Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Kim, C. K." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
A mixed control chart adapted to the truncated life test based on the Weibull distribution
Autorzy:
Khan, N.
Aslam, M.
Kim, K.-J.
Jun, C. -H.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/406432.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:
life test
Weibull distribution
attribute chart
binomial distribution
average run length
Opis:
The design of a new mixed attribute control chart adapted to a truncated life test has been pre-sented. It was assumed that the lifetime of a product follows the Weibull distribution and the number of failures was observed using a truncated life test, where the test duration was specified as a fraction of the mean lifespan. The proposed control chart consists of two pairs of control limits based on a binomial distribution and one lower bound. The average run length of the chart was determined for various levels of shift constants and specified parameters. The efficiency of the chart is compared with an existing control chart in terms of the average run length. The application of the proposed chart is discussed with the aid of a simulation study.
Źródło:
Operations Research and Decisions; 2017, 27, 1; 43-55
2081-8858
2391-6060
Pojawia się w:
Operations Research and Decisions
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies