- Tytuł:
-
Problem tolerancji w testowaniu elektronicznych układów w pełni różnicowych
Tolerance problem in testing of fully differential electronic circuits - Autorzy:
- Toczek, W.
- Powiązania:
- https://bibliotekanauki.pl/articles/327522.pdf
- Data publikacji:
- 2008
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Polskie Towarzystwo Diagnostyki Technicznej PAN
- Tematy:
-
układ analogowy
testowanie
układy w pełni różnicowe
model probabilistyczny testu
ocena ryzyka
analog circuit testing
fully differential circuits
probabilistic model for test
risk evaluation - Opis:
-
Rozrzuty tolerancyjne silnie wpływają na proces decyzyjny, oparty na testowaniu w pełni różnicowych układów elektronicznych metodą zorientowaną na uszkodzenia. Skutkiem tolerancji są napięcia rezidualne w nieuszkodzonym układzie testowanym, oraz niepewność progu komparacji w układzie testującym. W rezultacie pojawia się ryzyko błędnej diagnozy. W artykule dokonano syntezy probabilistycznego modelu odpowiedzi układu testowanego i zastosowano go, w połączeniu z uogólnionym modelem pomiaru, do oceny ryzyka błędnej decyzji diagnostycznej z punktu widzenia użytkownika i producenta układu testowanego.
Tolerance deviations strongly affect the test-based decisional process. In the fault-oriented testing of fully differential electronic circuits tolerances cause the residual voltages in the fault-free circuit under test and uncertainty of the threshold in the testing circuit. As the result, risk of taking the wrong decision appears. In the paper, a probabilistic model for responses of circuit under test is developed and applied together with a general probabilistic model of the measurement process for the consumer's and producer's risks assessment. - Źródło:
-
Diagnostyka; 2008, 1(45); 127-130
1641-6414
2449-5220 - Pojawia się w:
- Diagnostyka
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł