- Tytuł:
-
Microstructure and phase composition of the Ni-Si-B-Ag-based plasma spray deposit
Mikrostruktura i skład fazowy natryskiwanego plazmowo stopu na osnowie niklu, krzemu, boru i srebra - Autorzy:
-
Ziewiec, K.
Wojciechowska, M.
Jasiński, M.
Mucha, D.
Lis, M. - Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/263986.pdf
- Data publikacji:
- 2016
- Wydawca:
- Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydawnictwo AGH
- Tematy:
-
amorphous/crystalline composites
plasma spray
MWIR
scanning electron microscope (SEM)
XRD (X ray diffraction)
kompozyty amorficzno-krystaliczne
natryskiwanie plazmowe
kamera termowizyjna średniej podczerwieni
SEM
dyfrakcja rentgenowska - Opis:
-
The aim of this work is to study the possibility of obtaining an amorphous-crystalline composite starting from Ni-Si-B-based powder grade 1559-40 and silver powder. The process of plasma spray deposition was performed on a water-cooled copper substrate. The cooling rate was assessed using a mid-wave infrared MWIR camera. The microstructure of the deposit was studied using scanning electron microscope SEM with an energy dispersive spectrometer EDS. Phase identification was performed using X-ray diffraction XRD. The studies confirmed an amorphous-crystalline microstructure of the deposits. The predominant constituent of the microstructure was amorphous regions enriched in Ni, Si, and B, while the other constituent was Ag-rich crystalline inclusions identified as a face-centered cubic fcc.
Celem pracy było zbadanie możliwości uzyskania kompozytu amorficzno-krystlicznego przy wykorzystaniu proszku na osnowie niklu, krzemu i boru gatunku 1559-40 oraz proszku srebra. Proces natryskiwania plazmowego przeprowadzono na płytce miedzianej chłodzonej wodą. Szybkość chłodzenia oszacowano za pomocą kamery termowizyjnej pracującej w zakresie środkowej podczerwieni. Mikrostruktura stopu uzyskanego po natrysku była badana za pomocą skaningowego mikroskopu elektronowego SEM wyposażonego w spektrometr z dyspersją energii promieniowania rentgenowskiego. Identyfikację fazową przeprowadzono przy użyciu dyfrakcji rentgenowskiej XRD. Badania potwierdziły występowanie amorficzno-krystalicznej mikrostruktury w otrzymanych powłokach. Dominującym składnikiem mikrostruktury były obszary bogate w nikiel, krzem i bor, jednak obserwowano także krystaliczne wtrącenia srebra o strukturze regularnej ściennie centrowanej. - Źródło:
-
Metallurgy and Foundry Engineering; 2016, 42, 2; 87-94
1230-2325
2300-8377 - Pojawia się w:
- Metallurgy and Foundry Engineering
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł