Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "Mikrokontrolery" wg kryterium: Wszystkie pola

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-9 z 9
    Tytuł:
    Komputerowy system wspomagający walidację kanałów pomiarowych wykorzystujących mikrokontrolery AVR ATmega16
    Computer Aided Measurement Channel Validation System for measurement modules with AVR ATmega microcontrollers
    Autorzy:
    Tabisz, R. A.
    Olearczyk, M.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/151740.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    walidacja
    kanały pomiarowe
    mikrokontrolery
    ocena dokładności
    validation
    measurement channels
    microcontrollers
    accuracy evaluation
    Opis:
    Uzasadniono potrzebę tworzenia komputerowych systemów wspomagających walidację kanałów pomiarowych wykorzystujących mikrokontrolery. Zaprezentowano ogólną koncepcję takiego systemu. Opisano opracowany i uruchomiony prototyp przeznaczony do walidacji kanałów pomiarowych wykorzystujących mikrokontrolery AVR ATmega 16. Prototyp ten składa się z części sprzętowej i oprogramowania.
    In the paper the need for creation of computer systems for supporting the validation of measurement channels using microcontrollers is justified. The general concept of such a system is presented. There is described the developed and implemented prototype, designed for validation of measurement channels using AVR ATmega16 microcontrollers. This prototype consists of two parts: hardware and software. The hardware is composed of a base which enables creation of the circuit (PS) for measurement signal processing and a module (RW) performing reconstruction of the numerical value of the measured quantities by means of an AVR ATmega16 microcontroller and a PC computer. The software master is called UMD and is written in C#. The slave software is embedded in the microcontroller memory and works with UMD application. The results of preliminary tests of the reconstruction unit (RW) obtained when the AVR microcontroller ATmega16 worked as a frequency counter in the range 0-2 MHz are presented. There are also given the results of preliminary tests obtained in a situation where the same module worked as a DC voltmeter in the range of 0-5 V. The concept of building a system designed to validate the measurement channels using ATmega16 AVR microcontrollers can be successfully applied to other types of microcontrollers.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2012, R. 58, nr 11, 11; 923-926
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Symulacja błędów przemijających w mikrokontrolerze satelitarnym
    Transient fault simulation in a satellite microcontroller
    Autorzy:
    Iwiński, M.
    Sosnowski, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/155157.pdf
    Data publikacji:
    2011
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    systemy wbudowane
    mikrokontrolery
    symulacja błędów
    niezawodność
    embedded systems
    microcontrollers
    fault simulation
    reliability
    Opis:
    W wielu zastosowaniach mikrokontrolerów należy brać pod uwagę wpływ na ich pracę błędów przemijających (zakłócenia elektromagnetyczne, promieniowanie kosmiczne itp.). Artykuł przedstawia metodę badania odporności na błędy przemijające w mikrokontrolerach. Bazuje ona na opracowanej platformie symulatora sprzężonego z obiektem badanym poprzez interfejs RS232C. Technika ta została zweryfikowana w badaniu mikrokon-trolera przeznaczonego do sterowania zasilaniem pokładowym satelity. W artykule przedstawiono wyniki eksperymentów oraz wskazano możliwości programowego zwiększania odporności na błędy.
    In many microcontroller applications the impact of transient faults (electromagnetic disturbances, cosmic radiation, etc.) on their operation has to be taken into account. The paper presents a new methodology of testing transient fault robustness in microcontrollers. It is based on the developed fault injection platform which is coupled to the tested object via RS 232C interface. A tested object (microcontroller) cooperates with real or modelled environment (partially controlled by a simulator). This technique has been successfully applied to testing a microcontroller used for managing the satellite on-board power subsystem (solar cells, batteries, power accumulation and distribution), Many transient fault simulation experiments have been performed and their results interpreted. In particular, there has been analysed the impact of faults on correct control flow of the program. Some simple fault detection and error recovery mechanisms have been included in the considerations. The presented methodology can be easily extended for other microcontrollers and communication interfaces. Time and code overheads are negligible so the simulation results are quite realistic.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2011, R. 57, nr 8, 8; 822-824
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Gas-flow computer with SBST
    Komputerowy przelicznik przepływu gazu z wbudowanym SBST
    Autorzy:
    Mosdorf, M.
    Grochowski, K.
    Sosnowski, J.
    Gawkowski, P.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/156571.pdf
    Data publikacji:
    2012
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    systemy wbudowane
    mikrokontrolery
    symulacja błędów
    niezawodność
    embedded systems
    microcontrollers
    fault simulation
    reliability
    Opis:
    The paper deals with the problem of improving dependability in industrial embedded systems. This problem is considered in relevance to the developed gas flow computer. It is implemented around ARM microcontroller which performs complex measurements and calculations of gas flow with embedded software based self-test mechanisms (SBST) assuring fault detection and fault handling. These mechanisms do not interfere with the normal operation neither in time nor in space. The effectiveness of these approaches has been practically verified in specialised experiments.
    Ostatnio obserwuje się coraz większe zainteresowanie inteligentnymi urządzeniami pomiarowymi. Wykorzystują one bardzo wydajne mikroprocesory lub mikrokontrolery i złożone oprogramowanie. Urządzenia te zwykle pracują w środowisku przemysłowym lub otwartym terenie, gdzie są narażone na różne zakłócenia (elektromagnetyczne, termiczne, niestabilne zasilanie itp.). Stąd istotnym jest zapewnienie dużej wiarygodności ich pracy. Problem ten uwidocznił się w produkowanych przelicznikach gazu ziemnego [9]. Dane producenta wskazują na 8% problemów serwisowych (rozdz. 2). Autorzy podjęli się rozwiązania tego problemu poprzez opracowanie programowych mechanizmów autotestowania (SBST) zintegrowanych z oprogramowaniem operacyjnym urządzeń pomiarowych. Pozwalają one monitorować w sposób ciągły (rys. 1) poprawność pracy urządzenia (rozdz. 3). W szczególności wbudowano mechanizm kontroli poprawności i autonaprawy kodu przelicznika, obsługę sytuacji wyjątkowych, autotestowanie krytycznych procedur spreparowanymi zestawami danych itd. (rozdz. 3). Pozwalają one na detekcję zarówno błędów przemijających (i ograniczone ich tolerowanie) jak i błędów trwałych. Efektywność tego rozwiązania została zweryfikowana przy wykorzystaniu techniki symulacji błędów ([1, 3]) oraz generowanie logów operacyjnych i liczników zastosowanych w nowym prototypie przelicznika. W porównaniu z innymi przelicznikami gazu osiągnięto istotną poprawę wiarygodności (rozdz. 4). Przedstawione mechanizmy mogą być zastosowane również w innych urządzeniach z mikrokontrolerami.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2012, R. 58, nr 7, 7; 665-667
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Fault injection in embedded systems using GNU Debugger
    Symulacja błędów w systemach wbudowanych z wykorzystaniem GDB
    Autorzy:
    Mosdorf, M.
    Sosnowski, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/155163.pdf
    Data publikacji:
    2011
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    symulacja błędów
    interfejs JTAG
    projekt GDB
    mikrokontrolery
    fault injection
    JTAG interface
    GDB project
    microcontrollers
    Opis:
    The paper presents the technique of simulating faults in embedded systems. It consists of PC software that performs fault injection through the JTAG interface controlled by GNU Debugger (GDB) server for a chosen platform. This approach can be easily adopted to various platforms due to a wide support of GDB project for many architectures. The experimental results for ARM architecture show high controllability of the fault injection process and measured time overhead in the implemented injector.
    Praca przedstawia technikę symulacji błędów dla systemów wbudowanych wykorzystującą interfejs JTAG sterowany za pomocą oprogramowania "GNU Debugger" przygotowanego dla danej platformy mikro-procesorowej. Opracowana architektura symulatora błędów została przedstawiona na rys. 1. Zaprezentowane rozwiązanie umożliwia symulację błędów typu bit-flip oraz błędów trwałych za pomocą mechanizmów breakpoint oraz watchpoint. Obserwacja wyników symulacji została zrealizowana za pomocą programowego mechanizmu breakpoint. W ramach pracy zweryfikowano koncepcję dla współczesnych mikroprocesorów z rdzeniem ARM7TDMI oraz zaprezentowano rezultaty symulacji błędów dla wybranych obszarów pamięci SRAM oraz rejestru PC procesora. Podejście to może być łatwo dostosowane do różnych platform systemów wbudowanych wspieranych przez projekt GDB. Przeprowadzone eksperymenty symulacyjne potwierdziły ich dużą sterowalność. W pracy przedyskutowano również efektywność opracowanej metody symulacji błędów oraz przedstawiono wyniki pomiarów opóźnień związanych z symulacją błędów oraz obserwacją wykonywania programu wynoszące odpowiednio 52ms i 42ms.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2011, R. 57, nr 8, 8; 825-827
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Wykorzystanie logiki rozmytej do diagnostyki uszkodzeń części analogowych w elektronicznych systemach wbudowanych
    Application of fuzzy logic to fault diagnosis of analog parts in electronic embedded systems
    Autorzy:
    Czaja, Z.
    Załęski, D.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/157610.pdf
    Data publikacji:
    2007
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    diagnostyka uszkodzeń
    BIST
    logika rozmyta
    mikrokontrolery
    elektroniczne systemy wbudowane
    fault diagnosis
    fuzzy logic
    microcontrollers
    electronic embedded systems
    Opis:
    W pracy przedstawiono nowe podejście zastosowania modelowania rozmytego do diagnostyki uszkodzeń części analogowej elektronicznych systemów wbudowanych mieszanych sygnałowo przy wykorzystaniu środków programowych i sprzętowych mikrokontrolera sterującego systemem. Zaprezentowano sposób tworzenia słownika uszkodzeń, najważniejsze parametry rozmytych modeli detekcji i lokalizacji uszkodzeń oraz opis działania programowego procesora logiki rozmytej.
    This paper presents employing the fuzzy modeling for faults diagnostic in analog parts of electronic mixed-signal embedded systems utilizing soft and hardware resources of microcontrollers that control these systems. The article introduces additionally the way of creating the fault dictionary, characterizes main parameters of fuzzy faults detection and localisation models and describes the manner of operating on the fuzzy soft decision processor.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9 bis, 9 bis; 735-738
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Realizacja samo-testowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych z wykorzystaniem mikrokontrolerów rodziny XMEGA A
    Realization of self-testing of analog parts of electronic embedded systems based on XMEGA A family microcontrollers
    Autorzy:
    Czaja, Z.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/157716.pdf
    Data publikacji:
    2013
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    mikrokontrolery
    przetworniki A/C
    samotestowanie
    układy BIST
    microcontrollers
    ADCs
    self-testing
    measurement
    BISTs
    Opis:
    Przedstawiono mikrosystem pomiarowy zbudowany z zasobów sprzętowych mikrokontrolera ATXmega32A4 pełniący funkcję układu testera wbudowanego przeznaczonego do samotestowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych. Samotestowanie opiera się na metodzie diagnostycznej, w której układ badany pobudzany jest impulsem prostokątnym, a jego odpowiedź czasowa próbkowana przez przetwornik A/C mikrokontrolera. Licznik mikrokontrolera ustala czas trwania impulsu oraz momenty próbkowania.
    A measurement microsystem based on hardware resources of the ATXmega32A4 microcontroller working as a BIST (Built-in Self Tester) used for self-testing of analog parts of embedded electronic systems is presented in the paper. Self-testing is based on the fault method [5], in which a tested analog part is stimulated by a single square pulse and its time response is sampled K times (K = 3) by the ADC (Analog to Digital Converter) (Fig. 1). A microcontroller timer determines the duration time of the square pulse and sets the sample moments of the ADC. The self-testing approach consists of: the pre-testing stage of fault dictionary creation (the fault dictionary has the form of a family of identification curves (Fig. 2)), the measurement procedure and the fault classification procedure. The proposed BIST consists of one timer working in the Compare Mode, an event system and a 12-bit ADC of the microcontroller (Fig. 3). The events generated by channels CHA, CHB and CHC compare matches of the timer are routed via the event system to the ADC (Fig. 7). They trigger measurements on three ADC channels CH0, CH1 and CH2 adequately (Fig. 4). The channel CHD compare match event is used to set up the duration time of the stimulant pulse. The BIST works according to the measurement procedure whose timing is shown in Fig. 5 and the algorithm in Fig. 6. The main advantages of the presented solution are better BIST parameters and the simpler measurement algorithm in comparison to the previous solutions [5-7].
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2013, R. 59, nr 4, 4; 368-371
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów
    Fault localization in analog parts of embedded electronic systems taking into account tolerances of elements
    Autorzy:
    Czaja, Z.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/153112.pdf
    Data publikacji:
    2007
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    detekcja i lokalizacja uszkodzeń
    samotestowanie
    BIST
    elektroniczne systemy wbudowane
    mikrokontrolery
    fault detection and localization
    self-testing
    electronic embedded systems
    microcontrollers
    Opis:
    W artykule przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń parametrycznych elementów pasywnych w częściach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację uszkodzeń w układach z tolerancjami. W części pomiarowej metody badany układ pobudzany jest impulsem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez wewnętrzny przetwornik A/C mikrokontrolera. Następnie mikrokontroler wykonuje detekcję i lokalizację uszkodzeń opierając się na algorytmie bazującym na słowniku uszkodzeń, wygenerowanym na podstawie rodziny pasów lokalizacyjnych opisującej właściwości układu badanego.
    In the paper the new method of soft fault detection and localisation of passive elements in analog parts of electronic embedded systems controlled by microcontrollers is presented. The method enables to detect and to localize faults in circuits with tolerances. In the measurement part of the method the tested circuit is stimulated by a square impulse generated by the microcontroller, and its response is sampled by the internal ADC of the microcontroller. Next, the microcontroller realizes the fault detection and localisation according to the algorithm, which bases on the fault dictionary. The fault dictionary was generated from the family of localisation belts, which describes proprieties of the tested circuit.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9 bis, 9 bis; 731-734
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Nowe zastosowania sygnałów komplementarnych o projektowanych kształtach do testowania elektronicznych systemów wbudowanych
    The new application of shape-designed complementary signals for diagnostic of electronic embedded systems
    Autorzy:
    Załęski, D.
    Bartosiński, B.
    Zielonko, R.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/151489.pdf
    Data publikacji:
    2007
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    testowanie
    elektroniczne systemy wbudowane
    sygnały komplementarne
    projektowanie kształtu sygnału
    mikrokontrolery
    testing
    electronic embedded systems
    complementary signals
    shape design of signals
    microcontrollers
    Opis:
    W pracy przedstawiono koncepcję zastosowania sygnałów komplementarnych o projektowanych kształtach do testowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych, za pomocą BISTów wykorzystujących ograniczone środki mikrokontrolera sterującego. Istotą metody jest pobudzanie układu testowanego sygnałem komplementarnym o specjalnie zaprojektowanym kształcie, którego parametry są dopasowane do nominalnych położeń biegunów transmitancji układu. Wyzerowanie sygnału odpowiedzi w określonym przedziale czasu po zakończeniu pobudzenia świadczy o sprawności układu. Zaprezentowano wyniki badań symulacyjnych oraz weryfikacji praktycznej metody na przykładzie dolnoprzepustowego filtru 2 i 4 rzędu.
    The article presents the idea of using the shape-designed complementary signals for testing analog parts of electronic mixed-signal embedded systems employing limited resources of microcontroller that controls the system. The essence of the proposed method is stimulation of Circuit Under Test (CUT) with particular shape-designed complementary signal which parameters are matched to the nominal position of circuit transmittance poles. Vanishing the CUT response in time and after the moment of finishing the stimulation indicates absence of faults. The paper presents results of simulation researches and practical verification of the method on examples of 2nd and 4th order low-pass filters.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9 bis, 9 bis; 739-742
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Architektura sterowania równoległym manipulatorem Hexa na bazie mikrokontrolerów rodziny SAM7S
    Hexa parallel robot control architecture based on SAM7S microcontrollers family
    Autorzy:
    Fedus, A.
    Osypiuk, R.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/155074.pdf
    Data publikacji:
    2010
    Wydawca:
    Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
    Tematy:
    Manipulator Hexa
    zamknięty łańcuch kinematyczny
    mikrokontrolery ARM
    otwarte architektury sterowania
    układy wbudowane
    Hexa manipulator
    closed kinematic chain
    ARM microcontrollers
    open control architectures
    embedded systems
    Opis:
    W niniejszym artykule przedstawiono założenia projektowe oraz realizację otwartej architektury sterowania dla równoległego manipulatora Hexa, w oparciu o 32-bitowe mikrokontrolery z rdzeniem ARM7 TDMI. W projekcie sterownika o niewielkich gabarytach, niskim koszcie i wydajności zbliżonej do rozwiązań komercyjnych wzięto pod uwagę wydajność obliczeniową zastosowanych procesorów. Dla uzyskania lepszych osiągów proces sterowania został podzielony na kilka zadań realizowanych przez cztery procesory. Prezentowane wyniki prac mogą posłużyć jako interesujące wskazówki dla projektantów zarówno prostych jak i złożonych systemów sterowania w mechatronice.
    In this paper was presented assumptions and implementation of Hexa parallel robot control architecture based on 32-bit microcontrollers with ARM7 TDMI core. In developing low-cost controller of small size, and performances similar to commercial solutions the processors capacity was took into account. For better performance process of control was divided into few tasks which were computed on four processors (Fig. 2). Furthermore there was presented implementation of angular position digital controller (Fig. 5) with respect to the noise influence for control quality. The most difficult problem was to find solution of inverse kinematics with respect to the limited processors capacity. Although the direct kinematics in closed-loop architecture is often complex, the inverse kinematics is very simple. In first step the transform matrices which describe transformation from coordinate systems combined with platform to coordinate systems combined with active joints were found. Last step demonstrates how to find angles in every active joint using geometrical method (Fig. 8). Presented results may be used as helpful hints in developing simple or more complex control systems in mechatronics.
    Źródło:
    Pomiary Automatyka Kontrola; 2010, R. 56, nr 6, 6; 581-584
    0032-4140
    Pojawia się w:
    Pomiary Automatyka Kontrola
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-9 z 9

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies