Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Kulesza, P." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-4 z 4
Tytuł:
Silicon solar cells efficiency improvement by the wet chemical texturization in the HF/HNO3/diluent solution
Poprawa sprawności krzemowych ogniw słonecznych poprzez chemiczna tekturyzację w roztworach HF/HNO3/rozpuszczalnik
Autorzy:
Kulesza, G.
Panek, P.
Zięba, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/351196.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
teksturyzacja
wytrawianie kwasem
krzem multikrystaliczny
krzemowe ogniwa słoneczne
fotowoltaika
texturization
acid etching
multicrystalline silicon
silicon solar cells
photovoltaics
Opis:
The paper presents the results of the texturization process of the multicrystalline silicon wafers carried out in ternary HF/HNO3/diluent solution, where the diluent was either CH3COOH or H2O, at varying HF/HNO3 volume ratio and different time of texturization process. The technique of scanning electron microscopy was used to characterize the morphology of the obtained multicrystalline silicon surfaces, with subsequent surface reflectivity measurements. The appropriate selection of mixture components lead to a significant reduction in the reflectivity of the incident solar radiation in the relatively short time of 60 seconds. The resultant electric parameters were nearly the same as those for the commercial samples but obtained after 3 minutes.
Autorzy zaprezentowali wyniki badań dotyczących procesu teksturyzacji w roztworze HF/HNO3/rozpuszczalnik stosowanego dla płytek krzemu multikrystalicznego, gdzie jako rozpuszczalnik stosowano zamiennie CH3COOH oraz H2O. W badaniach jako zmienne przyjęto objętościowy stosunek HF/HNO3 oraz czas procesu. Morfologia powierzchni uzyskana po chemicznej modyfikacji krzemu została scharakteryzowana przy użyciu skaningowej mikroskopii elektronowej, a następnie zbadano wpływ takiego ukształtowania powierzchni na odbicie promieniowania słonecznego. Autorzy wykazali, że odpowiednie dobranie składu mieszaniny trawiącej pozwala na uzyskanie najniższych wartości odbicia w stosunkowo krótkim czasie 60 sekund. Ponadto parametry elektryczne zmodyfikowanych ogniw słonecznych nie odbiegały od tych uzyskanych komercyjnie w czasie trzykrotnie dłuższym.
Źródło:
Archives of Metallurgy and Materials; 2013, 58, 1; 291-295
1733-3490
Pojawia się w:
Archives of Metallurgy and Materials
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Application of the Autocorrelation Function and Fractal Geometry Methods for Analysis of MFM Images
Zastosowanie funkcji autokorelacji oraz geometrii fraktalnej do analizy obrazów struktur domenowych rejestrowanych metodą MFM
Autorzy:
Bramowicz, M.
Kulesza, S.
Czaja, P.
Maziarz, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/352007.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
atomic force microscopy (AFM)
magnetic force microscopy
magnetic domains
fractal analysis
mikroskopia sił magnetycznych
MFM
analiza fraktalna
Opis:
Presented work is focused on the use of correlation methods for numerical analysis of magnetic stray field over the surface of materials. Obtained results extend our previous findings about application of the autocorrelation function and the fractal analysis for characterization of magnetic surfaces. Several domain images are recorded at various tip-sample gaps (i.e. the lift heights), and then their average widths were extrapolated down to the zero distance in order to estimate the width seen right on the surface. Apart from that, fractal parameters were derived from autocorrelation function, which turned out to be sensitive to the lift height, and might constitute universal measure (the critical lift height), above which the MFM signal became dominated by thermal noises and non-magnetic residual interactions.
Niniejsza praca dotyczy zastosowania metod korelacyjnych do numerycznej analizy obrazów rozkładu pola magnetycznego emitowanego z obszarów spontanicznego namagnesowania. W pracy przedstawiono kontynuację badań nad zastosowaniem funkcji autokorelacji oraz metod analizy fraktalnej w badaniach struktury domenowej oraz charakterystyki emitowanego z nich pola magnetycznego. Wyniki badań wykazują zależność mierzonej metodami mikroskopii sił magnetycznych (MFM) szerokości domen od wysokości skanowania nad badaną powierzchnią, sugerując przeprowadzanie serii pomiarów na różnych wysokościach (h), ich aproksymację z następną ekstrapolacją do powierzchni (h=0). Przeprowadzona analiza fraktalna, wskazuje na możliwość jej aplikacji do charakterystyki zmian sygnału magnetycznego rejestrowanego przez MFM. Pozwala ona również na wyznaczenie wysokości krytycznej (hkr), na której sygnałem dominującym stają się nakładające się na sygnał magnetyczny pozostałości niemagnetycznych interakcji między igłą sondy i badaną powierzchnią, stanowiące rejestrowany przez MFM szum.
Źródło:
Archives of Metallurgy and Materials; 2014, 59, 2; 451-457
1733-3490
Pojawia się w:
Archives of Metallurgy and Materials
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Black Silicon Obtained in Two-Step Short Wet Etching as a Texture for Silicon Solar Cells - Surface Microstructure and Optical Properties Studies
Autorzy:
Kulesza-Matlak, G.
Gawlińska, K.
Starowicz, Z.
Sypień, A.
Drabczyk, K.
Drabczyk, B.
Lipiński, M.
Zięba, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/352242.pdf
Data publikacji:
2018
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
black silicon
low temperature texturization
silicon nanowire
solar cells
multicrystalline silicon
Opis:
In this study a two-step short wet etching was implemented for the black silicon formation. The proposed structure consists of two steps. The first step: wet acidic etched pits-like morphology with a quite new solution of lowering the texturization temperature and second step: wires structure obtained by a metal assisted etching (MAE). The temperature of the process was chosen due to surface development control and surface defects limitation during texturing process. This allowed to maintain better minority carrier lifetime compared to etching in ambient temperature. On the top of the acidic texture the wires were formed with optimized height of 350 nm. The effective reflectance of presented black silicon structure in the wavelength range of 300-1100 nm was equal to 3.65%.
Źródło:
Archives of Metallurgy and Materials; 2018, 63, 2; 1009-1017
1733-3490
Pojawia się w:
Archives of Metallurgy and Materials
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Studying of Perovskite Nanoparticles in PMMA Matrix Used as Light Converter for Silicon Solar Cell
Autorzy:
Lipiński, M.
Socha, R. P.
Kędra, A.
Gawlińska, K.
Kulesza-Matlak, G.
Major, Ł.
Drabczyk, K.
Łaba, K.
Starowicz, Z.
Gwóźdź, K.
Góral, A.
Popko, E.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/356850.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
perovskite nanoparticles
light converters
solar cells
solar energy materials
Opis:
The nanoparticles of CH3NH3PbBr3 hybrid perovskites were synthesized. These perovskite nanoparticles we embedded in polymethyl methacrylate (PMMA) in order to obtain the composite, which we used as light converter for silicon solar cells. It was shown that the composite emit the light with the intensity maximum at about 527 nm when exited by a short wavelength (300÷450 nm) of light. The silicon solar cells were used to examine the effect of down-conversion (DC) process by perovskite nanoparticles embedded in PMMA. For experiments, two groups of monocrystalline silicon solar cells were used. The first one included the solar cells without surface texturization and antireflection coating. The second one included the commercial cells with surface texturization and antireflection coating. In every series of the cells one part of the cells were covered by composite (CH3NH3PbBr3 in PMMA) layer and second part of cells by pure PMMA for comparison. It was shown that External Quantum Efficiency EQE of the photovoltaic cells covered by composite (CH3NH3PbBr3 in PMMA) layer was improved in both group of the cells but unfortunately the Internal Quantum Efficiency was reduced. This reduction was caused by high absorption of the short wavelength light and reabsorption of the luminescence light. Therefore, the CH3NH3PbBr3 perovskite nanoparticles embedded in PMMA matrix were unable to increase silicon solar cell efficiency in the tested systems.
Źródło:
Archives of Metallurgy and Materials; 2017, 62, 3; 1733-1739
1733-3490
Pojawia się w:
Archives of Metallurgy and Materials
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-4 z 4

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies