In the Sections 1 and 2 of the paper the theory and a quantitative analysis of ambipolar thermodiffusion are presented. Formulas are derived describing the internal and total current densities and the excess carrier density distribution in a semiconductor in the presence of a temperature gradient perpendicular to the surface of the semiconductor plate. The Sections 3 and 4 describe the interaction of thermodiffusion current and perpendicular magnetic field resulting with emf and voltage between sample electrodes. We have called this phenomenon as thermomagnetoelectric effect (TME). The theory gives the formula that defines the TME voltage, which depends on the carrier lifetime and the surface recombination velocity of the semiconductor sample.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00