Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

O wyrywkowym sprawdzaniu przedmiotów przy warunku dwustronnym

Tytuł:
O wyrywkowym sprawdzaniu przedmiotów przy warunku dwustronnym
On sampling inspection with a two-sided criterion
О выборочной проверке предметов при двусторонним условии
Autorzy:
Oderfeld, J.
Powiązania:
https://bibliotekanauki.pl/articles/741006.pdf
Data publikacji:
1954
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Matematyczny PAN
Źródło:
Applicationes Mathematicae; 1954, 2, 2; 210-224
1233-7234
Język:
polski
Prawa:
Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies