Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki Centralna Biblioteka Wojskowa Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaCentralna Biblioteka Wojskowa

Wyszukujesz frazę "mikroskop sił atomowych" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
Wyświetlanie 1-15 z 17
Tytuł:
The study of harmonic imaging by AFM
Badania harmonicznych w obrazowaniu AFM
Autorzy:
Babicz, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/156072.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
mikroskop sił atomowych
powierzchnia
harmoniczne
atomic force microscopy (AFM)
surface
harmonics
Opis:
Atomic Force Microscopy (AFM) is a powerful tool for the analysis of surface samples with accuracy of single atoms. The existing methods include surface roughness, porosity and hardness of the test portion of the sample. The article presents the preliminary studyof a new AFM method of surface analysis. The study indicates that there may be a correlation between intensity of a harmonic resonance frequency of the needle and the system response. The suggested correlation can characterize elasticity of the analyzed surface.
Mikroskop sił atomowych (ang. Atomic Force Microscope - AFM) został wynaleziony w 1986 roku [1] jako alternatywa dla skaningowego mikroskopu tunelowego (ang. Scanning Tunneling Microscope - STM), którego nie można użyć do badań nad materiałami nieprzewodzącymi. AFM umożliwia pomiary materiałów zanurzonych w cieczach, co pozwala badać żywe preparaty biologiczne w warunkach zbliżonych do ich naturalnego środowiska [2]. W artykule przedstawiono zasadę pracy mikroskopu (rys. 1) oddziaływującego siłami van der Waalsa (opisanymi funkcją Lennarda - Jonesa) między ostrzem skanującym a próbką (1) (rys. 2) [3]. Opisano trzy podstawowe tryby pracy mikroskopu: kontaktowy, przerywany [4-6] oraz bezkontaktowy (2). Opierając się na dotychczasowych badaniach [7] wyznaczających różne właściwości materiału w zależności od ich budowy (rys. 3, rys. 4) przebadano próbkę warystora (rys. 5) pod kątem obecności i poziomu kolejnych harmonicznych pobudzającej częstotliwości rezonansowej w odpowiedzi układu. Przeprowadzone pomiary wskazują, że może istnieć związek między intensywnością kolejnych harmonicznych, a właściwościami badanej powierzchni.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2011, R. 57, nr 12, 12; 1508-1510
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Atomic force microscope data post-processing algorithm for higher harmonics imaging
Algorytm przetwarzania danych rejestrowanych za pomoca mikroskopu sił atomowych
Autorzy:
Babicz, S.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/269108.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
Tematy:
atomic force microscope
harmonics
imaging
algorithm
mikroskop sił atomowych
harmoniczne
obrazowanie
algorytm
Opis:
Previous works have proved that higher harmonics topography imaging using atomic force microscope (AFM) can significantly enhanced its measurement capabilities. Integrated tools dedicated to most of microscopes allow to visualize the investigated surface only by one selected harmonic. Because of the different characteristics of a sample, scanning tip and the environment, appropriate harmonic selection is time consuming and requires multiple scanning. In addition, repeated scanning guarantees no precise location of topographic formations, because the sample may be displaced. The author developed a system that allows simultaneous recording of the excitation signal, tips response signal from the photodiode and synchronization signal during typical surface scanning. The author presents an algorithm that allows higher harmonics surface imaging using these stored data.
Dotychczasowe badania wykazuja, że obrazowanie topografii za pomoca mikroskopu sił atomowych (AFM, ang. Atomic Force Microscope) z wykorzystaniem wyższych harmonicznych moe znaczaco rozszerzyc jego możliwosci pomiarowe. Z uwagi na różne własciwosci próbki, igły skanujacej i srodowiska, w jakim jest przeprowadzany pomiar, dobór odpowiedniej harmonicznej jest czasochłonny i wymagałby wielokrotnego skanowania powierzchni. Autor opracował system umożliwiajacy jednoczesna rejestracje sygnału pobudzajacego wibrujaca igłe skanujaca, sygnału odpowiedzi igły z fotodiody oraz sygnału synchronizujacego. Na podstawie tego ostatniego, możliwe jest precyzyjne okreslenie momentu badania danego obszaru próbki. Wykorzystujac przedstawiony algorytm przetwarzania zarejestrowanych danych, autor obrazuje jednoczesnie powierzchnie badanej próbki za pomoca wyższych harmonicznych oraz za pomoca dedykowanego oprogramowania AFM.
Źródło:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2013, 34; 9-12
1425-5766
2353-1290
Pojawia się w:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Simulation and measurements for the substance identification by AFM
Symulacja i pomiary substancji w identyfikacji za pomocą AFM
Autorzy:
Babicz, S.
Zieliński, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/266794.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
Tematy:
mikroskop sił atomowych
identyfikacja substancji
funkcja Leonarda-Jonesa
atomic force microscopy (AFM)
chemicals identification
Opis:
Due to nanotechnology development, there is a strong pressure on research in nanoscale in various environments. An Atomic Force Microscope (AFM) allows to investigate topography of the sample and give some information about it’s chemical composition. During the last two decades, the number of possible applications of AFM increased considerably. The AFM investigates the forces between the applied tip and the sample atoms. These forces are described by Lennard-Jones function. The paper presents a theoretical framework that explains a use of the AFM and presents the recorded signals, applied for substance characterization. Moreover, the preliminary results of the quartz surface measurements are enclosed. The presented way of the collected data analysis shows how to get parameters of the Lennard-Jones function, characteristic for the investigated sample.
W związku z rozwojem nanotechnologii, znacząco wzrosła potrzeba badań mikroskopijnych obiektów. Do takich celów służy mikroskop sił atomowych (AFM), który umożliwia badania topografii próbki oraz dostarcza informacji o jej składzie chemicznym. W ciągu ostatnich dwóch dekad liczba możliwych zastosowań AFM znacznie wzrosła. Mikroskop AFM bada siły oddziałujące między atomami igły skanującej a powierzchnią próbki. Siły te opisuje funkcja Lennard-Jonesa. W pracy przedstawiono teoretyczne podstawy działania mikroskopu sił atomowych oraz rejestrowane sygnały, służące do identyfikacji badanej substancji. Przykładowe badania wykonano na próbce kwarcu. Przyjęty sposób analizy danych pokazuje, jak uzyskać parametry funkcji Lennard-Jonesa, charakterystycznych dla badanej próbki.
Źródło:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej; 2011, 30; 17-20
1425-5766
2353-1290
Pojawia się w:
Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
A measurement system for nonlinear surface spectroscopy with an atomic force microscope during corrosion process monitoring
System pomiarowy do nieliniowej spektroskopii powierzchni mikroskopem sił atomowych podczas monitorowania procesów korozji
Autorzy:
Babicz, S.
Zieliński, A.
Smulko, J.
Darowicki, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/153459.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
corrosion
atomic force microscopy (AFM)
synchronous detection
nonlinearity
korozja
mikroskop sił atomowych
detekcja synchroniczna
nieliniowości
Opis:
In addition to traditional imaging of the surface, atomic force microscopy (AFM) enables wide variety of additional measurements. One of them is higher harmonic imaging. In the tapping mode the nonlinear contact between a tip and specimen results in higher frequency vibrations. More information available from the higher harmonics analysis proves to be helpful for more detailed imaging. Such visualization is especially useful for heterogeneous surfaces which are studied to understand corrosion mechanisms. In this paper the measurement system for nonlinear surface spectroscopy by AFM for corrosion processes monitoring is presented.
Oprócz tradycyjnego zastosowania, mikroskop sił atomowych (ang. Atomic Force Microscope, AFM) [1] (rys. 1) umożliwia wiele dodatkowych pomiarów, wśród których wyróżnić można obrazowanie powierzchni próbki wyższymi harmonicznymi [6-13]. W trybie półkontaktowym [2-4] w odpowiedzi mikrobelki zauważane są wyższe harmoniczne będące wynikiem oddziaływań nieliniowych [2-6]. Wykorzystanie wzmacniacza fazoczułego (ang.: lock-in amplifier) umożliwia obrazowanie topografii badanej próbki [12, 13] nawet do dwudziestej harmonicznej. Otrzymywane obrazy umożliwiają wyostrzenie elementów niewidocznych podczas tradycyjnego skanowania. Ma to związek z wyostrzoną czułością wyższych harmonicznych na struktury topograficzne. Takie obrazowanie jest szczególnie przydatne do badań próbek niejednorodnych [12], gdy łatwo wyróżnić przez obserwację poziom niektórych harmonicznych [6]. Oprócz wyraźnych zmian przy przejściach między różnymi substancjami, pomiary w cieczach wykazują się zwiększoną wrażliwością na lokalne różnice w elastyczności i interakcji geometrii [10]. Przedstawiono system do obrazowania powierzchni za pomocą wyższych harmonicznych w pomiarach ECAFM (ang. Electrochemical Atomic Force Microscopy, ECAFM, rys. 2). Prezentowane rozwiązanie (rys. 3, rys. 4) umożliwia jednoczesną rejestrację obrazów do szóstej harmonicznej podczas monitorowania procesów korozji (rys. 5, 6). Proponowany system pozwala na uzyskiwanie dodatkowych informacji o zjawiskach korozji zachodzących na skanowanych powierzchniach. Taka metoda stanowi uzupełnienie istniejących metod analizy powierzchni korozyjnych [14-16].
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2013, R. 59, nr 4, 4; 287-291
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Influence of Natural Organic Matter on Fouling and Ultrafiltration Membranes Properties – AFM analysis
Wpływ naturalnych substancji organicznych na fouling oraz właściwości membran ultrafiltracyjnych – analiza AFM
Autorzy:
Płatkowska-Siwiec, A.
Bodzek, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/387738.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Towarzystwo Chemii i Inżynierii Ekologicznej
Tematy:
fouling
ultrafiltration
natural organic matter
atomic force microscopy (AFM)
ultrafiltracja
naturalne substancje organiczne
mikroskop sił atomowych
Opis:
Low pressure membrane processes ie microfiltration and ultrafiltration are widely applied in water and wastewater treatment. The main exploitation problem connected with those technologies is the decrease of membrane capacity during the process caused by blocking of membrane pores with organic and inorganic substance (so-called fouling). The performance of atomic force microscopy analysis enables quantitative determination of membranes roughness and allows to characterize membrane surface before and after fouling. The paper discuss results of filtration of three surface waters differ in properties, mainly in specific UV absorbance (SUVA254).
Niskociśnieniowe techniki membranowe, ultrafiltracja i mikrofiltracja, stosowane są do oczyszczania i uzdatniania wody. Głównym problem eksploatacyjnym jest zmniejszanie wydajności membrany w trakcie procesu, związane z blokowaniem porów przez substancje organiczne i nieorganiczne (tzw. fouling). Analiza mikroskopem sił atomowych (AFM) umożliwia ilościowe określenie chropowatości powierzchni membrany, co pozwala scharakteryzować powierzchnię membran przed i po foulingu. W artykule przedstawiono wyniki filtracji trzech wód powierzchniowych różniących się głównie specyficzną absorbancją w nadfiolecie (SUVA254).
Źródło:
Ecological Chemistry and Engineering. A; 2012, 19, 12; 1561-1570
1898-6188
2084-4530
Pojawia się w:
Ecological Chemistry and Engineering. A
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Ocena stanu powierzchni stali stosowanej na narzędzia chirurgiczne za pomocą mikroskopu sił atomowych (AFM)
Evaluation of the surface condition of steel used for surgical instruments by means of atomic forces microscope (AFM)
Autorzy:
Gwoździk, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/284662.pdf
Data publikacji:
2009
Wydawca:
Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Polskie Towarzystwo Biominerałów
Tematy:
narzędzia chirurgiczne
powierzchnia stali
mikroskop sił atomowych (AFM)
surgical instruments
steel surface
atomic force microscope (AFM)
Opis:
Prezentowana praca przedstawia wyniki badań stanu powierzchni stali X39Cr13 z gatunku stali stopowych odpornych na korozję stosowanych na narzędzia chirurgiczne. Badaną stal poddano obróbce cieplnej (hartowanie + odpuszczanie) oraz powierzchniowej (azotowanie jarzeniowe). Po zastosowanych obróbkach powierzchnię próbek analizowano za pomocą mikroskopu sił atomowych (AFM).Przeprowadzone badania pozwoliły na ocenę wpływu różnych wariantów obróbek na stan powierzchni poprzez parametr chropowatości.
The paper presents results of surface condition examinations of X39Cr13 steel from the group of corrosion-resisting alloy steels used for surgical instruments. The tested steel was subject to heat (quenching + tempering) and surface (plasma nitriding) treatment. After the treatments applied the specimens surface was analysed by means of atomic forces microscope (AFM).The examinations carried out allowed evaluating the effect of various treatments’ variants on the surface condition through the roughness.
Źródło:
Engineering of Biomaterials; 2009, 12, no. 89-91; 74-76
1429-7248
Pojawia się w:
Engineering of Biomaterials
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Influence of natural organic matter (NOM) on fouling and ultrafiltration membranes properties - AFM analysis
Wpływ naturalnych substancji organicznych na fouling oraz właściwości membran ultrafiltracyjnych - analiza AFM
Autorzy:
Płatkowska-Siwiec, A.
Bodzek, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/127269.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Towarzystwo Chemii i Inżynierii Ekologicznej
Tematy:
fouling
ultrafiltration
natural organic matter
atomic force microscopy (AFM)
ultrafiltracja
naturalne substancje organiczne
mikroskop sił atomowych
Opis:
Low pressure membrane processes ie microfiltration and ultrafiltration are widely applied in water and wastewater treatment. The main exploitation problem connected with those technologies is the decrease of membrane capacity during the process caused by blocking of membrane pores with organic and inorganic substance (so-called fouling). The performance of atomic force microscopy analysis enables quantitative determination of membranes roughness and allows to characterize membrane surface before and after fouling. The paper discuss results of filtration of three surface waters differ in properties, mainly in specific UV absorbance (SUVA254).
Niskociśnieniowe techniki membranowe, ultrafiltracja i mikrofiltracja, stosowane są do oczyszczania i uzdatniania wody. Głównym problem eksploatacyjnym jest zmniejszanie wydajności membrany w trakcie procesu, związane z blokowaniem porów przez substancje organiczne i nieorganiczne (tzw. fouling). Analiza mikroskopem sił atomowych (AFM) umożliwia ilościowe określenie chropowatości powierzchni membrany, co pozwala scharakteryzować powierzchnię membran przed i po foulingu. W artykule przedstawiono wyniki filtracji trzech wód powierzchniowych różniących się głównie specyficzną absorbancją w nadfiolecie (SUVA254).
Źródło:
Proceedings of ECOpole; 2012, 6, 1; 43-49
1898-617X
2084-4557
Pojawia się w:
Proceedings of ECOpole
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Topografia współpracujących powierzchni łożysk tocznych pomierzona na mikroskopie sił atomowych
Topography of rolling bearings cooperating surfaces measured with an atomic force microscope
Autorzy:
Czaban, A.
Miszczak, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/189772.pdf
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
mikroskop sił atomowych
łożyska toczne
topografia powierzchni
mikro- i nanochropowatość
atomic force microscope
rolling bearing
surface topography
microroughness
nanoroughness
Opis:
W niniejszej pracy autorzy przedstawiają wyniki pomiaru topografii powierzchni współpracujących elementów w łożyskach tocznych przeprowadzone na mikroskopie sił atomowych (AFM). Badaniu topografii powierzchni poddano elementy toczne (kulki, rolki) oraz bieżnie łożysk tocznych przepracowanych i nowych. Badania zostały przeprowadzone na mikroskopie sił atomowych typu NT-206 firmy MTM z Białorusi. Zaprezentowane w pracy wyniki topografii powierzchni zawierają również wyliczone wartości chropowatości Ra i Rq oraz wartość maksymalnej odległości pomiędzy najniższą a najwyższą nierównością. Dzięki programowi komputerowemu SurfaceXplorer topografię powierzchni przedstawiono w pracy w trzech postaciach: mapy powierzchni, trójwymiarowego obrazu chropowatości powierzchni i profilu przez wybrany przekrój powierzchni. Dodatkowo zaprezentowano również rozkłady wysokości chropowatości. Uzyskane wyniki pozwalają na dokonanie oceny stopnia i rodzaju zużycia badanych elementów w skali mikro, pomogą również w projektowaniu takiej warstwy wierzchniej elementów współpracujących, aby uzyskiwać jak najlepsze efekty tribologiczne.
In this paper authors present measurements results of the surface topography of the cooperating surfaces of rolling bearings conducted with an atomic force microscope (AFM). Measurements of surface topography were made for rolling elements (balls, rollers) and races of non-used and used rolling bearings. In the investigations, the authors used the Atomic Force Microscope NT-206 produced in MTM in Minsk, Republic of Belarus. The presented results of surface topography measurements include calculated values of profile roughness parameters Ra and Rq and the distance between maximum peak height and maximum valley depth. The application SurfaceXplorer was used for processing obtained data and the visualization of surface topography in the three forms: a surface roughness map, a three-dimensional surface topography plot and a profile graph in selected cross-section. Furthermore distribution functions graphs of peaks and valleys heights, tilt and orientation are presented. The results and information about surface topography allows one to evaluate the degree and type of wear in microscale and will help to design surface layers with improved tribological properties.
Źródło:
Tribologia; 2011, 5; 31-38
0208-7774
Pojawia się w:
Tribologia
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Imaging system using higher-harmonic in the tapping mode of the ”Terra AFM” microscope
System obrazowania wykorzystujący wyższe harmoniczne w trybie kontaktu przerywanego mikroskopu „Terra AFM”
Autorzy:
Pawłowski, S.
Dobiński, G.
Smolny, M.
Majcher, A.
Mrozek, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/258328.pdf
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy
Tematy:
atomic force microscope
tapping mode
synchronous detection
phase imaging
mikroskop sił atomowych
tryb kontaktu przerywanego
detekcja synchroniczna
obrazowanie fazowe
Opis:
Terra AFM is the atomic force microscope designed and built by the authors as a device for research applications in advanced technologies in industry and in teaching. In tapping-mode, in atomic force microscopy, the interaction between the tip and the sample is, in fact, non-linear and consequently higher harmonics of the fundamental resonance frequency of the oscillating cantilever are generated. In this paper, we present the Terra AFM system using the method of synchronous detection that allows simultaneously recording the amplitudes and phases of the fundamental resonance frequency and of the higher harmonics. The used detection system, composed of 16 bit 100 mega-samples per second (MSPS) analogue-to-digital converter (ADC) and field-programmable gate array (FPGA) device, allows measuring the amplitude and phase of the cantilever within one oscillation cycle and with good signal-to-noise ratio. As a result, good-quality images at higher harmonics could be obtained with the use of conventional cantilevers. The obtained results prove that higher-harmonics imaging can be used to distinguish between different materials. High spatial resolution (about 1 nm) of the presented system is also demonstrated.
Mirroskop Terra AFM jest mikroskopem sił atomowych opracowanym i zbudowanym przez autorów jako urządzenie do zastosowań badawczych, przemysłowych i edukacyjnych w obszarze zaawansowanych technologii. W każdym mikroskopie sił atomowych pracującym w trybie kontaktu przerywanego oddziaływanie pomiędzy sondą i próbką ma charakter nieliniowy, co powoduje powstawanie wyższych harmonicznych częstotliwości podstawowej drgań sondy. W artykule przedstawiono system mikroskopu Terra AFM wykorzystujący metodę detekcji synchronicznej umożliwiającą jednoczesne wyznaczanie amplitudy i fazy wyższych harmonicznych przebiegu podstawowego. Głównymi elementami opracowanego systemu detekcji są przetwornik analogowo-cyfrowy o rozdzielczości 16 bitów i szybkości próbkowania 100 MSPS oraz układ programowalny FPGA pozwalający na pomiar amplitudy i fazy w okresu przebiegu podstawowego drgań sondy z dobrą wartością stosunku sygnału do szumu. Prowadzi to do otrzymywania dobrej jakości obrazów przy wyższych harmonicznych z użyciem typowej sondy mikroskopu AFM. Przedstawiono przykłady uzyskiwanych obrazów, które wskazują na przydatność systemu do rozróżniania obszarów próbek zbudowanych z różnych materiałów. Potwierdzają one również wysoką rozdzielczość przestrzenną (około 1 nm) opracowanego systemu.
Źródło:
Problemy Eksploatacji; 2015, 3; 27-38
1232-9312
Pojawia się w:
Problemy Eksploatacji
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Metody badań mikroświata
Autorzy:
Kucia, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/847740.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Polskie Towarzystwo Przyrodników im. Kopernika
Tematy:
metody badan
obrazowanie
mikroskopia
mikroskopia optyczna
mikroskop optyczny
ultramikroskop
mikroskop ciemnego pola
mikroskop jasnego pola
mikroskop polaryzacyjny
mikroskop polaryzacyjno-interferencyjny
mikroskopia fluorescencyjna
mikroskop fluorescencyjny
mikroskopia konfokalna
mikroskop konfokalny
mikroskopia elektronowa
mikroskop elektronowy
mikroskopia sil atomowych
mikroskop sil atomowych
Źródło:
Wszechświat; 2013, 114, 10-12
0043-9592
Pojawia się w:
Wszechświat
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Analysis of the surface geometry of the orthodontic archwire and their influence on the bacterial adhesion
Autorzy:
Ziębowicz, B.
Woźniak, A.
Ziębowicz, A.
Ziembińska-Buczyńska, A.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/366963.pdf
Data publikacji:
2019
Wydawca:
Stowarzyszenie Komputerowej Nauki o Materiałach i Inżynierii Powierzchni w Gliwicach
Tematy:
archwires
b-Ti
AFM
atomic force microscope
SEM/EDS
confocal microscopy
pitting corrosion
łuk ortodontyczny
mikroskop sił atomowych
mikroskopia konfokalna
korozja wżerowa
Opis:
Purpose: The aim of this work is to characterize the surface geometry of the orthodontic archiwire and their influence of the pitting corrosion resistance and bacterial adhesion. Design/methodology/approach: In the paper, the results of the SEM/EDS analysis and microscopic observation of the samples surface and analysis of geometrical structure with the use Atomic Force Microscope (AFM) and Confocal Microscopy were presented as well as the pitting corrosion test and surface roughness and microhardness measurements were performed. Additionally the microbiological study after bacterial breeding with the use Scanning Electron Microscope was carried out. Findings: In the basis of the investigation, it can be concluded that the surface geometry of archwire has a significant impact on their pitting corrosion resistance in artificial saliva solution and on the bacterial adhesion. The obtained results show satisfactory properties and surface geometry of the tested orthodontic wires for use in the human oral environment. Research limitations/implications: In the future, it is planned to extend the research with physicochemical properties and the influence of oral hygiene products on the corrosive behaviour of the material. Limitations in the conducted tests refer to archwire design – a small diameter making measurements difficult. Practical implications: The oral environment is an extremely aggressive corrosive environment. The orthodontic elements should have very good corrosion resistance and biocompatibility. The focus should be on continuously improving orthodontic wires in terms of material quality and topography of its surface topography. Originality/value: The research is conducted in the field of biomedical engineering, which is part of material engineering and is used for the field of dentistry and microbiology.
Źródło:
Journal of Achievements in Materials and Manufacturing Engineering; 2019, 93, 1-2; 32-40
1734-8412
Pojawia się w:
Journal of Achievements in Materials and Manufacturing Engineering
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Analiza topografii powierzchni panewek mikrołożysk ślizgowych z mikrorowkami
Surface topography analysis of sleeves with micro-grooves of slide micro-bearings
Autorzy:
Miszczak, A.
Wierzcholski, K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/189220.pdf
Data publikacji:
2012
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
mikrołożyska ślizgowe
mikrorowki na powierzchni panewki
topografia powierzchni
mikroskop sił atomowych
profilometr
slide micro-bearings
micro-grooves on sleeve surface
surface topography
atomic force microscope
profilometer
Opis:
W niniejszej pracy autorzy przedstawili topografię powierzchni panewek mikrołożysk ślizgowych z mikrorowkami zmierzonymi za pomocą mikroskopu sił atomowych (NT-206 produkowanego w MTM na Białorusi) i profilometru (T8000-R60 firmy Hommeltester). Wyniki pomiarów topografii powierzchniprzedstawiono w formie dwu- i trójwymiarowych wykresów oraz przekrojów badanej powierzchni. Topografię powierzchni wykonano dla panewek mikrołożysk ślizgowych stosowanych w 2,5" HDD Samsung HM160HI – 5400 obr/min, 3.5" HDD Seagate Barracuda 7200.10 ST380815AS – 7200 obr/min oraz wentylatorze komputerowym Kama Flow SP0825FDB12H. Rozpatrywane mikrołożyska eksploatowane były przez rok na nominalnych prędkościach obrotowych w dwóch trybach pracy. Pierwszy tryb pracy charakteryzował się pracą ciągłą (tj. 24 godziny). Drugi tryb pracy to tryb przerywany, czyli 15 minut urządzenie było włączone i 15 minut wyłączone. Dzięki wynikom uzyskanym za pomocą profilometru określono wielkość, kształt i rozmieszczenie mikrorowków. Wyniki otrzymane na mikroskopie sił atomowych posłużyły do oceny chropowatości powierzchni w skali mikro i manometrycznej oraz zużycia powierzchni ślizgowych.
This paper presents the sleeve surface topography containing microgrooves measured by virtue of Atomic Force Microscopy NT-206 constructed in MTM Belarus, and a T8000-R60 Hommeltester profile measurement gauge. The topography was generated in 2D and 3D charts for the cross-sections of the considered surface sample. The topography was developed for slide micro-bearing sleeve applied in 2.5" HDD Samsung HM160HI – 5400rpm, 3.5" HDD Seagate Barracuda 7200.10 ST380815AS - 7200 RPM and in computer ventilator Kama Flow SP0825FDB12H. The micro-bearings were exploited for one year at nominal rotational speed for two cases. The first case included continuous operation of 24 hours per day. The second case included interrupted operation, e.g. 15 minutes on and 15 minutes off. By virtue of the results obtained using profile measurement gauge, we can record the quantities, shapes, and location of microgrooves. Moreover, the results obtained using AFM were helpful for roughness assessment and wear surface evaluation.
Źródło:
Tribologia; 2012, 3; 103-110
0208-7774
Pojawia się w:
Tribologia
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Multiresponse optimization of EDM process with nanofluids using TOPSIS method and genetic algorithm
Zastosowanie metody TOPSIS i algorytmów genetycznych do wielokryterialnej optymalizacji procesu obróbki elektroiskrowej z użyciem nanopłynów
Autorzy:
Prabhu, S.
Vinayagam, B. K.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/140105.pdf
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:
multiwall carbon nanotubes
atomic force microscope
electrical discharge machining
TOPSIS method
fractal dimension
regression analysis
wielościenne nanorurki węglowe
mikroskop sił atomowych
obróbka elektroiskrowa
metoda TOPSIS
wymiar fraktalny
analiza regresji
Opis:
Electrical Discharge Machining (EDM) process with copper tool electrode is used to investigate the machining characteristics of AISI D2 tool steel material. The multi-wall carbon nanotube is mixed with dielectric fluids and its end characteristics like surface roughness, fractal dimension and metal removal rate (MRR) are analysed. In this EDM process, regression model is developed to predict surface roughness. The collection of experimental data is by using L9 Orthogonal Array. This study investigates the optimization of EDM machining parameters for AISI D2 Tool steel using Technique for Order Preference by Similarity to Ideal Solution (TOPSIS) method. Analysis of variance (ANOVA) and F-test are used to check the validity of the regression model and to determine the significant parameter affecting the surface roughness. Atomic Force Microscope (AFM) is used to capture the machined image at micro size and using spectroscopy software the surface roughness and fractal dimensions are analysed. Later, the parameters are optimized using MINITAB 15 software, and regression equation is compared with the actual measurements of machining process parameters. The developed mathematical model is further coupled with Genetic Algorithm (GA) to determine the optimum conditions leading to the minimum surface roughness value of the workpiece.
Badania charakterystyk obróbki materiału ze stali narzędziowej AISI D2 przeprowadzono w procesie obróbki elektroiskrowej (EDM) z miedzianą elektrodą narzędziową. Zastosowano wielościenną nanorurkę węglową w połączeniu z płynami dielektrycznymi. Analizowano parametry charakteryzujące wynik procesu, takie jak chropowatość powierzchni, wymiary fraktalne i szybkość usuwania metalu. Opracowano model regresyjny procesu EDM pozwalający przewidzieć chropowatość powierzchni. Dane eksperymentalne zebrano w tablicy ortogonalnej L9. Do badania optymalizacji parametrów procesu EDM zastosowano wielokryterialną metodę TOPSIS. Stosując metodę analizy wariancji ANOVA i test F sprawdzano prawidłowość modelu regresyjnego i wyznaczono parametry wpływające istotnie na chropowatość powierzchni. Obrazy powierzchni obrabianych zarejestrowano w mikroskali stosując mikroskopię sił atomowych (AFM), a chropowatości powierzchni i wymiary fraktalne analizowano używając oprogramowania do spektroskopii. W kolejnym etapie parametry te były optymalizowane przy pomocy oprogramowania MINITAB 15, a równania regresji porównywane z wynikami rzeczywistych pomiarów parametrów procesu obróbki. Opracowany model matematyczny został następnie sprzężony z algorytmem genetycznym (GA) by określić warunki optymalne prowadzące do minimalizacji szorstkości powierzchni obrabianego elementu.
Źródło:
Archive of Mechanical Engineering; 2016, LXIII, 1; 45-71
0004-0738
Pojawia się w:
Archive of Mechanical Engineering
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Metoda detekcji amplitudy i fazy w trybie kontaktu przerywanego w dynamicznym mikroskopie sił atomowych
The method of amplitude and phase detection in tapping-mode in dynamic atomic force microscopy
Autorzy:
Pawłowski, S.
Dobiński, G.
Majcher, A.
Mrozek, M.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/187911.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
dynamiczny mikroskop sił atomowych
tryb kontaktu przerywanego
szybka transformata Fouriera FFT
detekcja amplitudy i fazy
dynamic atomic force microscopy
tapping-mode
fast Fourier transform (FFT)
amplitude and phase detection
Opis:
W artykule przedstawiono metodę detekcji drgań sondy pomiarowej w dynamicznym mikroskopie sił atomowych DFM (ang. Dynamic Force Microscopy), która umożliwia jednoczesny, synchroniczny pomiar zarówno amplitudy, jak i fazy składowych harmonicznych sygnału pochodzącego z oscylującej sondy. Model mikroskopu wyposażono w układy wzbudzania oraz detekcji w oparciu o szybkie przetworniki analogowo cyfrowe oraz układ FPGA Vitex-5. Zaimplementowany algorytm dyskretnej transformaty Fouriera FFT oblicza wartość amplitudy pierwszej (lub innej, dowolnej) harmonicznej, która podawana jest do obwodu pętli sprzężenia zwrotnego w celu stabilizacji punktu pracy mikroskopu. Niezależnie przeprowadzana jest również szybka FFT dostarczająca informacji o wartości amplitud oraz faz składowych poszczególnych harmonicznych sygnału z sondy pomiarowej. Opracowana metoda próbkowania pozwala na uniknięcie tak zwanego przecieku transformaty oraz nie wymaga stosowania okienkowania sygnału wejściowego. W opisanym rozwiązaniu informacja o amplitudzie, fazie i zawartości widmowej badanego sygnału jest dostępna praktycznie natychmiast po zakończeniu próbkowania pojedynczego okresu drgań sondy pomiarowej.
This paper presents a method of detecting vibrations in a dynamic probe atomic force microscopy DFM (Dynamic Force Microscopy), which allows simultaneous, synchronous measurement of both the amplitude and phase of harmonic signal from the oscillating probe. The model of the microscope is equipped with excitation and detection systems based on the fast 100 MHz analog and digital FPGA Vitex-5. The algorithm implemented discrete Fourier transform FFT calculates the amplitude of the first (or another) harmonic, which is fed to the circuit feedback loop to stabilize the operating point of the microscope. Regardless also fast Fourier transform FFT is done providing information about the amplitude and phase of each harmonic components of the signal from the probe. The presented sampling method avoids the so-called transform leakage and does not require the use of the windowing of the input signal. In the described embodiment information about the amplitude and phase of the spectral content of the test signal is available almost immediately after a single period of oscillation sampling probe.
Źródło:
Tribologia; 2013, 6; 87-98
0208-7774
Pojawia się w:
Tribologia
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Określenie właściwości smarnych oleju napędowego z hydrokrakingu w funkcji zawartości dodatków (CHO) - podsumowanie - Cz. 4
Determination of lubricity properties of hydrocracked diesel base fuel as the function of the concentration of CHO additives - Part IV
Autorzy:
Korycki, J.
Kajdas, Cz.
Frydrych, J.
Słowiński, G.
Pisarek, M.
Rogowski, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/189121.pdf
Data publikacji:
2009
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
hydrokraking
biopaliwa
keton
tarcie
zużycie
deformacja ciał stałych
polimery tarcia
AFM
mikroskop sił atomowych
hydrocracked diesel fuel
biofuels
ketone
friction
wear
deformation of solids
friction polymer
atomic force microscopy (AFM)
Opis:
Część 1 badanego obszaru tematycznego zawiera wyniki badań wstępnych – metodycznych. Cz. 2 ogólnie opisuje podstawowy obszar tematyczny: wyniki badań właściwości smarnych dodatków estrowych CHO (węgiel, wodór, tlen): butynianu metylu i dekanianu metylu w komponentach oleju napędowego z hydrokrakingu o zawartości siarki poniżej 5 ppm. Badania te wykonano dla próbek strumieni surowcowych i cieczy wzorcowej – n-heksadekan – w funkcji stężenia dodatków. Badania AFM z rozdzielczością poniżej 1nm pozwoliły na ocenę topologii powierzchni po procesie tarcia oraz określenie zakresu zmienności grubości tworzonej warstwy polimerów tarcia. Część 3 opracowania zawiera wyniki badań słabo poznanej grupy dodatków (CHO) ketonów. Pracę wykonano wg programu badań estrów, co pozwala na łatwe porównanie wyników badań. Oceniono też wpływ długości łańcucha ketonu na smarność. Niniejsze opracowanie skupia się na relacji oceny stanu powierzchni uzyskanej metodami instrumentalnymi, jak: AFM, Auger, XPS i SIMS wyników badań smarności grupy dodatków (CHO) – estrów i ketonów. Praca również ogólnie podsumowuje uzyskane wyniki badań zakresu tematycznego, wskazuje problemy i zagadnienia badawcze.
Part 1 of the investigated subject field contains the initial methodical results. Part 2 generally describes basis of the thematic area: findings of the tribological proprieties of ester additives CHO (carbon, hydrogen, oxygen): methyl butyrate and methyl decanoate in components of the hydrocracked or hydrotreated base diesel oil, containing sulphur below 5 ppm. This research was executed for samples of streams of raw material and standard liquid – n-hexadecane – in the function of the additive concentration. Research using an AFM apparatus with the resolution below 1 nm allowed estimating surface topology after the friction process and qualification of the range of the variability of the created layer thickness of the film products, assumed to be friction polymers. Other methods include research of instrumental (AES, XPS, SIMS) fragments super frictions progress. Part 3: Base fuels of two producers and n-hexadecane were used as solvents to test the effect of four ketones at different treatment rates. The influence of such CHO ketone type additives on streams and/or fractions of hydrocarbon fuels is not exactly defined as yet. In the article, we introduced research results of surface investigation with the instrumental methods: AFM, Auger, XPS and SIMS in relation to lubrication proprieties of selected additives CHO – esters and ketone (carbon, hydrogen and oxygen) in the hydrocracked or hydrotreated base diesel fuels, containing sulphur below 5 ppm.
Źródło:
Tribologia; 2009, 5; 77-90
0208-7774
Pojawia się w:
Tribologia
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Wyświetlanie 1-15 z 17

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies