Electron backscatter diffraction (EBSD) system in conjunction with scanning electron microscope (SEM) allows performing full material characterization which include analysis of individual grain orientations, crystal orientation, global and local texture, phase identification and distribution or microstrain mapping. EBSD technique may be also applied for assessing lattice strain introduced during local plastic deformation due to its close relationship with development of dislocation substructure. The aim of this study was analysis of surface deformation by EBSD method of CuZn10 alloy in as-cast state and after plastic working and annealing, with different grain size at the beginning of the cavitation destruction process. The local changes of plastic deformation inside each grain were expressed by Grain Orientation Spread (GOS) and Kernel Average Misorientation (KAM) parameters.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00