Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "optical system" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
High-accuracy surface topography measurements of abrasive tools using a 3D optical profiling system
Precyzyjne pomiary topografii powierzchni narzędzi ściernych z wykorzystaniem optycznego systemu profilometrycznego
Autorzy:
Kapłonek, W.
Nadolny, K.
Tomkowski, R.
Valicek, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/151924.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
optyczny system profilometryczny
precyzyjne pomiary
topografia powierzchni
narzędzia ścierne
ściernica
3D optical profiling system
high-accuracy measurements
surface topography
abrasive tools
grinding wheel
Opis:
This paper presents and discusses the proposed use of the Talysurf CLI 2000 system for performing high-accuracy measurements of the surface topography of abrasive tools. Specifically, the paper presents a brief description of the Talysurf CLI 2000 system (Fig. 1), as well as one of its modes of use, involving the chromatic aberration phenomenon. The selected results of the analysis of the measurement data obtained for the surface of a small-sized flat grinding wheel 1-20×20×10 SG 80 M 8 V (Fig. 2) and relevant visualizations pertaining to this analysis are given in the paper as well. All analyses of the measurement data were carried out using the TalyMap Silver software (Figs. 3-4). The obtained experiment results confirmed a high degree of usefulness of Talysurf CLI 2000 and the dedicated software (TalyMap Silver) for high-accuracy measurements of abrasive tools (grinding wheels). Therefore, the use of optical analysis methods may be an interesting alternative to the methods currently utilized in the assessment of abrasive tools.
We współczesnym przemyśle wytwórczym dąży się do uzyskania bardzo wysokiej jakości wykończenia powierzchni. Na uzyskanie zakładanej jakości ma wypływ szereg czynników związanych m.in. ze stanem makro- i mikrogeometrii powierzchni narzędzia ściernego. Ocena i odpowiednia analiza stanu powierzchni ściernic ma więc w tym kontekście znaczenie podstawowe. Może być ona prowadzona za pomocą różnego rodzaju systemów pomiarowych, wykorzystujących wybrane metody stykowe oraz metody optyczne. W odniesieniu do ściernic precyzyjne pomiary stykowe i ich analiza mogą okazać się niewystarczające lub trudne do przeprowadzenia. W takim przypadku muszą być one zastąpione lub uzupełnione pomiarami optycznymi. Stwarza to pewne komplikacje wynikające m.in. z każdorazowej kalibracji urządzeń, wprowadzania innych parametrówpomiaru dla każdej z metod, oddzielnej analizy uzyskanych danych za pomocą różnych typów oprogramowania komputerowego. Wymienione działania znacząco wpływają na czas, dokładność i koszt przeprowadzenia pomiarów. Jedną z propozycji rozwiązania ww. problemów może być zastosowanie nowej klasy zintegrowanych systemów pomiarowych, oferujących możliwość oceny badanego przedmiotu za pomocą różnych technik pomiarowych dostępnych na jednej platformie sprzętowej. W pracy zaproponowano wykorzystanie optycznego systemu profilometrycznego Talysurf CLI 2000 firmy Taylor-Hobson Ltd. do precyzy-jnych pomiarów topografii powierzchni narzędzi ściernych. Dokonano krótkiej charakterystyki urządzenia oraz opisano jeden z trybów pomiarów wykorzystujący zjawisko abberacji chromatycznej. W części eksperymentalnej zaprezentowano wybrane wyniki analiz i wizualizacji danych pomiarowych uzyskanych dla powierzchni małogabarytowej ściernicy płaskiej o oznaczeniu technicznym 1-20×20×10 SG 80 M 8 V. Analizy przeprowadzono w oprogramowaniu TalyMap Silver. Uzyskane wyniki potwierdziły dużą użyteczność zastosowanego systemu Talysurf CLI 2000 oraz szerokie możliwości dedykowanego oprogramowania TalyMap Silver, co może stanowić ciekawą alternatywę dla wykorzystywanych już metod oceny stanu narzędzi ściernych (ściernic).
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2012, R. 58, nr 5, 5; 443-447
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Wielokanałowy, optoelektroniczny system do pomiaru stężenia gazów
The multichannel, optoelectronic gas sensor system based on interferometric nanostructures with gasochromic thin films
Autorzy:
Maciak, E.
Opilski, Z.
Pustelny, T.
Urbańczyk, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/154779.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
optyczny czujnik gazu
optoelektroniczny system pomiarowy
nanostruktura sensorowa
optical gas sensor
optoelectronic gas sensor system
sensing nanostructure
optical interferometric structure
Opis:
W pracy przedstawiono nowatorski wielokanałowy, optoelektroniczny system pomiarowy i sposób pomiaru stężenia gazów przemysłowych i toksycznych. Mierzony analit gazowy może być różny w zależności od zastosowanej interferencyjnej nanostruktury sensorowej. Pomiar odbywa się w gazowym środowisku pomiarowym. Niniejsze rozwiązanie optoelektronicznego, gazowego systemu pomiarowego wykorzystuje interferencyjne, optyczne nanostruktury sensorowe zawierające w swej konstrukcji cienkie warstwy receptorowe z optycznie czynnych materiałów. Zatem, optyczna głowica sensorowa zmienia swoje parametry optyczne w wyniku oddziaływania z badanym analitem gazowym.
In the paper the multichannel, optoelectronic gas sensor system based on interferometric, gasochromic nanostructures is presented. The silicon colour sensor TCS230 detects the intensity and change of colour coordinates RGB of an optical signal resulting from exposure of the sensing structure to a specific type of gas. Using multichannel measurement, one can simultaneously detect different gas or analyte molecules in the sample by immobilizing different optical receptor thin films (nanostructures) at different channels. Each optical sensing channel consists of three parts: the input port which includes a broadband light source: "warm" white LED, multi-layered sensing nanostructure: interferometric and gasochromic, the output port including a silicon colour sensor TCS230 detecting the intensity and change of colour coordinates RGB of an optical signal resulting from the sensing structure exposure to a specific type of gas. At the sensing window, on the glass substrate there are immobilized nanostructures being chemo-optical, gasochromic and interferometric transducer receptors, which can selectively interact with a specific type of gas molecules present in the gas mixture. When a physical-chemical binding process takes place on the sensing window of the measuring channel, an interferometric colour of the sensing element (nanostructure) changes and colour coordinates of the measured optical signal change as well. The change of the colour coordinates is proportional to the change of the effective refractive index of the receptor structure (particularly refractive index of the resonance cavity). By measuring the intensity change of the optical signal RGB, the refractive index change ?n taking place in the measuring window can be calculated and the concentration of a specific gas in the gas mixture can be measured.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2010, R. 56, nr 7, 7; 799-802
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies