Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "electrical impedance" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-4 z 4
Tytuł:
Wizualizacja parametrów i aktywności elektrycznej mózgu
Visualization of parameters and electrical activity of the brain
Autorzy:
Dunajski, Z.
Pałko, T.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/155161.pdf
Data publikacji:
2006
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
elektroencefalografia
lokalizacja źródeł
spektroskopia impedancyjna
tomografia impedancyjna
electroencephalography
source localization
impedance spectroscopy
impedance tomography
Opis:
Mózg wraz z otaczającymi go tkankami stanowi przewodnik objętościowy zawierający struktury aktywne elektrycznie. Odzwierciedleniem aktywności ośrodków w mózgu jest rozkład potencjałów na powierzchni skóry głowy oraz pola magnetycznego w przestrzeni dookoła głowy. W niniejszym artykule opisane zostały modele ośrodków aktywnych i różne metody modelowania głowy, jako przewodnika objętościowego, dla potrzeb lokalizacji ośrodków pobudzenia w mózgu na podstawie zapisów EEG lub MEG. Omówiono zalety i niedostatki poszczególnych modeli. Przedstawiono model złożony z elementów przestrzennych, pozwalający na dokładnie odzwierciedlenie zarówno anizotropii, jaki i niejednorodności przewodności elektrycznej tkanek. Model taki pozwala na osiągnięcie bardzo dobrej dokładności lokalizacji ośrodków pobudzenia w mózgu. W Instytucie Inżynierii Precyzyjnej i Biomedycznej Politechniki Warszawskiej powstało oprogramowanie do tworzenia modeli głowy na podstawie obrazów przekrojów mózgu. Oprogramowanie to pozwala tworzyć realistyczne modele głowy, których parametry mogą być ustalane przez użytkownika dla każdego indywidualnego przypadku oraz uwzględnianie elektrycznych właściwości tkanek głowy. Przedstawiono również możliwości spektroskopii i tomografii elektroimpedancyjnej.
The brain with its surrounding tissues is a multicompartment electrical conductor. The activity is observed as distribution of electric potentials on a scalp and as magnetic field over the head. The different methods of head modelling for a localization of the active sources within the brain based on EEG or MEG recordings are discussed in this article as well as the advantages and drawback of the described models. A model consisting of the volume elements was presented which can take into account an anisotropy and the inhomogeneities of the tissues. This can significantly increase an accuracy of the localization of the active sources within the brain. A computer program to construct the models of the head from the images of the brain slices was elaborated in Institute of Prec. and Biomedical Engineering. The program enables creation the models with parameters which can be set by a user for every individual case and which are conformable to a growing knowledge about the electrical properties of the head tissues. The application of the electroimpedance tomography for tissue characterisation is also presented.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2006, R. 52, nr 11, 11; 15-19
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Mikroprocesorowy miernik impedancji pętli zwarciowej eliminujący wpływ odkształcenia napięcia przez regulację argumentu obciążenia pomiarowego
Microprocessor fault loop impedance meter eliminating the influence of voltage distortion by adjusting the load impedance argument
Autorzy:
Roskosz, R.
Świsulski, D.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/155959.pdf
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
fault loop impedance
measurement
distorted voltage waveform
electrical shock protection
impedancja pętli zwarciowej
pomiary
napięcie odkształcone
ochrona przeciwporażeniowa
Opis:
W artykule przedstawiono problematykę pomiaru impedancji pętli zwarciowej w sieciach o napięciu odkształconym. Zaproponowano metodę pomiaru impedancji pętli eliminującą wpływ odkształcenia napięcia i zbudowano mikroprocesorowy miernik, który ją wykorzystuje. W mierniku zastosowano impedancyjne obciążenie pomiarowe o stałej wartości modułu i regulowanym automatycznie argumencie. Przy zrównaniu argumentu impedancji obciążenia pomiarowego do wartości argumentu impedancji pętli, w pełni eliminuje się wpływ wszystkich harmonicznych występujących w krzywej napięcia sieci, a wynik pomiaru zależy od największej różnicy wartości skutecznych mierzonych napięć.
The paper presents the problem of measuring the fault loop impedance in networks with a distorted voltage waveform. When testing effectiveness of a protective earthing system, it is necessary to know the measured value of the fault loop impedance. An accurate loop impedance measurement is needed for reliable operation of protective devices and, consequently, for the safety of human beings and apparatus. The measurement accuracy depends on the parameters of the tested circuit, the disturbances within the supplying system, and the measuring method and instrument used. Most present-day techniques for measurement of the fault loop impedance are based on determination of the voltage drop across the loop impedance when a known value measuring load impedance is switched ON and OFF between the conductors being tested. The loop impedance meters and methods which are used today may cause a large error in the measured impedance value due to reactance in the tested network and the distortion of voltage waveform. The proposed method for measuring the loop impedance eliminates the influence of voltage distortion on the measurement result. In the loop impedance meter there is used the measuring load impedance of constant magnitude and the argument adjusted automatically in steps. When the argument of load impedance equals the argument of the loop impedance, the impact of all harmonics present in the voltage waveform is eliminated, and the measurement result depends on the greatest difference of RMS measured voltages. The construction and measuring procedure of the model microprocessor loop impedance meter are simple, and the measurement result is indicated directly in ohms.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2014, R. 60, nr 8, 8; 564-567
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Wykorzystanie zależności określającej impedancję przetworników indukcyjnościowych w bezstykowych pomiarach konduktywności elektrycznej
Application of the dependence determining the inductive transducer impedance for the contactless electrical conductivity measurements
Autorzy:
Kuśmierz, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/154927.pdf
Data publikacji:
2009
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
bezstykowe pomiary konduktywności
przetwornik indukcyjnościowy
contactless measurement electrical conductivity
inductive transducer
Opis:
W pracy podano zależność określającą względną zmianę impedancji na zaciskach cewki pomiarowej przetwornika jednocewkowego spowodowaną konduktywnością badanego materiału. Przedstawiono także sposób wykorzystania odpowiednich charakterystyk otrzymanych na podstawie analizy numerycznej tej zależności w bezstykowych pomiarach konduktywności. Przetwornik był zaprojektowany do pomiaru próbek w kształcie prętów umieszczonych współosiowo z cewką.
This paper presents a dependence determining a relative change of the impedance at measurement coil terminals of the single-coil inductive transducer. The change is caused by the conductivity of the test sample, the dimensions of the sample and of the transducer coil, and the frequency of the current supplied to the excitation coil. In the literature concerning contactless measurements of conductivity of different materials with the use of inductive principle (eddy current method) [1, 3, 4], one cannot find a complete analysis of metrological properties of such transducers. An analytical formula for the processing function (11) is derived; analysis of graphs of this function in different formats (Fig. 2, 3) enables the evaluation the influence of all essential parameters of the transducer. This is a necessary step for both transducer optimization and carrying out the conductivity measurement of the investigated materials. Also, a method of the application of the appropriate characteristics (Fig. 4) obtained by means of the numerical analysis of this dependence (12, 14) in the contactless measurements of the conductivity has been shown. The transducer was designed for the measurements of rod-shaped samples when inserted coaxially with the coil.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2009, R. 55, nr 9, 9; 758-761
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Stanowisko do pomiarów wybranych parametrów elektrycznych linii transmisyjnej
Stand for measurement of selected parameters of electrical transmission line
Autorzy:
Leśnikowski, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/157578.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
pomiary linii transmisyjnych
reflektometria TDR/TDT
impedancja falowa
prędkość propagacji
transmission line measurement
TDR/TDT reflectometry
characteristic impedance
propagation velocity
Opis:
W artykule przedstawiono sposób wykonania pomiarów wybranych parametrów wysokoczęstotliwościowych linii transmisyjnych metodą reflektometrii w dziedzinie czasu z wykorzystaniem szybkiego oscyloskopu cyfrowego, generatora skoku jednostkowego oraz przyrządu wirtualnego wykonanego za pomocą programu LabVIEW. Przedstawiono teoretyczne podstawy metody reflektometrycznej. Podano wstępne, przykładowe pomiary wybranych parametrów elektrycznych testowanej linii transmisyjnej. Omówiono sposób oszacowania niepewności pomiaru jednego ze zmierzonych parametrów - prędkości propagacji.
The paper presents a measuring stand for measurement of selected parameters of high frequency transmission lines by reflectometry method in time domain using a fast oscilloscope, voltage step generator and a virtual instrument constructed in LabVIEW. The theoret-ical foundations of the reflectometry method are presented. The paper describes a construction of stand for reflectometry measurement [Fig.2]. The stand uses a sampling oscilloscope, a fast voltage step generator and fast voltage divider. The paper also describes preliminary sample measurements of selected parameters of the tested electrical transmission line. Fig. 4 shows voltage wave, generated by voltage step generator, reflected from H155 coaxial cable with open, short circuit termination and terminated by 50 ? load. The paper also discusses, how to estimate the measurement uncertainty of the speed of propagation. As a result of first mea-surements it was found that the rise time value in the reflectometry system affects not only the resolution of the measurement results, but also the uncertainty propagation velocity and a dielectric constant of substrate of the transmission line. Fig.5 shows measurement of the pulse shape deviation from a rectangular. The proposed method is based on two measurements: tmin and tmax. These values determine the area of velocity results caused by deviation of the measured pulse from the rectangular shape. The table 1 shows uncertainty budget for cable of length 994 mm and tmin i tmax times for tested H155 cable. For measured times tmax i tmin the velocity of propagation Vpmin and Vpmax was computed. From equation (10) the combined uncertainty was computed. The results are presented in the table 2. The range comprising the true value of propagation velocity, according to the assumptions made, there is shown in Figure 6 (part A).
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2010, R. 56, nr 9, 9; 1085-1088
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-4 z 4

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies