Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "surface detection" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Badanie elementów chropowatych metodą prądów wirowych
Examination of rough surfaces with eddy current method
Autorzy:
Dziczkowski, L.
Buchacz, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/347798.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Akademia Wojsk Lądowych imienia generała Tadeusza Kościuszki
Tematy:
badania nieniszczące
prądy wirowe
defektoskopia
konduktometria
chropowatość powierzchni
non-destructive testing
eddy currents
flaw detection
conductometry
surface roughness
Opis:
Jeśli istnieje zależność między niektórymi parametrami materiałów a ich przewodnością elektryczną, to można, w sposób nieniszczący metodą prądów wirowych, mierzyć konduktywność materiału i wnioskować o szukanych własnościach materiału, ciągłości jego struktury czy niektórych wymiarach geometrycznych. Poważną wadą metod wiroprądowych jest wyraźny wpływ stanu powierzchni na wynik testu. Zaproponowano oryginalną metodę kompensacji chropowatości powierzchni badanych elementów na wynik pomiaru konduktywności. Prezentowaną metodę oparto na podwójnym procesie skalowania zestawu konduktometr – sonda pomiarowa. Porównano skuteczność proponowanej metody z metodą powszechnie stosowaną.
As the relationship between some important parameters of materials and their electric conductivity really exists, it makes it possible to use the eddy current method to measure conductivity of material in a non-destructive manner and then infer about the desired properties of materials, their continuous or non-continuous structure or some geometrical parameters. However, the substantial impact of surface condition demonstrated by examined materials onto test results is a significant drawback of the eddy current method. This is why, a new and innovative method for compensation of material surface roughness onto results of conductance measurements is proposed. The presented method is based on the double calibration process applied to the measuring kit of the conductometer and the measuring probe.
Źródło:
Zeszyty Naukowe / Wyższa Szkoła Oficerska Wojsk Lądowych im. gen. T. Kościuszki; 2010, 4; 84-99
1731-8157
Pojawia się w:
Zeszyty Naukowe / Wyższa Szkoła Oficerska Wojsk Lądowych im. gen. T. Kościuszki
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies