- Tytuł:
-
Spektroskopia emisyjna ze wzbudzeniem laserowym w badaniach warstw malarskich na drzwiach Gabinetu Chińskiego w Muzeum Pałacu w Wilanowie
Laser-induced breakdown spectroscopy for painting layers research on the door of the Kings Chinese Room at the Wilanow Palace Museum - Autorzy:
-
Guzowska, A.
Skrzeczanowski, W.
Marczak, J. - Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/159816.pdf
- Data publikacji:
- 2012
- Wydawca:
- Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
- Tematy:
-
warstwa malarska
LIBS
Gabinet Chiński
Wilanów
painting layer
lacquer
King's Chinese Cabinet - Opis:
-
Przedstawiono wyniki badań warstw malarskich na drzwiach Gabinetu Chińskiego w Muzeum Pałacu w Wilanowie. Zastosowano spektroskopię emisyjną ze wzbudzeniem laserowym (LIBS) i mikroskopię optyczną. Ze względu na unikatowość obiektu i brak możliwości pobrania próbek w miejscach wymalowania scenek rodzajowych na podłożu z europejskiej imitacji złotej laki awanturynowej, badania LIBS, jako mikroniszczące, miały na celu identyfikację użytych pigmentów oraz określenie struktury warstw malarskich. Zidentyfikowano pigmenty i określono rozkłady stratygraficzne warstw malarskich. Wyniki wykazały dużą przydatność metody LIBS i uzupełniły aktualny stan wiedzy o technice wykonania dekoracji zabytkowego dzieła sztuki.
Results of the research of the European lacquerware layers deposited on the door of the King's Chinese Room at the Wilanów Palace Museum are presented. Laser-Induced Breakdown Spectroscopy and the optical microscopy were used. Due to uniqueness of the investigated artwork and non-availability of painting layer sampling from decorative scenes painted on avanturine (brocade) supports, the LIBS tests, as non-invasive ones, were applied. The pigments have been identified and stratigraphic distributions of painting layers were determined. The results proved high usefulness of the LIBS method and completed current the state-of-the-art on the technique of decoration of the artwork. - Źródło:
-
Prace Instytutu Elektrotechniki; 2012, 255; 297-324
0032-6216 - Pojawia się w:
- Prace Instytutu Elektrotechniki
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł