Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Wang, Z. S." wg kryterium: Wszystkie pola


Wyświetlanie 1-4 z 4
Tytuł:
Accelerated storage degradation testing and failure mechanisms of aerospace electromagnetic relay
Badania przyspieszone degradacji w czasie składowania przekaźników elektromagnetycznych stosowanych w przemyśle lotniczym oraz mechanizmów ich uszkodzeń
Autorzy:
Wang, Z. B.
Shang, S.
Wang, J.-W.
Huang, Z.-L.
Sai, F.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/302000.pdf
Data publikacji:
2017
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:
electrical contact
electromagnetic relay
failure mechanisms
storage reliability
degradation testing
Styk elektryczny
przekaźnik elektromagnetyczny
mechanizmy uszkodzeń
niezawodność składowania
badania degradacji
Opis:
It is difficult to obtain the failure data of high-reliability and long-lifetime aerospace electromagnetic relay (EMR), even if based on the traditional accelerated storage life testing method. Based on the reliability test technique, the scheme of accelerated degradation testing for aerospace EMR was designed. The test system of aerospace electromagnetic relay storage parameters under temperature-accelerated stress was designed and developed. The most past research on storage reliability of relay only focuses on the measurement of contact resistance. The relay time parameters (pick-up time, opening time, overtravel time, rebound duration time, etc.) which reflect main performance function were not monitored. So, in this study the relay time parameters and relay contact resistance were detected simultaneously. According to the analysis on experiment results of contact resistance, relay time parameters, the degradation phenomena of aerospace EMR in long-term storage are investigated, which provides the bases for determining degradation sensitive parameters. Finally, based on the structure and function of aerospace EMR, the storage failure mechanism is investigated by conductive properties themselves. The microscopic morphology and changes in chemical elements for relay contact surface was analyzed by SEM and EDX regularly, which provide references for the relay storage failure mechanism.
Ze względu na wysoką niezawodność i długi cykl życia przekaźników elektromagnetycznych stosowanych w przemyśle lotniczym (EMR), trudno jest uzyskać dane o ich uszkodzeniach, nawet gdy korzysta się z tradycyjnej metody przyspieszonych badań dopuszczalnego okresu składowania. W przedstawionym artykule, opracowano, w oparciu o technikę badania niezawodności, schemat przyspieszonego badania degradacji przekaźników elektromagnetycznych stosowanych w lotnictwie. Zaprojektowano i zpracowano system oceny parametrów składowania przekaźników elektromagnetycznych używanych w lotnictwie w warunkach przyspieszonych przy skrajnych temperaturach. Ostatnie badania nad niezawodnością składowania przekaźników koncentrują się wyłącznie na pomiarze rezystancji styku. Nie były w nich monitorowane parametry czasowe przekaźnika (czas załączania, czas otwarcia, czas opóźnienia, czas trwania odbicia itp.), które odzwierciedlają jego główne funkcje. W przedstawionych badaniach mierzono jednocześnie parametry czasowe przekaźników i rezystancję styków. W oparciu o analizę uzyskanych wyników doświadczeń, badano zjawiska degradacji EMR podczas ich długoterminowego składowania, co stanowiło podstawę do wyznaczenia parametrów wrażliwych na degradację. Wreszcie, w oparciu o strukturę i funkcje EMR, badano mechanizm powstawania uszkodzeń podczas ich składowania na podstawie właściwości przewodzących. Prowadzone regularnie metodami SEM i EDX analizy budowy mikroskopowej oraz przemian pierwiastków chemicznych zachodzących na powierzchni styków przekaźnika stanowią odniesienie dla badań mechanizmu powstawania uszkodzeń podczas składowania przekaźników.
Źródło:
Eksploatacja i Niezawodność; 2017, 19, 4; 530-541
1507-2711
Pojawia się w:
Eksploatacja i Niezawodność
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Badania okresu gwarancyjnego dla systemu wieloskładnikowego, w którym zachodzą interakcje uszkodzeniowe
Research on warranty interval of multi-component system with failure interaction
Autorzy:
Cheng, Z. H.
Bai, Y. S.
Cai, L. Y.
Wang, L. Ch.
Li, P. J.
Chen, L.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/301278.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:
okres gwarancyjny
koszty
dostępność
interakcje uszkodzeniowe
wieloelementowy
warranty period
cost
availability
failure interaction
multi-component
Opis:
W oparciu o analizę interakcji uszkodzeniowych, przyjęto dla systemu wieloskładnikowego politykę gwarancyjną obejmującą niepełną odnowę profilaktyczną. Zbadano średnią intensywność uszkodzeń dla każdego okresu gwarancyjnego oraz skonstruowano modele kosztów obsługi gwarancyjnej oraz dostępności biorąc pod uwagę intensywność uszkodzeń interakcyjnych. Jako przykład podano projekt okresu gwarancyjnego, który może potwierdzić poprawność przyjętego modelu oraz przedstawiono zalety takiego projektu. W badaniach opracowano technikę i metody ustalania okresu gwarancyjnego dla systemów wieloskładnikowych, które stanowią istotny wkład do teorii gwarancji.
Based on the analysis of failure interaction, imperfect preventive warranty policy is adopted for the multi-component system. Average failure rate of each warranty interval is studied and warranty cost model and availability model are built as viewed from interactive failure rate. Then Warranty period project is brought forward as an example, which can validate the feasibility of model and show the advantage of the project. The research can provide technique and methods for determining Warranty Period of multi-component system, which further enriches and perfects the warranty theory.
Źródło:
Eksploatacja i Niezawodność; 2011, 4; 49-55
1507-2711
Pojawia się w:
Eksploatacja i Niezawodność
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Hybrydowy algorytm wzajemnej entropii do oceny niezawodności systemów typu konfiguracja-redundancja
A hybrid cross-entropy algorithm for reliability assessment of confi guration-redundancy system
Autorzy:
Wang, G. B.
Huang, H. Z.
Sun, L. S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/301627.pdf
Data publikacji:
2009
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:
ocena niezawodności
konfiguracja-redundancja
optymalizacja systemu
metoda wzajemnej entropii
generowanie próbek stochastycznych
reliability assessment
configuration-redundancy
system optimization
cross-entropy method
stochastic samples generating
Opis:
Stosowane w praktyce inżynieryjnej różnorakie redundancje zwiększają dostępność danego systemu zarazem powiększając jego złożoność, co czyni niepewnymi ocenę niezawodności i wykrywanie uszkodzeń komponentów systemu. Wobec powyższego, poddano badaniom system typu konfguracja-redundancja oraz sformułowano jego funkcję niezawodności. Kiedy niedostępna jest wiedza na temat poprzednich uszkodzeń komponentów systemu, problem uszkodzeń systemu ma charakter problemu stochastycznego. Tymczasem, aby wyeliminować niepewność systemu, konieczne jest wykrycie uszkodzeń w serii komponentów. Zaproponowano model przewidywanej najkrótszej ścieżki oraz model wykrywania uszkodzeń mające służyć optymalizacji niezawodności. Metodę wzajemnej entropii wykorzystano jako algorytm heurystyczny do oceny niezawodności systemu i wykrywania uszkodzeń komponentów. Zastosowane stochastyczne podejście do generowania próbek umożliwia otrzymanie ważnych próbek. W celu poprawienia wydajności obliczeniowej, stworzono hybrydowy algorytm wzajemnej entropii, który łączy w sobie stochastyczne podejście do generowania próbek i metodę wzajemnej entropii. Wyniki numeryczne wskazują na potencjalną poprawę alokacji niezawodności złożonych systemów, która prowadziłaby do jak najlepszego działania wszystkich komponentów systemu.
Engineering practices with various redundancies increase the availability of a system as well as complexity which bring the uncertainty of reliability estimation and failure detection of system components. Under such conditions, a confi gurationredundancy system is studied and the reliability function of the system is formulated. When no prior failure of system components is available, failure problem of system is a stochastic shortest path problem. Meanwhile to eliminate the uncertainty of system, it is necessary to detect failures series of components. The expected shortest path model and failure detecting model are proposed for system reliability optimization. The Cross-Entropy (CE) method is applied as a heuristic algorithm to estimate the system reliability and detect the failure of components. A stochastic sample generating approach is designed to obtain some valid samples. In order to improve the effi ciency of computing, a hybrid CE algorithm which combines the stochastic sample generating approach and the CE method is developed. Numerical results indicate potential improvements in reliability allocation of complex systems that would lead to the best performances of all system components.
Źródło:
Eksploatacja i Niezawodność; 2009, 3; 4-13
1507-2711
Pojawia się w:
Eksploatacja i Niezawodność
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
A novel Wiener process model with measurement errors for degradation analysis
Analiza degradacji z zastosowa niem nowego modelu procesu Wienera uwzględniającego błędy pomiarowe
Autorzy:
Wang, Z.
Li, J.
Zhang, Y.
Fu, H.
Liu, C.
Krishnaswamy, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/301209.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Tematy:
performance degradation
independent increment process
Wiener process model
linear mean function
linear standard deviation function
measurement error
obniżenie charakterystyk
proces o przyrostach niezależnych
model procesu Wienera
funkcja średniej liniowej
funkcja liniowego odchylenia standardowego
błąd pomiaru
Opis:
Degradation analysis can be used to assess reliability for complex systems and highly reliable products, because few or even no failures are expected in a reasonable life test span. In order to further our study on degradation analysis, an independent increment random process method with linear mean and standard deviation functions is presented to model practical degradation procedures. It is essentially a Wiener process method. Since measurement errors are often created by imperfect instruments, procedures and environments during degradation investigation, the measurement error is incorporated into the independent increment random process. Furthermore, statistical inferences of this model are discussed, and close forms of a product’s median life and percentile of the failure time distribution (FTD) are also derived. The proposed method is illustrated and verified in a comprehensive simulation study and two practice applications for storage disks and Infrared light-emitting diodes. Meanwhile, the time-transformed Wiener process model with measurement error is considered as a reference method. Comparisons show that the proposed model can provide reasonable results, even in considerably small sample size circumstance.
Analizę degradacji można stosować do oceny niezawodności wysoce niezawodnych złożonych systemów i produktów, ponieważ w ich przypadku istnieje bardzo niskie lub zerowe prawdopodobieństwo wystąpienia uszkodzenia w trakcie badania trwałości w przyjętym okresie eksploatacji. W artykule przedstawiono nowo opracowane podejście do modelowania procesu degradacji wykorzystujące metodę procesu o przyrostach niezależnych oraz pojęcia funkcji średniej liniowej i funkcji liniowego odchylenia standardowego. Zasadniczo jest to metoda oparta na procesie Wienera. Ponieważ badania degradacji często wiążą się z błędami pomiarowymi wynikającymi z niedoskonałości stosowanych narzędzi, procedur i warunków badawczych, opisywany proces o przyrostach niezależnych uwzględnia błędy pomiaru. Ponadto, w pracy omówiono wnioski statystyczne, jakie można wyciągnąć na podstawie przedstawionego modelu oraz wyprowadzono wzory ogólne na średnią długość życia produktu oraz na percentyl rozkładu czasu do uszkodzenia. Proponowaną metodę zilustrowano i zweryfikowano na podstawie kompleksowego badania symulacyjnego oraz przykładów praktycznego zastosowania modelu w odniesieniu do dysków pamięci masowej oraz diod podczerwieni. W artykule przedstawiono także model procesu Wienera z transformowanym czasem uwzględniający błąd pomiaru, który posłużył za model referencyjny. Porównania pokazują, że proponowany model może dawać poprawne wyniki, nawet przy bardzo małej liczebności próby.
Źródło:
Eksploatacja i Niezawodność; 2016, 18, 3; 396-405
1507-2711
Pojawia się w:
Eksploatacja i Niezawodność
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-4 z 4

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies