Autor: Juhasz, L. - Katalog OPAC zbiorów

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Methods for assessment of the occupational exposure at working places of different TENORM industrial branches
Metody oceny ekspozycji zawodowej powodowanej przez TENORM w różnych gałęziach przemysłu
Autorzy:: Weiss, D.
Biesold, H.
Jovanovic, P.
Juhasz, L.
Laciok, A.
Leopold, K.
Michalik, B.
Moravanska, H.
Poffijn, A.
Popescu, M.
Radulescu, C.
Szerbin, P.
Wiegand, J.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/340204.pdf
Data publikacji:: 2004
Wydawca:: Główny Instytut Górnictwa
Tematy:: BHP
TENORM
projekt TENORMHARM
ochrona radiologiczna
OSH
TENORMHARM project
radiological protection
Źródło:: Prace Naukowe GIG. Górnictwo i Środowisko / Główny Instytut Górnictwa; 2004, 1; 60-61
1643-7608
Pojawia się w:: Prace Naukowe GIG. Górnictwo i Środowisko / Główny Instytut Górnictwa
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Defect Analysis of Pentacene Diode
Autorzy:: Stuchlíková, L.
Weis, M.
Juhász, P.
Kósa, A.
Harmatha, L.
Jakabovic, J.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/1364022.pdf
Data publikacji:: 2014-04
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Tematy:: 72.80.Le
73.50.Gr
71.55.-i
Opis:: This paper demonstrates the analysis of defect states in pentacene film sandwiched between Au and Al electrodes by the deep-level transient spectroscopy method. Three hole-like deep energy levels were observed. The effective mass obtained from the simulation is applied and defect parameters, namely the capture cross-sections and the activation energy 3.7 × $10^{-18} cm^2$ at 0.34 eV, 3.1 × $10^{-17} cm^2$ at 0.41 eV, and 2.9 × $10^{-15} cm^2$ at 0.63 eV is determined from the Arrhenius plot. Reliability of obtained defect parameters is confirmed by simulation of deep level transient spectra and comparison with experiment.
Źródło:: Acta Physica Polonica A; 2014, 125, 4; 1038-1041
0587-4246
1898-794X
Pojawia się w:: Acta Physica Polonica A
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

Informacja