Automatic metrological diagnostics of sensors

As the number of sophisticated technical complexes with automatic control systems grows, the number of embedded sensors increases. The specific scientific problems that emerge while developing the sensors characterized by fault tolerance and long-term lifetime without metrological maintenance are considered. The possible ways of solution of these problems are outlined. The features of metrological diagnostics are demonstrated.

W miarę wzrostu liczby skomplikowanych technicznych kompleksów z automatycznymi systemami sterowania zwiększa się liczba wbudowanych czujników. Rozpatrywane są problemy naukowo-techniczne związane z konstrukcją czujników charakteryzujących się długim czasem pracy bez obsługi metrologicznej i odpornością na uszkodzenia. Zostały zarysowane drogi rozwiązania tych problemów i możliwości diagnostyki metrologicznej.