Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "układ pomiarowy" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Układ do pomiaru wielkości elektrycznych i mechanicznych w "stacji wielkich mocy"
System for measuring electrical and mechanical values in the high-power laboratory
Autorzy:
Babiuch, M.
Schmidt, P.
Sołek, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/159269.pdf
Data publikacji:
2002
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:
pomiary wielkości elektrycznych
układ pomiarowy
oprogramowanie
Opis:
Omówiono wdrożony w Laboratorium Badawczym Aparatury Rozdzielczej w IEL Warszawa złożony układ pomiaru wielkości elektrycznych i mechanicznych, wraz z oprogramowaniem wspomagającym rejestrację i analizę danych. Układ współpracuje z klasycznymi przetwornikami: prądu jak boczniki, przekładniki prądowe, napięcia jak dzielniki przekładniki napięciowe, czujnikami ruchu, przetwornikami ciśnienia, czujnikami naprężeń. Sygnały pomiarowe są separowane za pomocą układów optoelektronicznych i rejestrowane rejestratorem (transient-recorder) ADAM firmy Rene Maurer AG Electronic Instrument. Układ poprzez interfejs HPiB współpracuje z komputerem gdzie dane są obrabiane i analizowane za pomocą programu "WinAdam".
Complex measuring system for measuring electrical and mechanical values, implemented in the Short Circuit Laboratory of Switchgear Apparatus in Electrotechnical Institute, Warsaw, is discussed along with hardware assisting data recording and analysis. The circuit cooperates with classical converters: shunts and current transformers, voltage transformers, motion-sensors, pressure-sensors, stress-sensors. The measuring signals are separated by opto-electronic system and recorded by transient-recorder ADAM, made by Rene Maurer Electronic Instruments. The circuit is cooperating with computer by interface HPiB where data are treated and analyzed by means of program WinAdam.
Źródło:
Prace Instytutu Elektrotechniki; 2002, 210; 5-27
0032-6216
Pojawia się w:
Prace Instytutu Elektrotechniki
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Porównanie wielokanałowych układów pomiarowych w tomografii impedancyjnej
Multichanel measurement system in electrical impedance tomography - comparison
Autorzy:
Nita, K.
Filipowicz, S.F.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/159414.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:
wielopunktowe układy pomiarowe
tomografia impedancyjna
układ pomiarowy
Opis:
W artykule przedstawiono budowę tomografów impedancyjnych bazujących na wielokanałowych układach pomiarowych. Zostały sprecyzowane wymagania stawiane tym układom pomiarowym, oraz opisano wybrane sposoby pozyskiwania informacji i pobudzenia badanych obiektów. Pokazano występujące problemy przy budowie wielokanałowych układów pomiarowych oraz metody ich eliminacji. Zaprezentowane zostały układy tomografów impedancyjnych, zbudowanych w Instytucie Elektrotechniki Teoretycznej i Systemów Informacyjno Pomiarowych Politechniki Warszawskiej oraz Instytucie Elektrotechniki w ramach grantu Ministerstwa Nauki i Informatyzacji (nr 4 T07E 045 29) "Nowa tomograficzna metoda oceny stopnia zawilgocenia budynków", koordynowanego przez Instytut Budownictwa Politechniki Wrocławskiej. Na koniec przedstawione zostały wyniki uzyskane w trakcie badań nad tomografią impedancyjną w wyżej wymienionych ośrodkach.
Two multichannel measuring setups applied to impedance tomography were presented in this paper. First of them is based on Agilent hardware and the second one is based on Advantech devices. The first tomograph takes advantage of Data Acquisition and Switch Unit Agilent 34970A. Advantech adapter card with A/C and C/A converter is used in the second tomograph. Mechanical structure and possible applications of these tomographs were presented too.
Źródło:
Prace Instytutu Elektrotechniki; 2007, 230; 65-79
0032-6216
Pojawia się w:
Prace Instytutu Elektrotechniki
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Pomiar parametrów ruchu na obiektach mobilnych
Measurement of motion parameters on moving objects
Autorzy:
Popowski, S.
Dąbrowski, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/158943.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:
układ pomiarowy
orientacja przestrzenna
filtracja sygnałów
dynamika ruchu
Opis:
W badaniach eksperymentalnych różnych obiektów latających, pływających i jeżdżących zachodzi konieczność pomiaru podstawowych parametrów tego ruchu. Do najczęściej mierzonych parametrów zalicza się: prędkości kątowe w wybranym układzie współrzędnych, przyspieszenia liniowe, kąty orientacji, prędkości liniowe względem ośrodka i ziemi, położenie oraz inne wielkości w zależności od typu obiektu. Aby określić wymienione parametry ruchu należy dokonać odpowiednich pomiarów oraz obliczeń. Na etapie obliczeń można wykorzystać metody integracji pomiarów (np. filtrację) w celu zwiększenia wiarygodności otrzymanych wyników. W referacie przedstawiono wybrane metody pomiarowe parametrów ruchu obiektów mobilnych oraz przykładowe konfiguracje takiego system w zależności od rodzaju obiektu.
During the experimental investigations of several types of flying, water or land going objects, the necessity for measurement of the basic parameters of motion emerges. The list of most frequently measured parameters consists of angular velocity components, determined in selected system of coordinates, components of linear acceleration, attitude, components of linear velocity, related to the Earth or to the medium, position (three components) or other, depending on a kind of considered object. An appropriate measurements and computations have to be taken to obtain these parameters. During the computation phase some techniques of measurement integration (e.g. filtering) may also be used to improve the relibility of obtained results. Some selected methods for motion parameters measurement are considered in this paper depending on the type of moving object. Examples of measuring system configuration are also presented.
Źródło:
Prace Instytutu Elektrotechniki; 2007, 232; 113-123
0032-6216
Pojawia się w:
Prace Instytutu Elektrotechniki
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies