Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "karta akwizycji danych" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-2 z 2
Tytuł:
Stanowisko do badań porównawczych paneli fotowoltaicznych
A laboratory stand for comparative tests of photovoltaic cells
Autorzy:
Szlachta, A.
Angerman, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/157699.pdf
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
kolektor słoneczny
karta akwizycji danych
środowisko LabVIEW
solar collector
data acquisition card
LabVIEW environment
Opis:
W artykule zaprezentowano stanowisko badawcze i procedury pomiarowe do badań paneli fotowoltaicznych, które zostało opracowane przy współpracy Katedry Metrologii i Systemów Diagnostycznych i Firmy SOLARHAET. Prezentowane stanowisko badawcze umożliwia przeprowadzenie badań porównawczych dwóch paneli fotowoltaicznych. Jedną z najważniejszych cech tego stanowiska jest możliwość zautomatyzowania procesu pomiaru, co przyczynia się do jego większej niezawodności.
The utilization of solar energy for heating and other purposes has become more effective due to fast technology development. Similar progress can be observed in technology of obtaining electrical energy from the sun as a result of modern construction of photovoltaic panels with P-N junctions, which convert a photon of the energy bigger than the energy gap into electric current. The designed in Department of Metrology and Diagnostic Systems at Rzeszow University of Technology and SOLARHEAT Angerman Company portable laboratory stand can be used for comparison of two photovoltaic panels. The most important feature of this stand is opportunity of automatic control process using LabVIEW programming environment and the National Instruments USB 6009 basic data acquisition card. The results of research are written automatically into a text file and displayed on a computer and TV screen. This stand is used for educational purpose to recognize features of PV panels, such as shadow sensitivity, direction and inclination sensitivity. If the halogen lights were replaced by a sun simulator, this device could be also used for professional testing of PV panels. Poland as a member of the European Union is obliged to introduce directives of promotion of the energy from renewable sources. Our unit is associated with promotion of such sources.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2013, R. 59, nr 12, 12; 1242-1244
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Ograniczenia wirtualnego miernika impedancji opartego na karcie akwizycji danych
The limitations of virtual impedance meter based on a data acquisition card
Autorzy:
Hoja, J.
Lentka, G.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/152316.pdf
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
pomiar impedancji
pomiary elementów RLC
karta akwizycji danych
cyfrowe przetwarzanie sygnałów
impedance measurement
RLC measurement
data acquisition card
digital signal processing
Opis:
W artykule przedstawiono wirtualny miernik parametrów elementów RLC, zrealizowany w oparciu o komputer PC z zainstalowaną kartą akwizycji danych (PCI-6040E) wyposażoną w przetworniki a/c i c/a. Analizowano właściwości metrologiczne miernika zależne od parametrów zastosowanej karty. Przeprowadzono badania symulacyjne błędu pomiaru pojemności uwzględniające rozdzielczość i częstotliwość próbkowania przetwornika a/c oraz jego czas konwersji wpływający na przesunięcie fazowe pomiędzy próbkowanymi na przemian sygnałami pomiarowymi. Analizowano także wpływ przecieku widma na dokładność pomiaru, spowodowanego nie spełnieniem warunku zbierania próbek w całkowitej liczbie okresów sygnału pomiarowego.
The paper presents virtual meter of impedance parameters of RLC elements based on personal computer with installed data acquisition card (PCI-6040E) equipped with AD and DA converters. The metrological properties of the instruments depending on the parameters of the used card have been analysed. Simulation tests of the capacitance measurement error have been performed taking into account the resolution and sampling frequency of the AD converter and the conversion time influencing the phase shift between measurement signals which are sampled sequentially. The influence of the spectral leakage caused by missed condition of collecting samples in the integer number of periods of measurement signal on the measurement accuracy has been also analysed.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2007, R. 53, nr 9 bis, 9 bis; 657-660
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-2 z 2

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies