Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Petkun, V." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Enhanced Electron Saturated Drift Velocity in AlGaAs/GaAs/AlGaAs Heterostructures
Autorzy:
Požela, J.
Požela, K.
Sužiedėlis, A.
Jucienė, V.
Petkun, V.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/1813388.pdf
Data publikacji:
2008-03
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
72.10.Di
73.21.Fg
73.40.Kp
Opis:
A new approach for reduction of scattering rate of electrons by polar optical phonons in the double barrier heterojunction quantum well is proposed. This approach is based on the phonon localization in narrow phonon wells. The enhancement of the electron saturated drift velocity in the $Al_{0.2}Ga_{0.8}As$/GaAs/$Al_{0.2}Ga_{0.8}As$ high electron mobility transistor channel is envisaged theoretically and observed experimentally. The drift velocity in the channel in high electric fields (E >10 kV/cm) exceeded the maximal drift velocity in bulk GaAs $(v_\text{max}=10^7 cm/s)$ and achieved the value of $4×10^7$ cm/s.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2008, 113, 3; 989-992
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Hot Electron Effect in Degenerate Semiconductor Tunnel Junction
Autorzy:
Ašmontas, S.
Gradauskas, J.
Petkun, V.
Seliuta, D.
Sužiedėlis, A.
Urbelis, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2041722.pdf
Data publikacji:
2005-01
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
72.20.Ht
73.40.Gk
07.57.Kp
Opis:
We report on the results of experimental study of free carrier heating in degenerate GaAs tunnel p-n diodes when the carriers are excited by pulsed microwave radiation. Free carrier heating is responsible for the electromotive force in the diode. The magnitude of the electromotive force linearly depends on pulsed microwave power and increases with the decrease in semiconductor lattice temperature. It is almost independent of the pulsed microwave frequency and of p-n junction plane orientation in respect to electric field direction. In the tunnelling regime the dark current in the diode is reduced, however, at high enough forward bias the diffusive current is stimulated due to hot carrier phenomenon.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2005, 107, 1; 198-202
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
High Power Microwave Detection in Asymmetrically Shaped n-Al$\text{}_{x}$Ga$\text{}_{1-x}$As Structures
Autorzy:
Ašmontas, S.
Čerškus, A.
Gradauskas, J.
Kundrotas, J.
Lučun, A.
Petkun, V.
Sužiedėlis, A.
Šilėnas, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/2041762.pdf
Data publikacji:
2005-02
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:
07.57.Kp
84.40.-x
72.20.Ht
Opis:
Investigations of detection of high power microwaves in planar asymmetrically shaped microwave diodes on the basis of Al$\text{}_{x}$Ga$\text{}_{1-x}$As ternary semiconductors with various AlAs mole fraction are presented. The principle of operation of the microwave diodes is based on carrier heating phenomena in asymmetrically shaped homogeneous semiconductor structure due to different distribution of the electric field strength along the sample. Experimental results of microwave detection on the barrier-less asymmetrically shaped diodes are presented paying special attention to the homogeneity of Al$\text{}_{x}$Ga$\text{}_{1-x}$As which was monitored by photoluminescence technique.
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2005, 107, 2; 315-318
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:
Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies