Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "frequency parameter" wg kryterium: Wszystkie pola

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-4 z 4
    Tytuł:
    Przetwornik jednoczesnych zmian parametrów dwójników RC o wyjściu częstotliwościowym
    Two-input port converter of simultaneous parameter changes with frequency output
    Autorzy:
    Topór-Kamiński, L.
    Guzik, J.
    Pilśniak, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/153228.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    przetwornik zmian składowych impedancji
    wyjście częstotliwościowe
    oscylator kwadraturowy rzędu trzeciego
    transkonduktancyjny wzmacniacz operacyjny
    OTA
    impedance component changes-to-frequency converter
    quadrature oscillator
    transconductance amplifier
    Opis:
    W pracy przedstawiono propozycję nowego rozwiązania przetwornika zmian parametrów (G,C) i (C, tgδ) dwójnika RC pozwalającego w oparciu o układ oscylatora kwadraturowego rzędu trzeciego na jednoczesny pomiar dwóch parametrów, przy czym zmianom jednego z parametrów odpowiadają zmiany wartości pulsacji sygnału wyjściowego przetwornika, natomiast zmianom wartości drugiego z parametrów – odpowiednio – wzrost lub spadek wartości amplitudy generowanych sygnałów. Opisano także zalety i wady zaproponowanego rozwiązania.
    In the aper the proposal of new solution of RC two-port (G,C) and (C, tgδ) simultaneous parameter changes – to – frequency converter is presented. The converter is based on third kind quadrature oscillator (see Fig.2) where one of the measuring two-port parameters is converted into frequency, however second parameter changes - suitably converted – to the growth or the fall of amplitude value U1 or U2 of generated signals. The detailed processing variants for Y0 or Y1 admittance changes (G0,C0) (variant A), (G0,tgδ0) (variant B) and (G1,C1) (variant C) are presented in the Table 1. As a result of analysis was affirmed that every relative changes |ΔG0/G0|, |Δtgδ0/tgδ0| or |ΔG1/G1| of measured admittance Y0 or Y1 have conversion coefficient equal to unity to the relative voltage changes |ΔU1/U1| or |ΔU2/U2|. The advantage of proposed converter solution is the easy setting of impedance / admittance changes – to – frequency conversion constant K, described by equations (8a) and (8b), respectively. Recapitulating, the proposed converter solution according to Fig.2 is suitable to processing of (C0, tgδ0) RC two-port component changes (see conversion variant B according to Table 1).
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 12, 12; 1144-1146
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Koncepcja przetwornika zmian parametrów dwójników RC o wyjściu częstotliwościowym z wykorzystaniem oscylatora kwadraturowego rzędu trzeciego
    Idea of RC two-port parameter changes – to – frequency converter with use of the third order quadrature oscillator
    Autorzy:
    Topór-Kamiński, L.
    Guzik, J.
    Pilśniak, A.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/151496.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    oscylator kwadraturowy rzędu trzeciego
    transkonduktancyjny wzmacniacz operacyjny OTA
    przetwornik zmian składowych impedancji
    wyjście częstotliwościowe
    third order quadrature oscillator
    transconductance amplifier (OTA)
    impedance component changes-to-frequency converter
    Opis:
    W pracy przedstawiono dwójnikową syntezę oscylatorów kwadraturowych, gdzie poprzez zastosowanie rezystancji ujemnej zależnej od częstotliwości (FDNR – Frequency Dependent Negative Resistance) uzyskano oscylator rzędu n = 3. Ponadto zaproponowano metrologiczną aplikację oscylatora kwadraturowego o n = 3 zbudowanego z wykorzystaniem trzech wzmacniaczy typu OTA o sterowanych transkoduktancjach do jednoczesnego przetwarzania zmian dwóch składowych impedancji dwójników RC.
    The paper presents the two-port synthesis of quadrature oscillators in which there was obtained a third order quadrature oscillator by use of a FDNR (FDNR - Frequency Dependent Negative Resistance) resistance. There is proposed the metrological application of the third order quadrature oscillator, based on three operational transconductance amplifiers (OTA), for simultaneous processing of changes of two RC two-port impedance components to frequency. The example use of this oscillator is measurement of chosen impedance components {C0;tgδ0} of the measured object. The converter enables simultaneous measurements of these two parame-ters, where changes of the capacity C0 value correspond to changes of the pulsation ω0 value, and changes of the dielectric dissipation factor tgδ0 value correspond to the rise or the fall of the amplitude of generated signals. Due to its proprieties, the proposed RC two-port parameter changes converter can be used for constructing a comparator circuit, of the general block diagram presented in paper [5], for testing dielectrics.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 1, 1; 6-8
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Analiza toru sygnałowego flickermetru dla napięcia sieciowego zmodulowanego przebiegiem harmonicznym
    Analysis of flickermeter signal chain for supply voltage modulated with harmonic waveform
    Autorzy:
    Wiczyński, G.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/152095.pdf
    Data publikacji:
    2005
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    jakość napięcia
    flickermeter
    charakterystyka amplitudowo-częstościowa
    wskaźnik Pst
    power quality
    amplitude-frequency characteristics
    Pst parameter
    Opis:
    Normatywną miarą uciążliwości wahań napięcia są wskaźniki długookresowego Plt i krótkookresowego Pst migotania światła. Wartości wskaźników określane są na podstawie sygnału wyjściowego otrzymywanego z układu "Flickermetru". Tor sygnałowy tego układu jest na tyle złożony, że wyznaczenie wartości wyjściowych nie jest proste. Uznano więc za celowe przeanalizowanie kolejnych etapów przetwarzania dla harmonicznej zmienności wartości skutecznej napięcia. W wyniku uzyskano pełną charakterystykę amplitudowo-częstościową zawierającą fragmenty nie objete normalizacją normatywną.
    Normalized measures of disturbances caused by light flickers resulting fromvoltage fluctuations are factors of the long-term and short-term light flickers, respectively, determinated by the flickermeter output signal. Because the signal circuit of this device is very complex, the following steps of processing were analyzed. For this purpose, the simplest case the supply voltage modulation with a harmonic signal has been selected. A segment function is used in processing realized with a simplified flickermeter circuit. The following effects of performed processing are described. A full amplitude frequency characteristic for a range over 50 Hz, which is often omitted in the literature, has been obtained.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2005, R. 51, nr 9, 9; 30-33
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Dopasowanie wartości parametrów pomiaru cyfrowego nierówności profilu do charakteru powierzchni przedmiotu
    Matching the parameter values of digital measurement to workpiece surface profile irregularities
    Autorzy:
    Boryczko, K.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/157754.pdf
    Data publikacji:
    2010
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    pomiary powierzchni
    warunki pomiaru
    struktura geometryczna powierzchni
    analiza częstotliwościowa
    surface measurement
    measurement conditions
    surface geometrical structure
    frequency analysis
    Opis:
    W pracy przedstawiono dopasowanie parametrów pomiaru do rodzaju powierzchni i analizy częstotliwościowej nierówności powierzchni toczonych dla celów rozpoznawania ich głównych składowych. Podano zależności parametrów cyfrowych pomiaru nierówności warunkujące ich częstotliwościowe zakresy rozpatrywania. W podsumowaniu podano zakres analizy częstotliwościowej nierówności powierzchni z dolno- i górnopasmowymi rodzajami ograniczeń oraz wskazówki doboru parametrów pomiaru dla otrzymania właściwego zakresu analizy nierówności powierzchni.
    Conditions of measurement, the analogue-to-digital conversion and the frequency analysis of turned surface irregularities for the purpose of its main components identification are presented in the paper. A range of digital parameters have been defined along with their relation to each other, specifying the ranges in which they should be used in order to measure surface irregularity (Tab.1). The parameter values obtained by digital measurement vary within specific ranges, and hence determine the surface irregularities [1, 2, 3]. For this measurement, it is essential to select proper sampling interval hp and the number of measured data N for the value and character of the irregularities measured [4, 5] (Fig.2). The method of frequency analysis for periodical surface irregularities, with the application of power spectral density and the use of fast Fourier transformation (FFT), has been presented in papers [6, 7]. The required conditions for the method presented in this paper, and the possible matching of frequency to wide-band surface irregularities are presented. The maximum frequency of the given irregularity is determined by the value of the sampling interval. Due to this fact, the sampling interval values should be selected in a way to include the low-frequency range of dominant components of the surface irregularity [8] (Fig.3). To summarise, the resulting frequency range of surface irregularities, with high and low-frequency limitations, has been given. Furthermore, the indication of the suitable selection range to capture significant surface irregularities has been included.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2010, R. 56, nr 9, 9; 1063-1066
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-4 z 4

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies