- Tytuł:
-
Rozwój i zastosowanie zaawansowanych technik mikroskopii sił atomowych w diagnostyce materiałów elektrotechnicznych. Wybrane zagadnienia : wybrane zagadnienia
Development and utilization of advanced atomic force microscopy techniques in diagnostics of the electrotechnical materials. Chosen problems - Autorzy:
- Sikora, A.
- Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/159812.pdf
- Data publikacji:
- 2012
- Wydawca:
- Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
- Tematy:
-
nikroskopia sił atomowych
diagnostyka powierzchni w nanoskali
elektrotechnika
atomic force microscopy (AFM)
nanoscale surface diagnostics
electrotechnics - Opis:
-
Dynamiczny rozwój inżynierii materiałowej, w której coraz liczniejszą grupę tworzą tzw. nanomateriały, wymusza stosowanie narzędzi pomiarowych pozwalających uzyskać informacje o zjawiskach i efektach obecnych w skali nanometrowej, a decydujących o właściwościach makroskopowych wytwarzanych obiektów. Mikroskopia sił atomowych (AFM) jest jedną z technik diagnostycznych umożliwiających pomiar właściwości powierzchni w skali mikrometrowej oraz nanometrowej. Realizowane za jej pomocą badania powierzchni materiałów stosowanych w elektrotechnice mogą obejmować szerokie spektrum właściwości. Uzyskiwane w ten sposób informacje pozwalają zrozumieć zależności między parametrami technologicznymi wytwarzania materiału a jego właściwościami makroskopowymi, dzięki czemu możliwe jest sterowanie procesem produkcyjnym w celu uzyskania finalnego produktu o pożądanych cechach poprzez wpłynięcie na jego nanoskopową strukturę. Niniejsza praca przedstawia rozwój oraz zastosowanie wybranych technik pomiarowych mikroskopii sił atomowych w diagnostyce właściwości mechanicznych, elektrycznych, magnetycznych i termicznych materiałów oraz struktur takich jak: azometiny, tłoczywa termoutwardzalne, polimery silikonowe, cienkie warstwy NiFe, mikrostruktury półprzewodnikowe oraz nanostruktury grafenowe. Zarejestrowane wyniki pomiarowe wykorzystano do zademonstrowania możliwości interpretacyjnych w odniesieniu do parametrów technologicznych, rezultatów innych badań lub też czynników wpływających na badaną próbkę. Do każdej grupy przykładów zastosowania określonego trybu pomiarowego, wprowadzenie stanowi zwarty opis podstaw teoretycznych oraz praktyki pomiarowej. Metody i rozwiązania opracowane przez autora zostały opisane szczegółowo, z uwagi na potencjalne trudności z uzyskaniem dostępu do alternatywnych źródeł informacji. Demonstracja szerokiego spektrum zastosowań opisanych metod diagnostycznych jest jednocześnie dowodem uniwersalności i przydatności mikroskopii sił atomowych w prowadzonych badaniach ukierunkowanych na opracowanie nowych, energooszczędnych, trwałych oraz ekologicznych materiałów do zastosowań w elektrotechnice.
Recent development of the materials science and increase of the significance of the nanomaterials, induces the utilization of the measurement tools allowing to obtain the information about the nanometer-scale phenomena, which have an major impact on the macroscopic properties of fabricated objects. Atomic force microscopy (AFM) is one of the diagnostic methods allowing to test various properties of the surface at micrometer and nanometer scale. It allows to perform the investigation in the wide range of the surface properties of the materials utilized in electrotechnics. Acquired data allows to understand the relations between the technology parameters and the properties of the materials, therefore one can obtain the final product with desired qualities by modifying the production process and influencing its nanoscopic structure. This dissertation presents development and utilization of selected advanced AFM techniques in examining mechanical, electrical, magnetic and thermal properties of the materials and structures such as: azomethines, sheet moulding compounds, silicon polymers, thin NiFe layers, semiconductor structures and graphene-based nanostructures. Obtained measurement data was used to demonstrate the interpretation possibilities in terms of referring to the technology parameters, other techniques tests results or the factors influencing the sample. In order to provide the basic information, every chapter introduction contains the short description of theory and practical issues of certain measurement technique. Methods and solutions developed by author are presented in detail as no alternative source of the information can be available to the reader. Demonstrated wide application spectra of described diagnostic methods proves the versatility and usability of atomic force microscopy in the research aimed at development of new, energy-saving and ecological materials for electrotechnics. - Źródło:
-
Prace Instytutu Elektrotechniki; 2012, 257; 13-186
0032-6216 - Pojawia się w:
- Prace Instytutu Elektrotechniki
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł