Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "standards" wg kryterium: Wszystkie pola

  Lista filtrów
Wyrównaj
Wyświetlanie 1-15 z 42
Tytuł:
Znaczenie wzorców jednostek miar w rozwoju gospodarki
The role of measurement standards in the economical development
Autorzy:
Sochocka, D.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/153617.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
metrologia
wzorce
wzorce odniesienia
metrology
measurement standards
reference standards
Opis:
W związku z dynamicznym rozwojem współczesnej gospodarki światowej i związanym z tym rozwojem infrastruktury metrologicznej w referacie podjęto próbę przedstawienia znaczenia wzorców jednostek miar i ich rozwój w ostatnim okresie. Omówiono rolę wzorców w światowym systemie miar oraz znaczenie porozumienia o "Wzajemnym uznawaniu państwowych wzorców jednostek miar, świadectw wzorcowania i świadectwa pomiarów wydawanych przez krajowe instytucje metrologiczne" Referat przedstawia omówione w dużym skrócie wzorce jednostek miar utrzymywane przez Główny Urząd Miar i ich rolę w krajowym systemie miar.
Metrology is the science of measurement and its applications. Metrology comprises all theoretical and practical aspects of measurements, irrespective of the value of measurement uncertainty and the field of application. The fast development of the contemporary global economy based on innovative technologies poses new challenges to modern metrology. Economical progress requires reliable measurements and tests that are internationally accepted, so that they do not constitute a technical barrier to trade and industrial development. The prerequisite for reliability of measurements and tests is availability of the metrological infrastructure. One of the most important elements of that infrastructure are measurement standards of possibly highest accuracy. This paper presents measurement standards maintained in the Central Office of Measures and their role in the national metrological infrastructure. Because the Mutual Recognition Arrangement is a response to a growing need for an open, transparent and comprehensive scheme to give users reliable quantitative information on the comparability of national metrology services, its role is presented in this paper.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2010, R. 56, nr 12, 12; 1585-1588
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Wzorce transferowe pola elektromagnetycznego
Transfer electromagnetic field standards
Autorzy:
Grudziński, E.
Widłaszewski, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/155505.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
wzorce pola elektromagnetycznego (PEM)
pierwotne i wtórne wzorce PEM
porównania wzorców
electromagnetic field (EMF)
standards
primary and secondary EMF standards
standard comparison
Opis:
W ochronie pracy i środowiska pomiary prowadzone są w bezpośrednim otoczeniu pierwotnych i wtórnych źródeł. Znaczną degradację dokładności pomiaru powoduje wzajemne oddziaływanie źródła pola i anteny pomiarowej oraz innych przedmiotów znajdujących się w miejscu pomiaru, obecność osoby wykonującej pomiar, a także specyficzne własności pola, w tym szczególnie pola bliskiego. Wymienione czynniki są źródłem wielu błędów zarówno na stanowiskach wzorców jak i bezpośrednio w trakcie pomiarów terenowych (poligonowych). Pierwszorzędnym czynnikiem jest wzajemna komparacja wzorców.
The hazard created by an exposure to EMF requires the field measurements in the neighborhood of primary and secondary field sources. Remarkable degradation of the measurement accuracy is caused by mutual interaction of the measuring antenna, a source of radiation and other conducting bodies that appear in the place where the measurements are performed, a presence of the person performing the measurements and he specific properties of the field, and in particular the near-field. The factors mentioned reduce the accuracy of the measurements both while the measurements are done with the use of standard field sets in a Lab and during the field measurements. Foreground role here was played by a possibility of the standards comparison.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9 bis, 9 bis; 50-53
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Układy wzorców pola elektrycznego i magnetycznego w metrologii gęstości mocy
Systems of the electric and magnetic field standards in the power density metrology
Autorzy:
Grudziński, E.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/157396.pdf
Data publikacji:
2006
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
wzorce pola elektrycznego
wzorce pola magnetycznego
gęstość mocy
electric field standards
magnetic field standards
power density
Opis:
Szybki rozwój i wykorzystanie wielu źródeł mocy w zakresie małych i wielkich częstotliwości w przemyśle, telekomunikacji, nauce, technice i medycynie, wojsku, a nawet w gospodarstwie domowym spowodował rozwój narzędzi służących do pomiarów pola elektromagnetycznego (PEM) i związanej z tym metrologii pól elektromagnetycznych. W ochronie pracy i środowiska są to pomiary w bezpośrednim otoczeniu pierwotnych i wtórnych źródeł. Znaczną degradację dokładności pomiaru powodują specyficzne własności pola, w tym szczególnie pola bliskiego. Wymienione czynniki są źródłem wielu błędów zarówno na stanowiskach wzorców jak i bezpośrednio w trakcie pomiarów terenowych.
The development of contemporary civilization is associated with the consumption of more and more quantities of electromagnetic energy in communication, technology, science, medicine, and military in the household. The hazard created by an exposure to EMF requires the field measurements in the neighborhood of primary and secondary field sources. Remarkable degradation of the measurement accuracy is specific properties of the field, and in particular the near-field. The factors mentioned reduce the accuracy of the measurements both while the measurements are done with the use of standard field sets in a Lab and during the field measurements.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2006, R. 52, nr 7/8, 7/8; 16-19
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Wzorce i materiały odniesienia w pomiarach gęstości cieczy i ciał stałych
Standards and Reference Materials in Measurements of Liquid and Solid Density
Autorzy:
Lenard, E.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/155935.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
pomiary gęstości cieczy i ciał stałych
wzorce i materiały odniesienia
measurements of liquid and solid density
standards and reference materials
Opis:
Laboratorium Gęstości Głównego Urzędu Miar zajmuje się pomiarami gęstości cieczy i ciał stałych, kontrolą metrologiczną i wzorcowaniem przyrządów pomiarowych oraz wytwarzaniem certyfikowanych materiałów odniesienia. Laboratorium posiada państwowy wzorzec jednostki miary gęstości, wykonany z monokryształu krzemu i zapewniający spójność pomiarową z międzynarodowym systemem miar. Jednostka miary gęstości przekazywana jest za pomocą stałych i ciekłych wzorców niższych rzędów oraz ciekłych materiałów odniesienia, zgodnie z hierarchicznym układem sprawdzań. Udział w porównaniach międzynarodowych potwierdza poziom kompetencji technicznych Laboratorium.
Density Laboratory of the Central Office of Measures is responsible for density measurements of liquids and solids, metrological control and calibration of measuring instruments and manufacturing of certified reference materials. The Laboratory holds the national density standard, made of silicon monocrystal, which provides traceability to the International System of Measures. The unit of density is passed to lower levels liquid or solid standards and certified reference materials, according to hierarchy scheme. Technical competence of the Laboratory is confirmed by the participation in the international comparisons.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9 bis, 9 bis; 466-469
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Badania współczynników temperaturowych wzorców impedancji
Autorzy:
Musioł, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/155735.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
termostat powietrzny
współczynnik temperaturowy
wzorzec impedancji
air thermostat
temperature coefficient
impedance standards
Opis:
Investigations of the temperature coefficients of impedance standards
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2013, R. 59, nr 7, 7; 597-600
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
System sterowania rozmytego z normami trójkątnymi w warunkach granicznych
Fuzzy control system eith triangular standards under boundary conditions
Autorzy:
Butkiewicz, B.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/151902.pdf
Data publikacji:
2001
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2001, R. 47, nr 4, 4; 11-13
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
System stabilizacji warunków środowiskowych w Laboratorium Wzorców AC-DC
System for stabilization of environmental conditions in the Laboratory of AC-DC Standards
Autorzy:
Kampik, M.
Domański, W.
Grzenik, M.
Majchrzyk, K.
Musioł, K.
Tokarski, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/972151.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
laboratoria wzorcujące
transfer AC-DC
wzorce pierwotne
calibration laboratories
AC-DC transfer
primary standards
Opis:
Odtwarzanie jednostek miar oraz przechowywanie i wykorzystywanie ich wzorców pierwotnych musi odbywać się w odpowiednich warunkach środowiskowych. W pracy przedstawiono opis systemu stabilizującego warunki środowiskowe w Laboratorium Wzorców AC-DC Instytutu Metrologii, Elektroniki i Automatyki Politechniki Śląskiej. W artykule zamieszczono również wyniki badań systemu oraz zaproponowano metody jego udoskonalenia.
Primary standards of physical quantities are the basis of traceability and uniformity of all measurements. Appropriate environmental conditions should be provided to maintain the standards and reproduce unit of measures. In the paper there are described the resources used for stabilization of temperature and humidity in the Laboratory of AC-DC Standards. The results of investigations of environmental parameters and possibilities for their further improvement are presented. A view of the interior of the electromagnetically shielded chamber and of the measuring station in the chamber of the Laboratory of AC-DC Standards are shown in Figs. 1 and 2, respectively. A measuring system consisting of an air handling unit suspended over the chamber and other devices cooperated with it (Fig. 3) ensures temperature and humidity stabilization inside the chamber. An air conditioning system based on the chilled water enables setting temperature in the range from 20 to 25°C. In order to confirm the assumed temperature stability (maximum ±0,2 K per hour), suitable measurements were taken with use of a thermohygrometer Label LB706B. The results of short and long-term stability of the temperature at the measuring station are shown in Figs. 4 and 5, respectively. Based on the presented results, it can e concluded that the system presented in the paper meets the assumed environmental requirements and enables realization of an AC-DC transfer with type A uncertainty at the level of V/V.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 2, 2; 73-76
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Centralny Ośrodek metrologii Wojskowej - 40 lat w służbie metrologicznego zabezpieczenia sił zbrojnych Rzeczypospolitej Polskiej
Primary standards laboratory - 40 years serving for Polish Armed Forces metrology maintenance
Autorzy:
Twarogowski, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/154565.pdf
Data publikacji:
2003
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
Centralny Ośrodek Metrologii Wojskowej
struktura organizacyjna
zakres działalności
rocznica działalności
Primary Standards Laboratory
organizational structure
activity range
anniversary of activity
Opis:
W artykule przedstawiono historię, strukturę organizacyjną, zakres działalności zakładów, realizację zadań metrologicznych oraz współpracę Centralnego Ośrodka metrologii Wojskowej w 40-lecie jego działalności.
History, organizational structure, activity range of Laboratory`s departments, performance of metrology tasks and Primary Standards Laboratory cooperation at its 40 anniversary of activity were presented in the article.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2003, R. 49, nr 10, 10; 8-12
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Przekazywanie jednostki rezystancji od wzorca opartego na kwantowym efekcie Halla do wysokoomowych rezystorów wzorcowych
The resistance unit transfer from the quantum Hall effect standard to high value resistance standards
Autorzy:
Lisowski, M.
Krawczyk, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/151442.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
wzorce wysokich rezystancji
kwantowy efekt Halla
transfer Hamona
high value resistance standards
quantum Hall effect
Hamon transfer
Opis:
W referacie przedstawiono wzorzec pierwotny rezystancji, oparty na kwantowym efekcie Halla i system przekazywania jednostki rezystancji oraz problemy z tym przekazywaniem związane. Zaproponowano zastosowanie w systemie transferów rezystancji Hamona, które umożliwią zmniejszenie niepewności przenoszenia jednostki rezystancji, a także dokładniejsze wzorcowanie aparatury pomiarowej stosowanej w systemie.
This paper concerns primary standard of resistance unit based on Quantum Hall Effect (fig. 3) and measurement system (fig. 5). Problems of resistance measurement system were shown. The alternative resistance scaling path, from QHE to various decade resistance values, based on Hamon transfers were described (fig. 6). This solution increases resistance transfer accuracy and allows to calibrate measurement equipment.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9, 9; 88-91
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Dobór modeli matematycznych do analizy parametrów chropowatości powierzchni w skaterometrycznych pomiarach wzorców porównawczych
Selection of mathematical models for analysis of the surface roughness in the scattered light measurements of the comparative standards
Autorzy:
Kapłonek, W.
Sutowski, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/154349.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
rozpraszanie światła
modele matematyczne
przetwarzanie obrazu
analiza obrazu
chropowatość powierzchni
wzorce porównawcze
light scattering phenomenon
mathematical models
image processing
image analysis
surface roughness
comparative standards
Opis:
W pracy przedstawiono sposób doboru modeli matematycznych przydatnych w analizie wybranych parametrów chropowatości w pomiarach skaterometrycznych. Modele wyznaczano dla powierzchni porównawczych wzorców chropowatości, dla których rejestrowano obrazy światła rozproszonego, za pomocą układu pomiarowego wykorzystującego wielokamerowy system wizyjny CV-3000 firmy Keyence. Szeroki program badań eksperymentalnych pozwolił opracować statystycznie istotne modele, które w postaci programu pomiarowego umożliwiają ocenę parametru Rz (w zakresie od 0,8 do 25 μm) oraz Ra (w zakresie od 0,07 do 3,7 μm).
The light scattering phenomenon is often used in modern optical metrology for the assessment of roughness of the precisely machined surfaces of machine parts, medical devices and measurement instruments. The developed over more than 60 years ideas for use of this phenomenon became the basis of a number of measuring techniques. Some of them use a digital image of the scattered light, which is the carrier of information about the state of the inspected surface. Its analysis as well as proper interpretation can be used to characterization of the surface texture parameters and enable the correlation of image parameters with selected parameters of the surface roughness. The paper presents a method for the selection of mathematical models, which can be useful in the analysis of selected parameters of the surface roughness measured using the scattered light. The models were determined for surfaces of the comparative roughness standards. Additionally for these standards were acquired images of the angular intensity distribution of the scattered light by means of the measuring setup which used a multi-camera universal machine vision system CV-3000 series produced by Keyence. Wide scope of the experimental research program allowed to develop a statistically significant models, which can be applied in the form of measuring program developed in CV-H3N 2.1 software. The program is used for assessment of the Rz and Ra parameters in the range of (respectively) from 0.8 to 25 μm and from 0.07 to 3.7 μm.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 10, 10; 904-908
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Koncepcja dwutorowego systemu przekazywania jednostki rezystancji od wzorca pierwotnego QHR do wzorców o wartościach do 100 TΩ
Idea of double path system for resistance unit transfer from QHR primary standard to 100 TΩ standards
Autorzy:
Lisowski, M.
Krawczyk, K.
Kocjan, B.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/157896.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
wzorce rezystancji
transfery Hamona
pomiary rezystancji
system pomiarowy
niepewność pomiarów
resistance standards
Hamon transfers
resistance measurements
measurements systems
measurement uncertainty
Opis:
Proponowany system jest uzupełnieniem zrealizowanego, w ramach projektu badawczego rozwojowego, systemu przekazywania jednostki rezystancji od wzorca pierwotnego QHR do wzorców wtórnych o dodatkowy drugi tor. Zapewni to weryfikację uzyskanych wyników, co ma bardzo istotne znaczenie dla pomiarów o najwyższych dokładnościach. Wymagać to będzie skonstruowania nowych czterech transferów rezystancji: (0,1-1-10) MΩ, (10-100-1000) MΩ, (1-10-100) GΩ i (0,1-1-10) TΩ.
Authors describe the resistance unit transfer system, from the primary standard QHR to 100 TΩ standards based on Hamon transfers, which they developed (Fig. 1) [5, 6, 8]. Resistance unit is transferred from the QHR to 100 Ω standard with the Cryogenic Current Comparator (CCC), and then with the same comparator to 10 kΩ standard. Next to standard up to 1 GΩ? Hamon, the transfers with Measuremnt International 6000B bridge are used. Above 1 GΩ up to 100 TΩ Hamon transfers and Guildline 6500 teraommeter are used. Hamon transfers which are used in the system are sealed in metal boxes which protect from humidity and external interferences; they are also thermostated with instability of š0.01 °C [5, 9]. Described system is very accurate if voltage applied to Hamon transfer resistors is constant. In practice this is impossible and corrections due to voltage change are necessary, what is main limitation of this system accuracy. Furthermore measurement equipment does not enable sufficient voltage regulation what causes additional errors. Secondary standards are not thermally stabilized, and for teraommeter it is impossible to set measurement time. Described system enables resistance unit transfer with only one path, this does not allow to verify results of measurements. Therefore authors propose to equip existing system with second path, based on additional four Hamon transfers (Fig. 2.). Authors also propose to develop special thermostats for secondary standards and active-arm bridge (Fig. 3.) [10].
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2012, R. 58, nr 9, 9; 779-781
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Zalecenia normalizacyjne z zakresu kompatybilności elektromagnetycznej - barierą czy czynnikiem postępu dla krajowych producentów
Recommended standards for EMC - a barrier or development factor for local manufacturers
Autorzy:
Ruszel, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/157178.pdf
Data publikacji:
1998
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 1998, R. 44, nr 8, 8; 306-310
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Rozwój wzorców parametrów sieci energetycznej
Development of power network parameters standards
Autorzy:
Olencki, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/151262.pdf
Data publikacji:
2009
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
kalibrator mocy
wymuszalnik
parametry jakości energii
three phase power calibrator
phantom load
power quality parameters
Opis:
Omówiono fizyczne modele trójfazowej sieci energetycznej - wzorce parametrów sieci sinusoidalnej i niesinusoidalnej, spokojnej i niespokojnej. Przedstawiono rozwój wzorców parametrów sieci energetycznej i ich koncepcje, od pierwszego ROTEK 800 do najnowszego krajowego CALMET C300, oraz perspektywy ich dalszego rozwoju.
This article presents an idea of a physical models of three phase network - standards of sinusoidal and nonsinusoidal, stable and variable power network parameters named as the Power Calibrators or Electrical Power Standards. Terminology problems are discussed in section 1. Pyramid of standards for calibration of power network parameters meters and power quality analysers (Fig.1) and actual model power network with description of quantity and quality of energy (section 3) are described. There is presented progress of power network parameters standards and their concepts, from the first standards of sinusoidal and stable power network parameters ROTEK 800 [8] from USA and LUMEL SQ33 [9] from Poland to the newest standards of nonsinusoidal and variable power network parameters ROTEK 8100 [14] and FLUKE 6100A [15] from USA and CALMET C300 [20] from Poland. Progress analysis in construction of multiphase relay testers (section 5), advantages of their physical realisations and philosophy of their programming makes possible to design and introduce modern medium accuracy 0,05 and portable the C300 three phase power calibrator. Idea and construction of the new generation stationary single position meter test bench model LS3, as example of using the C300 calibrators is presented (Fig.6). The C300 calibrators, similar to SQ33 calibrators 20-ty years ago, are keeping our good position in the world market in medium accuracy power network parameters standards.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2009, R. 55, nr 12, 12; 993-996
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Akredytacja laboratorium wyposażonego we współrzędnościową maszynę pomiarową
Accreditation of the CMMs laboratories
Autorzy:
Swornowski, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/151644.pdf
Data publikacji:
2008
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
współrzędnościowa technika pomiarowa
akredytacja WMP
porównanie standardów
coordinate measuring technique
CMMs accreditation
comparison of specification standards
Opis:
Aby uzyskać produkt o najwyższej jakości potrzebny jest odpowiedni system jakości. Na uzyskanie wysokiej jakości w procesie produkcyjnym wpływa wiele czynników, w tym czynnik związany z pomiarem. Co raz częściej spotyka się w przemyśle współrzędnościową maszynę pomiarową jako "uniwersalne" urządzenie kontrolne. To niewątpliwie skomplikowane urządzenie pomiarowe wymaga odpowiedniego poświadczenia swojej dokładności w certyfikacie wzorcowania. Konieczne minimalne wymagania jakie powinien spełniać system zapewnienia jakości zostały zdefiniowane w normach ISO 9000. W przedsiębiorstwie struktura organizacyjna i procedury systemu zapewnienia jakości udokumentowane są w księdze jakości. W normie ISO 9000:2000 wprowadzono podejście procesowe po to, aby osiągnąć zadowolenie odbiorcy. Praktycznie to odbiorca wyrobu narzuca wymagania jakie musi spełnić producent, w tym również w aspekcie metrologicznym. W szczególności dotyczy to metody kalibracji WMP wybieranej przez odbiorcę. W artykule zwrócono uwagę na róż-\nice występujące w krajowych i międzynarodowych normach.
To obtain the product about the best quality is necessary the suitable system of the quality. On the obtainment of the high quality in the manufacturing process influences many factors, in this the measuring - factor. Often in the industry one comes together the coordinate measuring machine as "the universal" monitor. This complicated measuring - device demands the suitable certificate of the accuracy in the calibration certificate. The necessary minimum requirements for a QM system are set out in EN ISO 9000 standard. By quality management system (QM system), we mean the structural and procedural organization for performing tasks. In the ISO 9000:2000 norm one introduced the approach of a law suit for this, to reach the satisfaction of the receiver. The receiver forces what requirements must be realized by the producer, in this also in the metrological aspect. Especially refers this of the CMMs method calibration. In this paper looks at some of the difficulties caused by the lack of national or international standards for calibration of CMMs.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2008, R. 54, nr 9, 9; 658-661
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Standards for global interoperability in accelerated computing: hardware, software and organizational
Standardy przenośności dla podsystemów wspomagania obliczeń: sprzęt, oprogramowanie, organizacja
Autorzy:
Stahlberg, E.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/151788.pdf
Data publikacji:
2009
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
obliczenia dużej mocy
wspomaganie obliczeń
rekonfigurowalne tablice logiczne
HPC
FPGA
accelerating computing
Opis:
Computing accelerators are increasingly being called upon to provide improved application performance, as microprocessor clock rates have leveled off. Ranging from low-level devices (FPGAs or FPOAs) to more specialized accelerators, like ClearSpeed, they can be found in desktops or in large supercomputers. Presented paper outlines efforts of OpenFPGA to foster interoperability and open interchange of information among organizations. To do that, several activities and emerging services are introduced to enable an increasingly technically and economically sustainable mainstream of reconfigurable computing ecosystem.
Ponieważ, częstotliwości pracy mikroprocesorów osiągnęły pewien graniczny poziom, aby sprostać wymaganiom związanym z mocą obliczeniową dla określonych aplikacji, coraz częściej sięga się do rozwiązań dodatkowo zwiększających moc obliczeniową komputerów. Zakres możliwości jest bardzo szeroki i rozciąga się, począwszy od operujących na poziomie bramki lub obiektu reprogramowalnych tablic logicznych (FPGA lub FPOA) aż po bardziej specjalizowane rozwiązania takie, jak technologia ClearSpeed. Znamiennym dla tych rozwiązań jest wykorzystywanie równoległości prowadzenia obliczeń zarówno na poziomie algorytmu jak i danych, a także strukturalne prowadzenie działań z użyciem zwielokrotnionych zasobów sprzętowych z cechą elastyczności tych struktur, wynikającą z możliwości ich rekonfiguracji. Skuteczność stosowania takich, dodatkowych podsystemów wspomagania obliczeń udokumentowana już została licznymi przykładami, zarówno w odniesieniu do komputerów typu PC, jak i w odniesieniu do superkomputerów. Prezentowana publikacja charakteryzuje w zarysie wysiłek podjęty w ramach organizacji OpenFPGA, dotyczący zamysłu spełnienia warunku pełnej przenośności standardów użytkowania podsystemów przyspieszających obliczenia, a także zapewnienia wymienności informacji pomiędzy organizacjami kreującymi tego typu nowe technologie. Szereg działań oraz nowych usług, zaoferowanych na platformie organizacji, ma na celu poszerzenie ponadnarodowej współpracy pozwalającej sprostać wymaganiom techniczno-ekonomicznego rozwoju utrwalającego się nurtu komputerów rekonfigurowalnych wraz z towarzyszącym jemu, swoistym ekosystemem.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2009, R. 55, nr 8, 8; 560-562
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Wyświetlanie 1-15 z 42

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies