Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Deng, W." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Diagnosis of incipient faults in nonlinear analog circuits
Autorzy:
Deng, Y.
Shi, Y.
Zhang, W.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/220611.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
nonlinear circuits
fault diagnosis
Volterra series
fractional correlation
hidden Markov model (HMM)
Opis:
Considering the problem to diagnose incipient faults in nonlinear analog circuits, a novel approach based on fractional correlation is proposed and the application of the subband Volterra series is used in this paper. Firstly, the subband Volterra series is calculated from the input and output sequences of the circuit under test (CUT). Then the fractional correlation functions between the fault-free case and the incipient faulty cases of the CUT are derived. Using the feature vectors extracted from the fractional correlation functions, the hidden Markov model (HMM) is trained. Finally, the well-trained HMM is used to accomplish the incipient fault diagnosis. The simulations illustrate the proposed method and show its effectiveness in the incipient fault recognition capability.
Źródło:
Metrology and Measurement Systems; 2012, 19, 2; 203-218
0860-8229
Pojawia się w:
Metrology and Measurement Systems
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies