- Tytuł:
-
Wpływ otoczenia na warunki lokalizacji uszkodzenia ekranu linii współosiowej
The influence of environment on condition of location damage in screen of the coaxial line - Autorzy:
- Tarczyński, W.
- Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/376353.pdf
- Data publikacji:
- 2013
- Wydawca:
- Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
- Tematy:
-
ekran linii współosiowej
metoda impulsowa
propagacja impulsu
kable elektroenergetyczne
kable telekomunikacyjne
ekran przewodzący - Opis:
-
W artykule przedstawione są wyniki badań laboratoryjnych wpływu otoczenia na warunki propagacji impulsów w ekranie linii współosiowej. Poziomem odniesienia dla ekranu jest otocznie w warunkach rzeczywistej eksploatacji (gleba, woda) lub wewnętrzny przewód roboczy. Celem tych prac jest określenie możliwości wykorzystania metod impulsowych do lokalizacji uszkodzeń izolacji ekranu elektroenergetycznej linii kablowej lub telekomunikacyjnej. Lokalizacja uszkodzenia izolacji powłoki ma istotne znaczenie w poprawie warunków pracy automatyki zabezpieczeniowej linii wykorzystującej do lokalizacji uszkodzonej linii kablowej, pomiar prądu zwarciowego oraz zapewnienie bezpieczeństwa w zakresie ochrony przeciwporażeniowej.
This paper will present the results of laboratory tests the impact of the environment on pulse propagation conditions in the screen of the coaxial line. The reference level for the screen is actual ambient operating conditions (soil, water) or the internal conductor. The aim of this work is to determine the possibility of using pulse methods for insulation fault location screen power lines or telecommunication cable. Shield insulation fault location is important in improving the working conditions of the line protection relay using in the location of the damaged cable line, the short-circuit current measurement and to ensure the safety in against electric shock. - Źródło:
-
Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering; 2013, 73; 99-106
1897-0737 - Pojawia się w:
- Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł