Temat: mikroskopia sil atomowych - Katalog OPAC zbiorów

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Ocena wpływu promieniowania świetlnego na nanoskopowe właściwości powierzchni kompozytów termoutwardzalnych
The evaluation of the solar radiation impact on the nanoscoppic properties of the surface of the sheet moulder composite
Autorzy:: Sikora, A.
Fałat, T.
Adamowska, M.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/159373.pdf
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:: badania środowiskowe
promieniowanie słoneczne
tomografia komputerowa
mikroskopia sił atomowych
environmental tests
solar radiation
micro computer tomography
atomic force microscopy
Opis:: Ocena wpływu promieniowania słonecznego na właściwości mechaniczne materiałów jest jednym z podstawowych badań środowiskowych, które przywoływane są w normach przedmiotowych dotyczących różnego typu urządzeń i elementów stosowanych w elektrotechnice. Rozwój wysokorozdzielczych technik diagnostycznych pozwala na dokonywanie bardziej szczegółowych niż dotychczas analiz wpływu czynników środowiskowych na właściwości mechaniczne powierzchni, co może być szczególnie cenne w przypadku prac nad tzw. nanomateriałami. W pracy zostaną przedstawione wyniki analiz wykonanych dla próbki kompozytu termoutwardzalnego – SMC (sheet moulder composite), przeprowadzonych z wykorzystaniem mikroskopii sił atomowych oraz mikrotomografii komputerowej, odniesione do wykonanych zgodnie z wymaganiami normy testów odporności na udarność. Uzyskane wyniki pozwalają stwierdzić przydatność wysokorozdzielczych technik diagnostycznych w badaniach wpływu promieniowania świetnego na powierzchnię materiału.
The evaluation of the solar radiation influence on the mechanical properties of the material is one of the most popular investigation methods among various environmental tests, mentioned in standards related to various devices and components utilized in electrotechnics. The development of the high-resolution diagnostic methods allowed to perform much more detailed analysis of the influence of the environmental factors on the mechanical properties of the surface. Such tools can be particularly useful in case of the nanomaterials development. In this work we present the analysis of the solar radiation caused degradation of the SMC material - sheet moulder composite, investigated with atomic force microscopy and micro computer tomography. Obtained results were compared to the outcome of the measurements of the impact strength tests. The measurement data allow to confirm the usability of the high-resolution diagnostic methods in the determination of the influence of the solar radiation on the surface of the material.
Źródło:: Prace Instytutu Elektrotechniki; 2012, 259; 63-64
0032-6216
Pojawia się w:: Prace Instytutu Elektrotechniki
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Utilization of AFM mapping of surfaces mechanical properties in diagnostics of the materials for electrotechnics
Wykorzystanie mapowania właściwości mechanicznych powierzchni technikami AFM w diagnostyce materiałów stosowanych w elektrotechnice
Autorzy:: Sikora, A.
Bednarz, Ł.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/158826.pdf
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:: mikroskopia sił atomowych
tryb NanoSwing
elektrotechnika
atomic force microscopy (AFM)
time-resolved tapping mode
mechanical properties mapping
nanomaterials
material science
Opis:: Atomic force microscopy (AFM) is one of the most powerful diagnostic methods used in micro- and nanoscale imaging of the topography and various physical properties of the surface. As this method involves the scanning tip/sample interaction, it is possible to observe the response of the surface on periodically changing load causing by the scanning tip. By utilizing so called time-resolved tapping mode, we could perform the mapping of the surface's mechanical properties: stiffness, adhesion, energy dissipation and others. In this paper we present the idea of the NanoSwing imaging technique developed at Electrotechnical Institute, Division of Electrotechnology and Materials Science in Wrocław as well as the examples of the measurement results.
Mikroskopia sił atomowych (AFM) jest jedną z najbardziej zaawansowanych technik diagnostycznych w mikro- i nanoskali, stosowaną w procesie obrazowania topografii oraz różnych właściwości fizycznych powierzchni. Wykorzystanie oddziaływania ostrze skanujące-próbka umożliwia obserwację odpowiedzi materiału na okresowe zmiany nacisku wywoływane przez ostrze, dzięki czemu możliwa jest ocena właściwości mechanicznych próbki. Zastosowanie trybu dynamicznego z analizą oscylacji skrętnych belki skanującej w domenie czasu, umożliwiło wykonywanie mapowania takich parametrów jak: sztywność, adhezja, rozpraszanie energii i inne. W niniejszej pracy zaprezentowano koncepcję działania trybu NanoSwing opracowanego we wrocławskim oddziale Instytutu Elektrotechniki. Przedstawiono także przykładowe wyniki pomiarów wykonanych z wykorzystaniem tego trybu.
Źródło:: Prace Instytutu Elektrotechniki; 2011, 253; 15-25
0032-6216
Pojawia się w:: Prace Instytutu Elektrotechniki
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Short Review : Probing Mechanical Properties of Individual Molecules with Atomic Force Spectroscopy
Krótki artykuł przeglądowy : badania mechanicznych właściwości pojedynczych cząsteczek przy pomocy spektroskopii sił atomowych
Autorzy:: Marszałek, P. E.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/159965.pdf
Data publikacji:: 2018
Wydawca:: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Tematy:: Mikroskopia Sił Atomowych
Spektroskopia siłowa pojedynczych cząsteczek
biopolimery
nanomechanika
Atomic Force Microscopy
Single Molecule Force Spectroscopy
Nanomechanics
Polymer elasticity
Biopolymers
Opis:: W niniejszym krótkim artykule przeglądowym, na początku zwięźle opiszę zasady spektroskopii siłowej do badania mechanicznych właściwości pojedynczych cząsteczek przy użyciu mikroskopu sił atomowych. Następnie, omówię najważniejsze, moim zdaniem, odkrycia i obserwacje w tej tematyce, która rozwija się niezwykle dynamicznie przez ostatnie ponad 25 lat. W tej krótkiej pracy skupię się wyłącznie na omówieniu zastosowania spektroskopii siłowej do analizy właściwości elastycznych biopolimerów, takich jak DNA i polisacharydy, których badaniom poświęciłem istotną część mojej pracy naukowej w ostatnich dwóch dekadach. Omówienie mechaniki pojedynczych cząsteczek białek czytelnik może znaleźć w innych oryginalnych lub przeglądowych pracach autora jak również innych badaczy, które dostępne są w literaturze światowej.
In this short review I will first concisely describe the principles of single-molecule force spectroscopy (SMFS) for measuring the mechanical properties of individual polymeric molecules, as implemented on an Atomic Force Microscope (AFM) platform. Next, I will review a selected number of the most striking, in my opinion, discoveries and observations accumulated in this field of research that now spans over 25 years of dynamic growth. This selection will be limited to biomolecular systems such as DNA and polysaccharides (sugars) that for the last two decades were an important part of my own research. The mechanical properties of single protein molecules are described by the author or other researchers in numerous original or review papers that can be found in the world literature.
Źródło:: Prace Instytutu Elektrotechniki; 2018, 280; 7-24
0032-6216
Pojawia się w:: Prace Instytutu Elektrotechniki
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Zmień widok

na półce

Informacja

Wyszukujesz frazę "mikroskopia sil atomowych" wg kryterium: Temat

Źródło danych

Dostawca treści

Kolekcja

Rok wydania

Wydawca

Temat

Autor

Typ dokumentu

Język