Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "measurements resistance" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
System stabilizacji temperatury w komorze pomiarowej
Temperature stabilization system for controlling temperature in measurement chamber
Autorzy:
Kocjan, B.
Krawczyk, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/268309.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
Tematy:
pomiary rezystancji
stabilizacja temperatury
resistance measurements
temperature stabilization system
Opis:
Zaprezentowano system do stabilizacji temperatury rezystorów wzorcowych podczas ich wzorcowania z bardzo wysoką dokładnością. Podstawowym elementem tego systemu jest komora pomiarowa z modułami Peltiera. Przedstawiono konstrukcję tej komory i wyniki wstępnych badań stabilności długoterminowej temperatury z uwzględnieniem wpływu warunków otoczenia na dokładność systemu. System zapewnia długoterminową stałość temperatury 23°C wewnątrz komory z niestałościa ±0,02 °C.
One of the factor that influence accuracy of resistance measurements is temperature change during measurements. This paper describes a system to maintain stable air temperature in a measurement chamber. The aim of the system is to stabilize temperature of resistance standards during measurements. Presented system consist of a measurement chamber and temperature controller. In this paper the construction of the measurement chamber and the temperature controller is discussed. Moreover results of the system stabilization tests are presented. The designed and tested stabilization system maintains settled air temperature with the accuracy ±0.015 °C. This satisfied temperature stability requirements for measurements of resistance standard.
Źródło:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2017, 54; 131-134
1425-5766
2353-1290
Pojawia się w:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Minimalizacja prądów powierzchniowych rezystorów teraomowych w transferach wysokich rezystancji
Minimization of resistors surface currents of the teraohm resistance guarded transfer devices
Autorzy:
Lisowski, M.
Kocjan, B.
Krawczyk, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/268496.pdf
Data publikacji:
2018
Wydawca:
Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
Tematy:
pomiary rezystancji teraomowych
prądy powierzchniowe rezystorów
transfer wysokich rezystancji
teraohm resistance measurements
high resistance transfer devices
surface currents of resistors
Opis:
Jednym z wielu czynników wpływających na dokładność transferów teraomowych są prądy powierzchniowe rezystorów. W referacie przedstawiono metodykę badań wpływu tych prądów na mierzoną wartość rezystancji. Zamieszczono wyniki badań eksperymentalnych wykonanych na modelu fizycznym składającym się z dwóch 10 TΩ rezystorów w gałęzi głównej i dwóch 0,1 TΩ rezystorów w gałęzi pomocniczej.
One of the factor that influence accuracy of high value resistors measurements is presence of surface currents. In the paper the influence of resistors surface currents on high value resistors resistance is discussed. The results of research over minimization of surface currents by applying conductive protective electrode on high value resistors are presented. Also the way of minimization of surface currents in the guarded resistance transfer devices are presented. Moreover, the way of changing resistance settling times are presented.
Źródło:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2018, 59; 127-130
1425-5766
2353-1290
Pojawia się w:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Dynamic resistance measurements of MV switch-disconnector contacts
Pomiary dynamicznej rezystancji przejścia dla rozłącznika średniego napięcia
Autorzy:
Banaszczyk, J.
Oramus, P.
Domurad, Z.
Piekarski, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/266937.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
Tematy:
contact resistance
diagnostics methods
MV apparatus
resistance measurements
switch-disconnector
aparat elektryczny
metody diagnostyczne
pomiary rezystancji
rezystancja styku
rozłącznik
Opis:
Dynamic Resistance Measurement (DRM) is an effective technique for diagnosing the condition of high power switch contacts. Moreover, the technique can be used to predict the allowable number of switching operations that can be carried out before maintenance of the apparatus is necessary. Since coating materials are characterized by different mechanical and electrical properties, the DRM method can help predict the performance and improve the design of existing high power switches. In this paper both static and dynamic contact resistance measurements for new and worn contact sets of a standard MV switch-disconnector are presented. The contact resistance was measured both in function of the DC injected current magnitude, as well as the number of executed switching operations. The measurements were performed by means of the 4-wire method, and a high speed acquisition digital oscilloscope was used to register the DRM curves.
Pomiar dynamicznej rezystancji styków jest skuteczną metodą diagnostyki stanu aparatu zestykowego. Metoda ta może być wykorzystana do przewidywania możliwej liczby operacji łączeniowych, które mogą być przeprowadzone przed wymaganym przeglądem technicznym urządzenia. Z uwagi na fakt, iż różne materiały stykowe charakteryzują się zróżnicowanymi parametrami mechanicznymi i elektrycznymi, metoda pomiarowa zaprezentowana w artykule może zostać użyta do poprawy istniejących konstrukcji łączników elektroenergetycznych. Niniejszy artykuł przedstawia wyniki pomiarów statycznej oraz dynamicznej rezystancji styku przeprowadzonych dla rozłącznika średniego napięcia. Rezystancję styku zmierzono w funkcji prądu przepływającego przez badany zestyk oraz w funkcji liczby przeprowadzonych operacji łączeniowych, odpowiednio dla nowego i eksploatowanego układu stykowego. Pomiary wykonano przy użyciu czteroprzewodowej metody, z wykorzystaniem cyfrowego oscyloskopu zapewniającego wysoką częstotliwość próbkowania.
Źródło:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2015, 46; 17-20
1425-5766
2353-1290
Pojawia się w:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies