Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "PT-52" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Microwave Radar for Non-Destructive Express Testing of Electrical Properties of Semiconductor Materials
Autorzy:
Novickij, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1505234.pdf
Data publikacji:
2011-04
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
07.57.Pt
07.55.Db
52.35.-g
72.80.Ey
Opis:
Microwave radar for non-destructive express testing of electrical properties of semiconductor materials which consists of pulsed magnet, transmitting and receiving antennas, high frequency generator, pulsed modulator and digital oscilloscope is described. In semiconductor specimen placed in pulsed magnetic field a magnetoplasmic wave is excited and propagated through the specimen. Delay time and attenuation of transmitted and reference signals are measured to find a value of concentration and mobility of free charge carriers in semiconductors. Experimental data of testing of InSb, n-InSb specimens are presented and acceptable for express testing correspondence of results was achieved.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2011, 119, 4; 537-541
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies