Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Sellier, H." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Scanning-Gate Microscopy of Semiconductor Nanostructures: An Overview
Autorzy:
Martins, F.
Hackens, B.
Sellier, H.
Liu, P.
Pala, M. G.
Baltazar, S.
Desplanque, L.
Wallart, X.
Bayot, V.
Huant, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2047914.pdf
Data publikacji:
2011-05
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
73.21.La
73.23.Ad
03.65.Yz
85.35.Ds
Opis:
This paper presents an overview of scanning-gate microscopy applied to the imaging of electron transport through buried semiconductor nanostructures. After a brief description of the technique and of its possible artifacts, we give a summary of some of its most instructive achievements found in the literature and we present an updated review of our own research. It focuses on the imaging of GaInAs-based quantum rings both in the low magnetic field Aharonov-Bohm regime and in the high-field quantum Hall regime. In all of the given examples, we emphasize how a local-probe approach is able to shed new, or complementary, light on transport phenomena which are usually studied by means of macroscopic conductance measurements.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2011, 119, 5; 569-575
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies