Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "density model" wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Reliability analysis method of coupling optimal importance sampling density and multi-fidelity Kriging model
Autorzy:
Xie, Jiayu
Tian, Zongrui
Zhi, Pengpeng
Zhao, Yadong
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/24200829.pdf
Data publikacji:
2023
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:
reliability analysis
multifidelity model
learning function
stopping condition
Opis:
The commonly used reliability analysis approaches for Kriging-based models are usually conducted based on high-fidelity Kriging models. However, high-fidelity surrogate models are commonly costly. Therefore, in order to balance the calculation expense and calculation time of the surrogate model, this paper proposes a multi-fidelity Kriging model reliability analysis approach with coupled optimal important sampling density (OISD+MFK). First, the MEI learning function is proposed considering the training sample distance, model computation cost, expected improvement function, and model relevance. Second, a dynamic stopping condition is proposed that takes into account the failure probability estimation error. Finally, the optimal importance sampling density is incorporated into the reliability analysis process, which can effectively reduce failure probability estimation error. The results of the study show that the approach proposed in this paper can reduce the calculation cost while outputting relatively accurate failure probability evaluation results.
Źródło:
Eksploatacja i Niezawodność; 2023, 25, 2; art. no. 161893
1507-2711
Pojawia się w:
Eksploatacja i Niezawodność
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Ekonomiczny model badań niezawodnościowych goi
Economic design for goi reliability tests
Autorzy:
Yang, S. F.
Chien, K. W-T
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/301087.pdf
Data publikacji:
2010
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:
minimalny rozmiar próbki
badanie V-Ramp
GOI (Nienaruszony Stan Tlenku Bramkowego)
gęstość defektów
próbkowanie losowe
rozkład dwumianowy
granice przedziału ufności
minimum sample size
V-Ramp test
GOI (Gate Oxide Integrity)
defect density
random sampling
binomial distribution
confidence bounds
Opis:
This paper studies the methods and guidelines in minimum sample size determination provided by JEDEC/ FSA joint publication and points out their drawbacks, inconsistency, and misguidance. We provide an exact method and easy-to-use numerical solution by extending JEDEC's formula to any allowed failure number, target defect density, and confi dence level. Important guidelines are also provided for reliability practitioners to reduce possible errors resulting from imperfect sampling procedures and to avoid mistakes in defect density evaluation against a target defect density (D0). Our proposed method can be applied to any reliability tests with the binomial distribution to determine a minimum sample size to save wafers and testing resources.
Niniejsza praca analizuje metody i wytyczne dotyczące wyznaczania minimalnego rozmiaru próbki podane we wspólnej publikacji JEDEC/ FSA, wskazując na ich wady, niekonsekwencje i błędne wskazówki. W artykule podajemy dokładne i łatwe w użyciu rozwiązanie, które rozciąga wzór JEDEC na wszelką dozwoloną liczbę uszkodzeń, dopuszczalną gęstość defektów i poziom ufności. Przedstawiamy również ważne wytyczne dla specjalistów w zakresie niezawodności pozwalające zredukować możliwe błędy wynikające z niedoskonałych procedur próbkowania oraz uniknąć pomyłek w ocenie gęstości defektów względem dopuszczalnej gęstości defektów (D0). Proponowana przez nas metoda może być stosowana we wszelkich testach niezawodnościowych z rozkładem dwumianowym do wyznaczania minimalnego rozmiaru próbki przy oszczędnym użyciu płytek i środków badawczych.
Źródło:
Eksploatacja i Niezawodność; 2010, 2; 79-82
1507-2711
Pojawia się w:
Eksploatacja i Niezawodność
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies