Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "InGaN" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Influence of InGaN waveguide on injection efficiency in III-nitride laser diodes
Autorzy:
Hajdel, Mateusz
Muzioł, Grzegorz
Nowakowski-Szkudlarek, Krzesimir
Siekacz, Marcin
Wolny, Paweł
Skierbiszewski, Czesław
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/173219.pdf
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:
InGaN
laser diode
waveguide
injection efficiency
Opis:
The influence of using InGaN waveguides on blue laser diodes was theoretically studied using 1D drift diffusion model and 2D optical mode calculation. Despite of the known effect of increased confinement of an optical mode, especially for long wavelengths, an unexpected influence on the efficiency of carrier injection into the active region is discussed. It is found that InGaN-AlGaN interface is crucial to achieving high injection efficiency. A numerical model is created, which describes the influence of InGaN waveguide and Mg doping of electron blocking layer on basic properties of laser diodes. It is found that an increase of injection efficiency allows to reduce the doping level in an electron blocking layer and take advantage of decreased optical losses.
Źródło:
Optica Applicata; 2020, 50, 2; 311-321
0078-5466
1899-7015
Pojawia się w:
Optica Applicata
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Electroluminescence of InGaN/GaN heterostructures at the reverse bias and nitrogen temperature
Autorzy:
Veleschuk, V
Vlasenko, A
Kisselyuk, M
Vlasenko, Z
Khmil, D
Borshch, V
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/174776.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Politechnika Wrocławska. Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Tematy:
electroluminescence at reverse bias
InGaN/GaN heterostructures
defect
Opis:
The electroluminescence spectra at reverse biases in LED InGaN/GaN heterostructures at liquid nitrogen temperatures were studied. At the reverse bias and T = 77 K, avalanche microplasmas breakdowns were observed. Electroluminescence spectra demonstrate two peaks caused by the recombination of carriers in different parts of the structure (quantum well and p-GaN layer). The temperature narrowing the half-width and the shift of electroluminescence spectra peaks inherent to microplasmas were observed.
Źródło:
Optica Applicata; 2015, 45, 4; 535-543
0078-5466
1899-7015
Pojawia się w:
Optica Applicata
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies