Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Domanski, J." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Network-on-Multi-Chip (NoMC) with Monitoring and Debugging Support
Autorzy:
Łuczak, A.
Stępniewski, M.
Siast, J.
Domański, M.
Stankiewicz, O.
Kurc, M.
Konieczny, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/307888.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:
debugging
FPGA
multi-chip
video coding
Opis:
This paper summarizes recent research on network-on-multi-chip (NoMC) at Poznań University of Technology. The proposed network architecture supports hierarchical addressing and multicast transition mode. Such an approach provides new debugging functionality hardly attainable in classical hardware testing methodology. A multicast transmission also enables real-time packet monitoring. The introduced features of NoC network allow to elaborate a model of hardware video codec that utilizes distributed processing on many FPGAs. Final performance of the designed network was assessed using a model of AVC coder and multi-FPGA platforms. In such a system, the introduced multicast transmission mode yields overall gain of bandwidth up to 30%. Moreover, synthesis results show that the basic network components designed in Verilog language are suitable and easily synthesizable for FPGA devices.
Źródło:
Journal of Telecommunications and Information Technology; 2011, 3; 81-86
1509-4553
1899-8852
Pojawia się w:
Journal of Telecommunications and Information Technology
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
A versatile tool for extraction of MOSFETs parameters
Autorzy:
Tomaszewski, D.
Kociubiński, A.
Marczewski, J.
Kucharski, K.
Domański, K.
Grabiec, P.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/308856.pdf
Data publikacji:
2005
Wydawca:
Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:
MOSFETs parameters
SPICE
least squares method
Opis:
Extraction of MOSFET parameters is a very important task for the purposes of MOS integrated circuits characterization and design. A versatile tool for the MOSFET parameter extraction has been developed in the Institute of Electron Technology (IET). It is used to monitor the technologies applied for fabrication of several groups of devices, e.g., CMOS ASICs, SOI pixel detectors. At present two SPICE MOSFET models (LEVEL = 1, 2) have been implemented in the extraction tool. The LEVEL = 3 model is currently being implemented. The tool combines different methods of parameter extraction based on local as well as global fitting of models to experimental data.
Źródło:
Journal of Telecommunications and Information Technology; 2005, 1; 129-134
1509-4553
1899-8852
Pojawia się w:
Journal of Telecommunications and Information Technology
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
TSSOI as an efficient tool for diagnostics of SOI technology in Institute of Electron Technology
Autorzy:
Barański, M.
Domański, K.
Grabiec, P.
Grodner, M.
Jaroszewicz, B.
Kociubiński, A.
Kucewicz, W.
Kucharski, K.
Marczewski, J.
Niemiec, H.
Sapor, M.
Tomaszewski, D.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/308825.pdf
Data publikacji:
2005
Wydawca:
Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:
SOI CMOS technology
pixel detector
test structure
Opis:
This paper reports a test structure for characterization of a new technology combining a standard CMOS process with pixel detector manufacturing technique. These processes are combined on a single thick-_lm SOI wafer. Preliminary results of the measurements performed on both MOS SOI transistors and dedicated SOI test structures are described in detail.
Źródło:
Journal of Telecommunications and Information Technology; 2005, 1; 85-93
1509-4553
1899-8852
Pojawia się w:
Journal of Telecommunications and Information Technology
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies