Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "wavelength" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Measurement system based on multi-wavelength interferometry for long gauge block calibration
Autorzy:
Wengierow, M.
Salbut, L.
Ramotowski, Z.
Szumski, R.
Szykiedans, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/220647.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
gauge block
multi-wavelength
interferometry
Opis:
This paper shows the result of work of the Institute of Micromechanics and Photonics at Warsaw University of Technology and the Length and Angle Division of Central Office of Measures (GUM) [1] in building an automatic multiwavelength interferometric system with extended measurement range for calibration of long (up to 1 m) gauge blocks. The design of a full working setup with environmental condition control and monitoring systems, as well as image analysis software, is presented. For length deviation determination the phase fraction approach is proposed and described. To confirm that the system is capable of calibrating gauge blocks with assumed accuracy, a comparison between the results of 300 mm length gauge block measurement obtained by using other systems from the Central Office of Measures is made. Statistical analysis proved that the system can be used for high precision measurements with assumed standard uncertainty (125 nm for a length of 1 m). Finally the comparison between our results obtained for a long gauge block set (600 mm to 1000 mm long) and previous calibrations made by the Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB) [2] is shown.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2013, 20, 3; 479-490
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Laser diode distance measuring interferometer - metrological properties
Autorzy:
Dobosz, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/221882.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
diode laser
wavelength stabilization
interferometer
interferometer distance measurement
Opis:
A novel laser diode based length measuring interferometer for scientific and industrial metrology is presented. Wavelength the stabilization system applied in the interferometer is based on the optical wedge interferometer. Main components of the interferometer such as: laser diode stabilization assembly, photodetection system, measuring software, air parameters compensator and base optical assemblies are described. Metrological properties of the device such as resolution, measuring range, repeatability and accuracy are characterized.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2012, 19, 3; 553-564
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies