the presence of several useful frequencies in the signal, the utilization of several simultaneously processing channels is required. Therefore the eight-channel software-based device was implemented. As the developed solution must be synchronized with the AFM controller during the scanning procedure, the real-time processing regime of the software is essential. We present the results of mapping the surface stiffness and the performance tests results for different working conditions of the developed setup.
    Źródło:
    Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences; 2012, 60, 1; 83-88
    0239-7528
    Pojawia się w:
    Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Application of the Autocorrelation Function and Fractal Geometry Methods for Analysis of MFM Images
    Zastosowanie funkcji autokorelacji oraz geometrii fraktalnej do analizy obrazów struktur domenowych rejestrowanych metodą MFM
    Autorzy:
    Bramowicz, M.
    Kulesza, S.
    Czaja, P.
    Maziarz, W.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/352007.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    atomic force microscopy (AFM)
    magnetic force microscopy
    magnetic domains
    fractal analysis
    mikroskopia sił magnetycznych
    MFM
    analiza fraktalna
    Opis:
    Presented work is focused on the use of correlation methods for numerical analysis of magnetic stray field over the surface of materials. Obtained results extend our previous findings about application of the autocorrelation function and the fractal analysis for characterization of magnetic surfaces. Several domain images are recorded at various tip-sample gaps (i.e. the lift heights), and then their average widths were extrapolated down to the zero distance in order to estimate the width seen right on the surface. Apart from that, fractal parameters were derived from autocorrelation function, which turned out to be sensitive to the lift height, and might constitute universal measure (the critical lift height), above which the MFM signal became dominated by thermal noises and non-magnetic residual interactions.
    Niniejsza praca dotyczy zastosowania metod korelacyjnych do numerycznej analizy obrazów rozkładu pola magnetycznego emitowanego z obszarów spontanicznego namagnesowania. W pracy przedstawiono kontynuację badań nad zastosowaniem funkcji autokorelacji oraz metod analizy fraktalnej w badaniach struktury domenowej oraz charakterystyki emitowanego z nich pola magnetycznego. Wyniki badań wykazują zależność mierzonej metodami mikroskopii sił magnetycznych (MFM) szerokości domen od wysokości skanowania nad badaną powierzchnią, sugerując przeprowadzanie serii pomiarów na różnych wysokościach (h), ich aproksymację z następną ekstrapolacją do powierzchni (h=0). Przeprowadzona analiza fraktalna, wskazuje na możliwość jej aplikacji do charakterystyki zmian sygnału magnetycznego rejestrowanego przez MFM. Pozwala ona również na wyznaczenie wysokości krytycznej (hkr), na której sygnałem dominującym stają się nakładające się na sygnał magnetyczny pozostałości niemagnetycznych interakcji między igłą sondy i badaną powierzchnią, stanowiące rejestrowany przez MFM szum.
    Źródło:
    Archives of Metallurgy and Materials; 2014, 59, 2; 451-457
    1733-3490
    Pojawia się w:
    Archives of Metallurgy and Materials
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    A simple bi-layer model of sunflower (Helianthus annuus) epidermis cell wall folding
    Autorzy:
    Lipowczan, M.
    Borowska-Wykret, D.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/81090.pdf
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    conference
    bilayer model
    sunflower
    Helianthus annuus
    epidermis
    cell wall
    tissue
    tensile stress
    atomic force microscopy
    Źródło:
    BioTechnologia. Journal of Biotechnology Computational Biology and Bionanotechnology; 2013, 94, 3
    0860-7796
    Pojawia się w:
    BioTechnologia. Journal of Biotechnology Computational Biology and Bionanotechnology
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Measurement of the Indentation Modulus and the Local Internal Friction in Amorphous SiO2 Using Atomic Force Acoustic Microscopy
    Autorzy:
    Zhang, B.
    Wagner, H.
    Büchsenschütz-Göbeler, M.
    Luo, Y.
    Küchemann, S.
    Arnold, W.
    Samwer, K.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/352901.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    amorphous materials
    potential energy landscape
    internal friction
    atomic force acoustic microscopy
    Opis:
    For the past two decades, atomic force acoustic microscopy (AFAM), an advanced scanning probe microscopy technique, has played a promising role in materials characterization with a good lateral resolution at micro/nano dimensions. AFAM is based on inducing out-of-plane vibrations in the specimen, which are generated by an ultrasonic transducer. The vibrations are sensed by the AFM cantilever when its tip is in contact with the material under test. From the cantilver’s contactresonance spectra, one determines the real and the imaginary part of the contact stiffness k*, and then from these two quantities the local indentation modulus M' and the local damping factor Qloc-1 can be obtained with a spatial resolution of less than 10 nm. Here, we present measured data of M' and of Qloc-1 for the insulating amorphous material, a-SiO2. The amorphous SiO2 layer was prepared on a crystalline Si wafer by means of thermal oxidation. There is a spatial distribution of the indentation modulus M' and of the internal friction Qloc-1. This is a consequence of the potential energy landscape for amorphous materials.
    Źródło:
    Archives of Metallurgy and Materials; 2016, 61, 1; 9-12
    1733-3490
    Pojawia się w:
    Archives of Metallurgy and Materials
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    The method to study inner cell wall surface using AFM
    Autorzy:
    Grelowski, M.
    Natonik, S.
    Kwiatkowska, D.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/79821.pdf
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    conference
    cellulose microfibril
    polysaccharide
    protein
    atomic force microscopy
    cell wall
    epidermis
    sodium hypochlorite
    sodium hydroxide
    epidermal cell
    Źródło:
    BioTechnologia. Journal of Biotechnology Computational Biology and Bionanotechnology; 2013, 94, 3
    0860-7796
    Pojawia się w:
    BioTechnologia. Journal of Biotechnology Computational Biology and Bionanotechnology
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Evaluation of the temperature stability of a Cu/Ni multilayer
    Ocena trwałości temperaturowej wielowarstwy Cu/Ni
    Autorzy:
    Kucharska, B.
    Kulej, E.
    Gwoździk, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/354250.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    wielowarstwa Cu/Ni
    trwałość
    stabilność temperaturowa
    Cu/Ni multilayers
    X-ray diffraction
    texture
    atomic force microscopy (AFM)
    Opis:
    The article presents investigation results for a Cu/Ni multilayer as annealed in the temperature range of 40 ÷300 degree Celsjus The Cu/Ni multilayer with a Cu sublayer thickness of 2 nm and an Ni sublayer thickness of 6 nm was fabricated by the magnetron deposition technique. The X-ray structural analysis, XRD, was employed for examination. The characterization of the multilayer before and after the annealing process was done by the measurement of the texture for the Cu/Ni(111) plane, as well as by topography examination on an atomic force microscope (AFM). The state of the multilayer surface were observed using a scanning electron microscope. The thermal stability tests showed that the multilayer had undergone delamination at temperature of 300 degree Celsjus . Up to this temperature, the multilayer retained clear phase boundaries, as confirmed by the presence of satellite peaks in the diffraction patterns. The annealing operation caused structural changes in the multilayer, such as grain growth and an increase in roughness and texture.
    W artykule zaprezentowano wyniki badan wielowarstwy Cu/Ni wygrzewanej w zakresie temperatur 40÷300 stopni Celsjusza. Wielowarstwę Cu/Ni, o grubości podwarstwy Cu równej 2 nm i grubości podwarstwy Ni wynoszącej 6 nm, wytworzono technika osadzania magnetronowego. Do badań zastosowano rentgenowską analizę strukturalna XRD. Charakterystyki wielowarstwy przed i po procesie wygrzewania dokonano poprzez pomiar tekstury dla płaszczyzny Cu/Ni(111) jak również badania topografii na mikroskopie sił atomowych Veeco. Stan powierzchni wielowarstwy badano przy użyciu elektronowego mikroskopu skaningowego Jeol. Badania stabilności temperaturowej wykazały, że wielowarstwa uległa delaminacji w temperaturze 300 stopni Celsjusza. Do tej temperatury wielowarstwa zachowała wyraźne granice międzyfazowe, co potwierdzone zostało obecnością pików satelickich na obrazach dyfrakcyjnych. Wygrzewanie wywołało zmiany strukturalne w wielowarstwie, tj. rozrost ziaren, zwiększenie chropowatości i tekstury.
    Źródło:
    Archives of Metallurgy and Materials; 2012, 57, 3; 671-677
    1733-3490
    Pojawia się w:
    Archives of Metallurgy and Materials
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Description of Surface Topography of Metal Matrix Composite Castings
    Autorzy:
    Gawdzińska, K.
    Bryll, K.
    Gucma, M.
    Pijanowski, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/382957.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    metal matrix composites
    surface topography
    profilography
    confocal microscopy
    atomic force microscopy (AFM)
    kompozyty metalowe
    topografia powierzchni
    profilograf
    mikroskopia konfokalna
    mikroskopia sił atomowych
    Opis:
    The paper presents studies of topography of the metal matrix composite castings using profilography, confocal microscopy and atomic force microscopy. The examined materials were composites from the ex-situ group, manufactured by the saturation of reinforcement (aluminosilicate or carbon) with the liquid aluminum alloy (AlSi9 or AlSi11). The materials were observed on the various surface state, resulting from different stages of preparation of the polished section for the metallographic between the composite matrix and reinforcement.
    Źródło:
    Archives of Foundry Engineering; 2014, 14, 1 spec.; 169-174
    1897-3310
    2299-2944
    Pojawia się w:
    Archives of Foundry Engineering
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    TEM & AFM - Complementary Techniques for Structural Characterization of Nanobainitic Steel
    TEM & AFM – komplementarne techniki charakteryzacji struktury nanobainitycznej
    Autorzy:
    Dworecka, J.
    Jezierska, E.
    Rębiś, J.
    Rożniatowski, K.
    Świątnicki, W.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/353216.pdf
    Data publikacji:
    2015
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    transmission electron microscopy TEM
    atomic force microscopy (AFM)
    nanobainite
    bearing steel
    elektronowy mikroskop transmisyjny (TEM)
    mikroskopia sił atomowych (AFM)
    struktura nanobainityczna
    stalowe łożyska
    Opis:
    The aim of this study was to analyse and to identify the phases which formed in 100CrMnSi6-4 bearing steel after the nanostructuring heat treatment. Especially designed thermal treatment parameters were applied in order to obtain a nanobainitic structure. Two different microscopic techniques were used for the precise examination of the microstructures obtained: transmission electron microscopy (TEM) and atomic force microscopy (AFM). Both analyses confirm that the examined steel has a nanocrystalline structure. However, it was discovered that the selected analysis methods affected the results of the plate thickness measurements.
    Celem pracy była analiza struktury i identyfikacja faz powstałych podczas procesu nanostrukturyzacji stali łożyskowej 100CrMnSi6-4. Chcąc wytworzyć strukturę nanobainityczną przeprowadzono obróbkę cieplną o specjalnie dobranych parametrach. Następnie wykonano precyzyjną analizę otrzymanej mikrostruktury wykorzystując w tym celu dwie zaawansowane techniki mikroskopowe: transmisyjną mikroskopię elektronową (TEM) oraz mikroskopię sił atomowych (AFM). Badania wykonane obiema technikami potwierdziły, że badano stal o strukturze nanobainitycznej. Wykazano też, że zależnie od zastosowanej techniki badawczej otrzymano różnice w wartościach zmierzonych grubościach elementów struktury.
    Źródło:
    Archives of Metallurgy and Materials; 2015, 60, 3A; 1591-1593
    1733-3490
    Pojawia się w:
    Archives of Metallurgy and Materials
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Characteristics and Properties of Chromium Coatings with Diamond Nanoparticles Deposited Directly on Aluminum Alloys
    Autorzy:
    Petkov, V.
    Valov, R.
    Simeonova, S.
    Kandeva, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/1841064.pdf
    Data publikacji:
    2020
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
    Tematy:
    chromium coating
    aluminum alloy
    diamond nanoparticles
    atomic force microscopy
    wear resistance
    powłoka chromowa
    stop aluminium
    nanocząsteczki diamentu
    mikroskopia sił atomowych
    odporność na zużycie
    Opis:
    The objective of this study was to deposit directly chromium with diamond nanoparticles (ND) on aluminum alloys and investigate the coating surface. The chromium coatings on aluminum alloys were obtained by electrochemical deposition. The coatings were doped with ND. The diamond nanoparticles were obtained by detonation synthesis. Chromium coatings were deposited on aluminum alloys with a silicon content of 7 % and 10 %. The ND concentration in the electrolyte was 25 g/l. The surface analysis was performed by means of Atomic force microscopy. The surface of the coating of chromium with ND on Al10Si is twice more even than that on Al7Si. The microstructure and microhardness were examined with a metallographic microscope and a microhardness tester. The microhardness of the coated samples is 9163 MPa compared to 893 MPa of uncoated aluminum samples. The thickness of the chromium coatings doped with diamond nanoparticles is between 45 – 55 μm. The coatings are dense, continuous and uniform with good adhesion to the substrate material.
    Źródło:
    Archives of Foundry Engineering; 2020, 20, 4; 115-120
    1897-3310
    2299-2944
    Pojawia się w:
    Archives of Foundry Engineering
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-12 z 12

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies