Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "manufacturing quality" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Wpływ błędów i niepewności wyników pomiarów na ocenę poziomu jakości procesów wytwarzania
The influence of measurement errors and uncertainties on the evaluation of the quality level of production processes
Autorzy:
Tabisz, R. A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/157826.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
procesy pomiarowe
błędy i niepewności
procesy wytwarzania
ocena jakości
wskaźniki zdolności procesów pomiarowych
wskaźniki zdolności procesów wytwarzania
measurement processes
errors and uncertainties
manufacturing processes
quality evaluation
measurement processes capability indices
manufacturing processes capability indices
Opis:
Przedstawiono przykładową analizę wpływu błędów i niepewności wyników pomiarów, na ocenę jakości procesów wytwarzania. Uzasadniono konieczność uwzględniania w tego rodzaju analizie, wpływów oddziaływań systematycznych i losowych. Obydwa rodzaje oddziaływań decydują o wartościach liczbowych wyników pomiarów. W konsekwencji decydują o wartościach wskaźników zdolności procesów wytwarzania(Cp), stanowiących liczbowe miary ich jakości. Zaproponowano kryterium kwalifikacji procesu pomiarowego, którego zamierzonym zastosowaniem jest wyznaczanie wartości wskaźnika zdolności procesów wytwarzania (Cp). Kryterium to umożliwia stosowanie tego samego procesu pomiarowego w pełnym cyklu doskonalenia procesu wytwarzania. Od najniższego poziomu jego jakości (Cp = 1), do najwyższego poziomu jakości "6Sigma" (Cp = 2).
An analystical example of the influence of measurement errors and uncertainties on the evaluation of the quality level of production processes, is presented. This influence was analyzed using the existing dependence on the manufacturing process the capability index (Cp) and measurement process capability indices (Cg1, Cg2) [13], and also, the dependence on the latter indices [13]. Attention was paid to the existing variety in the understanding and defining of such notions as: the measurement, the measurement error, and the uncertainty of measurement results. This variety, can in some situations, make for errors and ambiguities [10]. The model of the industrial measurement process, taking into account systematic and random influences on the final result of measurement, is described. Introduced was the notions: "interval of the natural process variability," and "coverage interval". The method of appointing the length of this "coverage interval", is explained. This interval is a sum of the left-side extended uncertainty (U-) and the right-side extended uncertainty (U+). The length of this interval can be used as the numerical measure of the measurement process variability (MPV), and also for the creation of the final result of measurements [12]. The qualification criterion of the measurement process, which intended use is the appointing of the value of the manufacturing process capability index (Cp), is proposed. This index defines the capability of the production process for the manufacturing of products conforming with their design specification [4]. The use of this criterion in industry, makes it possible to use the same measurement process in the full cycle improvement of the production process, from the lowest quality level (Cp = 1), to the highest quality level "6Sigma" (Cp = 2) [12].
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2010, R. 56, nr 9, 9; 1000-1005
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
From Nanometrology to Picometrology - metrology for Human Life and technical Development in the 21st Century
Od nanometrologii do pikometrologii - metrologia dla ludzkiego życia i rozwoju technologicznego XXI wieku
Autorzy:
Afjehi-Sadat, A.
Osanna, P. H.
Durakbasa, M. N.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/158059.pdf
Data publikacji:
2004
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
nanometrologia
pikometrologia
metrologia
życie ludzkie
rozwój technologiczny
wiek XXI
nanometrology
nanotechnology
precision manufacturing
measurement technique
quality management
picometrology
metrology
human life
technical development
21st Century
Opis:
In this article the importance of nanometrology and nanotechnology in general for scientific research and especially for production engineering is described and particulary the influence on technical development, high precision manufacturing but also for circumstancies of human life is demonstrated. High accuracy measurement technique and metrology must be given a key role in modern production environment. Essential contributions to increase the quality of products and the productive power of industrial plants can be reached through the aimed application of nanometrology.
Przedstawiono podstawowe znaczenie nanometrologii i nanotechnologii w badaniach naukowych koncentrując się przede wszystkim na inżynierii produkcji. Podkreślono wpływ nanometrologii i nanotechnologii na rozwój techniczny, wytwarzanie o wysokiej dokładności jak również ich znaczenie w życiu człowieka. Techniki pomiarowe o wysokiej dokładności i metrologia powinny odgrywać kluczową rolę w warunkach nowoczesnej produkcji. Dzięki zastosowaniom nanotmetrologii można uzyskać znaczący wzrost jakości wyrobów i zdolności produkcyjnych.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2004, R. 50, nr 12, 12; 10-14
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies