Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Thin Film" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Real-time monitoring of cell cultures with nickel comb capacitors
Monitorowanie hodowli komórkowych w czasie rzeczywistym przy zastosowaniu niklowych kondensatorów grzebieniowych
Autorzy:
Kociubiński, Andrzej
Zarzeczny, Dawid
Szypulski, Maciej
Wilczyńska, Aleksandra
Pigoń, Dominika
Małecka-Massalska, Teresa
Prendecka, Monika
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/408219.pdf
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
Tematy:
BioMEMS
ECIS
nickel
thin film
nikiel
cienka warstwa
Opis:
The aim of the study was to present a method for assessing the condition of cell culture by measuring the impedance of cells cultured in the presence of nickel. For this purpose, an impedance measurement technique using nickel comb capacitors was used. The capacitor electrodes were made using a thin film magnetron sputtering. In the experimental part, the culture of cells of mouse fibroblasts on the prepared substrate was performed. The cell culture lasted 43 hours and showed that the presented technique allows it to be used to analyze the effect of nickel on cells.
Celem pracy było przedstawienie metody oceny stanu hodowli komórkowej poprzez pomiar impedancji komórek hodowanych w obecności niklu. W tym celu zastosowano technikę pomiaru impedancji z wykorzystaniem niklowych kondensatorów grzebieniowych. Cienkowarstwowe elektrody kondensatora wykonano metodą rozpylania magnetronowego. W części eksperymentalnej przeprowadzono hodowlę komórek mysich fibroblastów na przygotowanym podłożu. Hodowla komórkowa trwała 43 godziny i wykazała, że przedstawiona technika mogłaby być zastosowana do analizy wpływu niklu na komórki.
Źródło:
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska; 2020, 10, 2; 32-35
2083-0157
2391-6761
Pojawia się w:
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Determination of the structural state and stability of the laser crystallized Cd1-xМnxTe crystal surface
Określenie postaci strukturalnej oraz stabilności powierzchni kryształu Cd1-xМnxTe krystalizowanej laserem
Autorzy:
Strebezhev, Victor
Yuriychuk, Ivan
Fochuk, Petro
Nichyi, Sergiy
Dobrovolsky, Yuriy
Tkachuk, Victoria
Sorokatyi, Mykola
Sorokatyi, Yurii
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/408440.pdf
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
Tematy:
Cd1-xMnxTe crystal
surface
laser
thin film
kryształ Cd1-xMnxTe
powierzchnia
cienka powłoka
Opis:
The modified surface layers of the Cd1-xМnxTe crystals were obtained by the laser recrystallization of the crystal surface with the use of millisecond and nanosecond impulse ruby lasers. The determination and diagnostics of the layer structural state were performed by the study of the electron channeling patterns in the SEM. The AFM studies showed that mechanically stable contact regions within the CdTe crystal –Cu film system can be formed, depending on the laser energy density and beam defocusing. On the base of the ellipsometric studies, it was found that while irradiating the Cd1-xМnxTe crystal surface, the refractive index of the oxide film on the modified surface changes depending on the laser beam energy density, which can be interpreted as the formation of the oxides of the different chemical composition.
Zmodyfikowane warstwy wierzchnie kryształów Cd1-xМnxTezostały uzyskane metodą laserowej rekrystalizacji powierzchni kryształu przy wykorzystaniu impulsów milisekundowychi nanosekundowychlaserów rubinowych. Określenie i diagnostyka strukturalnej postaci powierzchni zostały wykonane metodą badania struktury kanałów elektronu SEM. Badania AFM wykazały,że mogą zostać wytworzoneobszary mechanicznie stabilnego obszaru kontaktowego kryształ CdTe –powłoka Cu,w zależności od skupienia energii laserowejoraz zdekoncentrowania wiązki. Na podstawie pomiarów elipsometrycznychodkryto,że podczas napromieniowywania powierzchni kryształu Cd1-xМnxTe, wskaźnik refrakcyjny powłoki tlenku na powierzchni zmodyfikowanej ulega zmianie w zależności od skupienia energii wiązki laserowej, co może być interpretowane,jako powstawanie tlenków o różnym składzie chemicznym.
Źródło:
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska; 2020, 10, 1; 40-43
2083-0157
2391-6761
Pojawia się w:
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Badanie nagrzewania się filtrów chroniących przed szkodliwym promieniowaniem podczerwonym
Examination of heating process of filters protecting against hazardous infrared radiation
Autorzy:
Gralewicz, G.
Owczarek, G.
Kubrak, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/408130.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Politechnika Lubelska. Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej
Tematy:
optyka cienkowarstwowa
filtr interferencyjny
promieniowanie podczerwone
pomiary temperatury
ochrona przed promieniowaniem podczerwonym
środki ochrony oczu i twarzy
interference film
infrared radiation
thin film optics methods
infrared protection
eye and face protection
temperature measurement
Opis:
W artykule przedstawiono metodykę oraz wyniki badań zmian temperatury powierzchni filtrów ochronnych zachodzących w wyniku ekspozycji na promieniowanie podczerwone. Przeanalizowano zmiany temperatury powierzchni następujących rodzajów filtrów: absorpcyjnych, metaliczno-odbiciowych, oraz opracowanych przez autorów filtrów interferencyjnych. Analiza przedstawionych wyników badań wykazała, że jest możliwe ograniczenie wzrostu temperatury powierzchni filtrów chroniących przed szkodliwym promieniowaniem podczerwonym metodami optyki cienkowarstwowej.
This paper presents the methodology and results of changes of temperature on the surface of protective filters in place by exposure to infrared radiation. The changes of temperature on the surface of absorption filters, reflective metallic filters and metal – dielectric interference filters developed by the authors have been analyzed. As it follows from the analysis of the presented results, it is possible to reduce the temperature increase on the surface of filters protecting against hazardous IR radiation by thin film optics methods.
Źródło:
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska; 2015, 1; 62-65
2083-0157
2391-6761
Pojawia się w:
Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies