The publication describes how diffraction methods and mathematical bases can
be used for measurement of various types of stresses in single-phase and multiphase
materials. Firstly, the paper defines the stresses and classifies them from the scale of their
interactions point of view. Subsequently, the phenomenon of radiation diffraction on the
crystalline lattice is presented including formulas describing this phenomenon and the
dependencies enabling stress measurements. The key part of the paper is the description
of one of the second order stress estimation methods based on diffraction data and a selfconsistent model.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00