Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "surface topography measurement" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Fabrication of Multilayer Cu/Ni Systems with Nanometric Layers by Electrolysis Method
Autorzy:
Spilka, M.
Babilas, R.
Ratuszek, W.
Kowalska, J.
Matus, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/353254.pdf
Data publikacji:
2018
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
Cu/Ni multilayer systems
galvanic method
thickness measurement
surface morphology
topography
Opis:
The paper presents research results of multilayer systems composed of alternate Cu/Ni layers. The layers thickness obtained by the galvanic treatment was determined by using the transmission electron microscopy and X-ray diffraction method in the grazing incidence diffraction geometry. The surface morphology was observed using scanning electron microscope with EDS microanalysis. Observation of the surface topography of systems using the atomic force microscope was also carried out.
Źródło:
Archives of Metallurgy and Materials; 2018, 63, 4; 2067-2073
1733-3490
Pojawia się w:
Archives of Metallurgy and Materials
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies