Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "detection process" wg kryterium: Wszystkie pola

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-3 z 3
    Tytuł:
    Modeling of software fault detection and correction processes with fault dependency
    Modelowanie procesów wykrywania i korekcji błędów oprogramowania z założeniem wzajemnej zależności błędów
    Autorzy:
    Peng, R.
    Zhai, Q.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/301155.pdf
    Data publikacji:
    2017
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
    Tematy:
    zależność błędów
    niejednorodny proces Poissona
    model wzrostu niezawodności oprogramowania
    procesy detekcji i korekcji błędów oprogramowania
    fault dependency
    non-homogeneous Poisson process (NHPP)
    software reliability growth model (SRGM)
    software fault detection and correction processes
    Opis:
    Software reliability modeling has undergone a continuous evolution over the past three decades to adapt to various and everchanging software testing environments. In existing models, immediate fault removal and fault independency are two basic and commonly used assumptions. Recently, models combining fault detection process (FDP) and fault correction process (FCP) were proposed to alleviate the immediate fault removal assumption. In this paper, we extend such a methodology by proposing a modeling framework for the FDP and FCP incorporating fault dependency. Faults are classified as leading faults and dependent faults and the FCPs for both types of faults are explicitly modeled. Several paired models considering different assumptions for debugging lags are proposed for the combined FDP and FCP. The applicability of the proposed models are illustrated using real testing data. In addition, the optimal software release policy under this framework is studied.
    Modelowanie niezawodności oprogramowania w ciągu ostatnich trzech dekad ulegało ciągłej ewolucji, pozwalającej dostosować je do różnych, stale zmieniających się środowisk testowych. W przypadku istniejących modeli, dwoma podstawowymi i powszechnie stosowanymi założeniami jest natychmiastowe usunięcie błędu oraz brak zależności między błędami. Ostatnio, badacze zaproponowali modele, które łagodzą pierwsze z tych założeń, łącząc proces wykrywania błędów (FDP) z procesem ich korekcji (FCP). W niniejszym artykule, rozszerzono tę metodologię, proponując paradygmat modelowania dla zintegrowanych procesów FDP i FCP uwzględniający zależności między błędami. W paradygmacie tym, błędy klasyfikuje się jako błędy nadrzędne i błędy zależne, a procesy FCP dla obu typów błędów są modelowane oddzielnie. Zaproponowano kilka połączonych w pary modeli rozważających różne założenia dotyczące opóźnień debugowania w procesach łączących detekcję i korekcję błędów. Możliwość zastosowania proponowanych modeli przedstawiono na przykładzie rzeczywistych danych testowych. Dodatkowo badano optymalną politykę aktualizacji oprogramowania, jaką można prowadzić w ramach proponowanego paradygmatu.
    Źródło:
    Eksploatacja i Niezawodność; 2017, 19, 3; 467-475
    1507-2711
    Pojawia się w:
    Eksploatacja i Niezawodność
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    Research on time-varying characteristics of testability index based on renewal process
    Badanie zmiennych w czasie własności wskaźnika testowalności na podstawie procesu odnowy
    Autorzy:
    Zhao, Z.
    Qiu, J.
    Liu, G.
    Zhang, Y.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/301370.pdf
    Data publikacji:
    2016
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
    Tematy:
    testability index
    fault detection rate
    renewal process
    test uncertainty
    statistical characteristics
    wskaźnik testowalności
    wskaźnik wykrywalności błędów
    proces odnowy
    niepewność testu
    własność statystyczna
    Opis:
    Testability indices are used in the phases of testability design and testability demonstration. This paper focuses on fault detection rate (FDR), which is the most widely used testability index. Leading hypothesis suggests that the value of FDR of a system is usually a certain value. However, few attempts have been made to research the statistical characteristics of FDR. Considering the fault occurrence process and test uncertainty, FDR is time varying and a special statistical process. Under the assumption of perfect repairs, we build a fault occurrence model based on the renewal process theory. Supposing that test uncertainty is mainly induced by test fault, the renewal process is employed to depict the occurrence process of test faults. Simultaneously, we depict the process of test state change and then construct the fault detection logic based on the digraph model. Combining the fault occurrence model and the fault detection logic, we focus on the expectation of FDR, which is one of the key statistical characteristics. By comparison, we introduce the calculation method of expectation of FDR in two cases, including without considering test uncertainty and considering test uncertainty. To validate the conclusions presented in this paper, we carry on a simulation case using an integrated controller. Based on the theoretic and simulating methods, the expectation of FDR tends to be a constant with the increase of time under the assumptions made in this paper. The statistical characteristic of FDR presented in this paper would be the basic theoretical guide to testability engineering.
    Wskaźniki testowalności wykorzystuje się w fazach projektowania oraz potwierdzania testowalności. Przedstawiony artykuł poświęcony jest wskaźnikowi wykrywalności błędów (fault detection rate, FDR), który jest najczęściej stosowanym wskaźnikiem testowalności. Wiodąca hipoteza sugeruje, że wartość FDR dla danego systemu jest zwykle wartością pewną. Istnieje jednak niewiele badań na temat statystycznych własności FDR. Biorąc pod uwagę proces występowania błędów oraz niepewność pomiarów, współczynnik FDR można opisać jako zmienny w czasie specjalny proces statystyczny. Przy założeniu naprawy doskonałej, zbudowaliśmy model występowania błędów w oparciu o teorię procesu odnowy. Przyjmując, że niepewność testową wywołują głównie błędy testowe, wykorzystaliśmy proces odnowy do zobrazowania procesu występowania błędów testowych. Jednocześnie przedstawiliśmy proces zmiany stanu testu, a następnie zbudowaliśmy logikę wykrywania błędów w oparciu o model grafu skierowanego. Łącząc model występowania błędów z logiką wykrywania błędów, opracowaliśmy metodę obliczania wartości oczekiwanej FDR, która jest jedną z najważniejszych własności statystycznych tego wskaźnika. Dla porównania, metodę obliczania wartości oczekiwanej FDR zastosowaliśmy w dwóch przypadkach, z uwzględnieniem i bez uwzględnienia niepewności testowej. Aby zweryfikować wnioski przedstawione w niniejszej pracy, przeprowadziliśmy symulację z wykorzystaniem zintegrowanego kontrolera. Obliczenia teoretyczne i symulacja pokazują, że wartość oczekiwana FDR wraz z upływem czasu staje się wartością stałą w warunkach założonych w niniejszej pracy. Przedstawiona w artykule charakterystyka statystyczna FDR stanowi jedną z podstaw teoretycznych inżynierii testowej.
    Źródło:
    Eksploatacja i Niezawodność; 2016, 18, 3; 457-468
    1507-2711
    Pojawia się w:
    Eksploatacja i Niezawodność
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
    Tytuł:
    A PLC based robust monitoring model for the labelling machine automation process
    Model odporny systemu monitorowania w automatyzacji procesu etykietowania z wykorzystaniem sterowników PLC
    Autorzy:
    Mystkowski, A.
    Karbay, V. K.
    Mystkowska, J.
    Powiązania:
    https://bibliotekanauki.pl/articles/300842.pdf
    Data publikacji:
    2014
    Wydawca:
    Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
    Tematy:
    label defects detection
    robust monitoring Stateflow® model
    labelling
    PLC
    HIL simulation
    wykrywanie wad etykiety
    model odporny monitorowania Stateflow®
    etykietowanie
    sterownik PLC
    symulacja sprzętowa HIL
    Opis:
    This paper presents a method for improving the labelling process and a robust monitoring model for the labelling machine with the purpose of reducing waste of labels and bottles.The proposed monitoring method is based on a combination of Matlab®-designed and hardware-in-the-loop (HIL) simulationas well as Arena Simulation. The method solves problems with the application of labels during the labelling stage and provides a robust monitoring algorithm that recognizes defective labels before they are stuck onto bottles.The Grafcet optimal algorithm for recognizing defective labels is executed. The Matlab®Stateflow model for monitoring and recognizing defective labels is applied. The proposed algorithms are complete, and optimized solutions are ready for implementation in the existing PLC supervisory control system. Based on HIL simulations, the proposed method ensures an increase of the total production quantity. Statistical data was collected directly from the field, classified using Statfit software, and used in Arena Simulation software to present the difference and benefits before and after using the PLC-based robust monitoring model for the labelling machine automation process.
    W pracy przedstawiono metodę poprawy procesu etykietowania oraz model odporny monitorowania uszkodzeń etykiet w celu zmniejszenia ilości odpadów etykiet i butelek. Opracowanie proponowanej metody monitorowania i wykrywania wad etykiet opiera się na wykorzystaniu kombinacji funkcji środowiska Matlab® oraz symulacji sprzętowej (ang. hardware-in-the-loop, HIL). Nowa metoda rozwiązuje problemy związane z wykrywaniem uszkodzeń przyklejanych etykiet do butelek w przemysłowej linii produkcyjnej oraz zawiera model odporny detekcji wad etykiet. Algorytm systemu monitorowania w procesie etykietowania został przedstawiony za pomocą sieci Grafcet, a następnie zrealizowany w środowisku Matlab Stateflow®. Proponowane algorytmy monitorowania/detekcji zostały zoptymalizowane pod kątem ich realizacji w istniejącym systemie sterowania opartym o programowalne sterowniki logiczne (ang. programmable logic controllers, PLCs). Przeprowadzone symulacje sprzętowe HIL pomyślnie weryfikują opracowane rozwiązania podnoszące efektywność produkcji. Zaproponowany odporny model detekcji uszkodzeń etykiet został zaimplementowany w układzie sterowania linii produkcyjnej i zweryfikowany eksperymentalnie. Zebrane dane statystyczne bezpośrednio z obiektu sterowania zostały opracowane w programie Statfit. Oprogramowanie Arena Simulation zostało wykorzystane do porównania wyników pracy linii produkcyjnej przed i po wprowadzeniu modelu wykrywania uszkodzeń etykiet.
    Źródło:
    Eksploatacja i Niezawodność; 2014, 16, 3; 383-390
    1507-2711
    Pojawia się w:
    Eksploatacja i Niezawodność
    Dostawca treści:
    Biblioteka Nauki
    Artykuł
      Wyświetlanie 1-3 z 3

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies