Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "mikroskopia" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-5 z 5
    Tytuł:
    Ocena wpływu zewnętrznych pól magnetycznych i elektromagnetycznych na działanie skaningowego mikroskopu elektronowego
    Estimation of external magnetic and electromagnetic fields influence on Scanning Electron Microscope operation
    Autorzy:
    Płuska, M.
    Oskwarek, Ł.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/151432.pdf
    Data publikacji:
    2007
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    mikroskopia elektronowa
    skaningowy mikroskop elektronowy
    zakłócenia elektromagnetyczne
    indukcja magnetyczna
    scanning electron microscopy (SEM)
    electromagnetic distortions
    magnetic induction
    Opis:
    Tematyka artykułu odnosi się do aktualnych zagadnień z zakresu skanin-gowej mikroskopii elektronowej. Odkształcenia obrazu struktury badanego obiektu spowodowane wpływem zewnętrznych pól magnetycznych lub elektromagnetycznych są jednym z najczęstszej spotykanych niepożądanych efektów w mikroskopii. Prowadzone w tym zakresie analizy i badania mają na celu przede wszystkim uzyskanie oceny ilościowej dotyczącej indukcji pola magnetycznego przenikającego przez komorę mikroskopu oraz jej wpływu na wartość odchylenia wiązki padającej na obiekt badany (np. element półprzewodnikowy).
    In the paper some tasks deal with Scanning Electron Microscope (SEM) are presented. Image deformation caused by electromagnetic interference (EMI) is one of the most frequent undesirable effects in practical scanning electron microscopy. They usually appear as a constant or periodic deformation of vertical edges of an observed specimen. Available, but still very expensive methods for decreasing their influence are shielding and electromagnetic field compensation. The other approach is digital image processing for its correction. However, elimination of the distortions (with hardware or software methods) would be more effective when their influence on microscope system are known or predictable. The main goal of current investigations is work out a method for quantitative measurement of magnetic field in the microscope chamber and estimation of its influence on electon beam deflaction. The results obtained by the use of scanning electron microscope were verified by comparing its with the ones obtained using alternative magnetic field meter.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9, 9; 61-64
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Analiza obrazów powierzchni w mikroskopii bliskich oddziaływań
    Surface Image Analysis in Scanning Probe Microscopy
    Autorzy:
    Jóźwiak, G.
    Gotszalk, T.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/155430.pdf
    Data publikacji:
    2010
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    mikroskopia bliskich oddziaływań
    analiza topografii powierzchni
    analiza motywów 3D
    scanning probe microscopy
    surface analysis
    3D motif analysis
    Opis:
    W pracy przedstawiono wybrane metody analizy powierzchni (ISO 25178) wskazując na rodzaj informacji, jaką można za pomocą danej metody uzyskać. Opisywane algorytmy i procedury zostały zaimplementowane w opracowanym w Wydziałowym Zakładzie Metrologii Mikro- i Nanostruktur Politechniki Wrocławskiej programie TOPOGRAF. W pracy zaprezentowano przykładowe wyniki działania zaimplementowanych algorytmów i procedur.
    Progress in the scanning probe microscopy makes it become a much more common tool. In the paper the principle of operation of the scanning probe microscope is presented. It is emphasized that the measurement result is an image of the investigated surface. Two groups of parameters connected with lateral properties of the tested surface image are introduced. The first group of parameters is connected with the image autocorrelation function and two dimensional Fourier transform. The texture aspect ratio and surface autocorrelation length (Fig. 1) are given as examples of the autocorrelation parameters. The second group of parameters is related to the so called 3D motif analysis. At the first stage of this analysis the image is segmented by means of the watershed segmentations algorithm. At the second stage the statistics connected with the shape and dimensions of the segments are calculated. The segmentation algorithm as well as the parameters describing shape and dimensions of segments (Fig 2) are presented in the paper. Due to the quantum nature of the micro- and nano-world, the uncertainty of products of the micro and nanotechnology will always be greater than that of products of the conventional technology. For this reason there is strong demand for flexible techniques capable of handling this increased uncertainty. The 3D motif analysis is very well suited to meet this challenge, since it enables the extension of the basic set of the parameters describing segments. Therefore the segment parameters might be adapted to the function of the investigated nanostructures. The images presented in the paper were obtained by means of the TOPOGRAF software that is developed at the Division of Micro- and Nanostructures Metrology.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2010, R. 56, nr 1, 1; 46-47
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Zastosowanie konfokalnej laserowej mikroskopii skaningowej do oceny cech stereometrycznych powierzchni technicznych
    Confocal laser scanning microscopy used for assessment of stereometric features of engineering surfaces
    Autorzy:
    Kapłonek, W.
    Łukianowicz, C.
    Nadolny, K.
    Tomkowski, R.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/153770.pdf
    Data publikacji:
    2011
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    konfokalna laserowa mikroskopia skaningowa
    topografia powierzchni
    cechy stereometrycznych
    powierzchnie techniczne
    confocal laser scanning microscopy
    surface topography
    stereometric features
    engineering surfaces
    Opis:
    Coraz częściej we współczesnej metrologii wielkości geometrycznych stosowane są metody oraz urządzania pierwotnie opracowane dla innych celów oraz wykorzystywane w odrębnych dziedzinach nauki i techniki. Od kilku lat obserwuje się wzrost zainteresowania metodami mikroskopii konfokalnej związanymi do tej pory głównie z naukami biologicznymi i medycznymi. Jedną ze współczesnych odmian tych klasycznych metod jest konfokalna laserowa mikro- skopia skaningowa CLSM (ang. Confocal Laser Scanning Microscopy), opracowana pod koniec lat 80-tych XX w. W pracy przeanalizowano możliwość wykorzystania konfokalnej laserowej mikroskopii skaningowej do analizy cech stereometrycznych powierzchni technicznych. Przedstawiono podstawy tej metody oraz zaprezentowano wybrane wyniki badań doświadczalnych prowadzonych z zastosowaniem zaawansowanego mikroskopu laserowego LEXT OLS3100 firmy Olympus. Ocenie poddano wzorce kontrolne typu C (w odmianach C2 i C3), służące do wzorcownia i okresowego sprawdzania profilometrów stykowych oraz powierzchnię elastycznej foliowej taśmy mikrościernej typu IDLF (ang. Imperial Diamond Lapping Film). Pomiary dokonywane były dla wybranych ustawień mikroskopu w zależności od rodzaju badanego materiału. Zarejestrowane dane pomiarowe przetwarzano i analizowano wykorzystując dedykowane oprogramowanie o nazwie LEXT-OLS 5.0 opracowane przez producenta urządzania. Wyniki badań potwierdziły wysoką przydatność wykorzystanego urządzenia pomiarowego oraz jego duże możliwości oceny struktury geometrycznej różnego rodzaju powierzchni technicznych.
    In modern metrology of geometric quantities there are often used methods originally developed for other applications and used in separate fields of modern science and technology. For several years there has been increasing interest in methods of confocal microscopy related up to now to the medical and biological sciences. One of the modern variant of these classical methods is CLSM (Confocal Laser Scanning Microscopy). This method was developed in the late 80's. In the paper there are presented and discussed the possibilitiesof using confocal laser scanning microscopy for the assessment of stereometric features of the engineering surfaces. The authors describe the basics of this method and present selected results of experimental investigations carried out using the advanced 3D laser micro-scope LEXT OLS3100 produced by Olympus (Fig. 1). The calibration specimens of C type (C2 and C3 variants) for calibrating the stylus profilometers (Figs. 2 and 3) and the surface of the microfinishing film of IDLF type (Imperial Diamond Lapping Film) (Fig. 4) were assessed. Measurements were taken for selected micro-scope settings, depending on the type of a material surface structure. The recorded measurement data were processed and analysed using dedicated LEXT OLS 5.0 software developed by the microscope manufacturer. The results of investigations confirmed the high usefulness of the measuring system for measurements of the geometrical structure of various types of engineering surfaces.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2011, R. 57, nr 11, 11; 1409-1413
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Zastosowanie laserowej mikroskopii skaningowej do oceny mikrostruktury osadów mlekowych powstających podczas termicznej obróbki mleka
    Confocal laser scanning microscopy used for assessment of microstructure of milk fouling formed during high-heat milk treatment
    Autorzy:
    Piepiórka-Stepuk, J.
    Tandecka, K
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/153331.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    osady mlekowe
    higiena produkcji żywności
    chropowatość powierzchni
    konfokalna laserowa mikroskopia skaningowa
    milk fouling
    hygiene of food production
    surface roughness
    laser scanning confocal microscopy
    Opis:
    W pracy przedstawiono zagadnienia związane z powstawaniem zanieczyszczeń mlekowych pod wpływem wysoko temperaturowej obróbki mleka. Ocenie poddano trzy płytki ze stali nierdzewnej o różnej chropowatości, zanieczyszczone gorącym mlekiem. Do oceny mikrostruktury powstających osadów wykorzystano laserowy mikroskop pomiarowy LEXT OLS4000 firmy Olympus. Analiza uzyskanych danych pomiarowych prowadzona była w środowisku TalyMap Platinum 4.0. Uzyskane wyniki badań pozwoliły określić różnice w ilości i budowie tworzących się osadach mlekowych w zależności od wykończenia powierzchni ze stali nierdzewnej. Na podstawie przeprowadzonych badań stwierdzono, że pomiar techniką LSCM może być z powodzeniem wykorzystany do analiz zanieczyszczeń powstających w procesach przetwórstwa żywności.
    Formation of fouling during milk heat treatment in dairy industries is still a serious problem both technically and economically. The paper presents the issues related to the formation of milk fouling. Three types of plates of different roughness, contaminated by hot milk were used in the study. The microstructure of impurities was evaluated by the LCSM method, using the laser scanning confocal microscope Olympus LEXT OLS4000. Digital image creation and image analysis were performed using Software TalyMap Platinum 4.0. The results were helpful in determining the quantity and microstructure of milk fouling created on plates depending on the finishing surface. The results showed that the increase in the surface roughness caused the increase in the amount of deposits formed on them. The analyses of the LSCM results also indicate the forming of a few layers of deposits during milk heat treatment. They may be important in the cleaning process. On the basis of the investigation results it can be stated that the measurement technique LSCM is useful for evaluation of impurities built up on surfaces of equipments during food production.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 10, 10; 886-888
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Pomiary topografii czynnej powierzchni foliowych taśm mikrościernych z wykorzystaniem konfokalnej laserowej mikroskopii skaningowej
    Measurements of surface topography of microfinishing films with use of confocal laser scanning
    Autorzy:
    Kapłonek, W.
    Tomkowski, R.
    Zelenak, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/155907.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    foliowa taśma mikrościerna
    mikrowygładzanie
    topografia powierzchni
    konfokalna laserowa mikroskopia skaningowa
    laserowy mikroskop pomiarowy
    microfinishing film
    microfinishing
    surface topography
    confocal laser scanning microscopy
    3D measuring laser microscope
    Opis:
    W pracy przedstawiono zagadnienia związane z pomiarami topografii powie- rzchni narzędzi ściernych stosowanych w procesach mikro- i nanoobróbki. Ocenie poddano zestaw elastycznych foliowych taśm mikrościernych z ziarnem diamentowym o nominalnym wymiarze od 0,5 Μm do 30 Μm. W bada- niach wykorzystano zaawansowany laserowy mikroskop pomiarowy LEXT OLS4000 firmy Olympus. Analiza uzyskanych danych pomiarowych prowadzona była w dostarczonym przez producenta dedykowanym oprogramowaniu LEXT 5.0. Uzyskane rezultaty badań potwierdziły dużą użyteczność i szerokie możliwości pomiarowe wykorzystywanego mikroskopu w badaniach topografii powierzchni tego typu narzędzi ściernych.
    In modern industry it is often required to improve the cleanliness and finish quality of surfaces of precise manufacturing parts. For this purpose, producers apply microfinishing [1], which permits to obtain the better quality than that obtained by different conventional finishing processes. This influences significantly the maintenance of proper operating parameters by manufactured parts. Microfinishing process is realized by means of various types of abrasive tools such as microfinishing films [2]. Manufacturers often make available incomplete or incorrect technical data concerning the stereometric characteristics of produced abrasive tools. This situation complicates the proper selection of the optimal machining parameters. In this case it is necessary to conduct investigations of the surface topography of the microfinishing film with use of precise measuring methods. This paper proves that such investigations can be carried out with use of advanced microscopy methods such as nonlocal laser scanning microscopy (CLSM) [4]. During experimental investigations a set of IDLF (ImperialŽ Diamond Lapping Film) films produced by 3M was assessed. IDLF combine diamond grains (nominal diameter from 0.5 Μm to 30 Μm), a resin bonding system and a uniform polyester film. The measurement of films were taken by a 3D measuring laser microscope LEXT OLS4000 produced by Olympus (Fig. 1.). Analysis of the obtained data was carried out in the dedicated LEXT 5.0. software provided by a system producer. The obtained results of investigations (Fig. 2.) confirmed the high usefulness and wide range of measurement of the used microscope in assessment of the surface topography of these types of abrasive tools.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2012, R. 58, nr 1, 1; 37-39
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-5 z 5

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies