Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Afjehi-Sadat, A." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
From Nanometrology to Picometrology - metrology for Human Life and technical Development in the 21st Century
Od nanometrologii do pikometrologii - metrologia dla ludzkiego życia i rozwoju technologicznego XXI wieku
Autorzy:
Afjehi-Sadat, A.
Osanna, P. H.
Durakbasa, M. N.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/158059.pdf
Data publikacji:
2004
Wydawca:
Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
Tematy:
nanometrologia
pikometrologia
metrologia
życie ludzkie
rozwój technologiczny
wiek XXI
nanometrology
nanotechnology
precision manufacturing
measurement technique
quality management
picometrology
metrology
human life
technical development
21st Century
Opis:
In this article the importance of nanometrology and nanotechnology in general for scientific research and especially for production engineering is described and particulary the influence on technical development, high precision manufacturing but also for circumstancies of human life is demonstrated. High accuracy measurement technique and metrology must be given a key role in modern production environment. Essential contributions to increase the quality of products and the productive power of industrial plants can be reached through the aimed application of nanometrology.
Przedstawiono podstawowe znaczenie nanometrologii i nanotechnologii w badaniach naukowych koncentrując się przede wszystkim na inżynierii produkcji. Podkreślono wpływ nanometrologii i nanotechnologii na rozwój techniczny, wytwarzanie o wysokiej dokładności jak również ich znaczenie w życiu człowieka. Techniki pomiarowe o wysokiej dokładności i metrologia powinny odgrywać kluczową rolę w warunkach nowoczesnej produkcji. Dzięki zastosowaniom nanotmetrologii można uzyskać znaczący wzrost jakości wyrobów i zdolności produkcyjnych.
Źródło:
Pomiary Automatyka Kontrola; 2004, R. 50, nr 12, 12; 10-14
0032-4140
Pojawia się w:
Pomiary Automatyka Kontrola
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies