As the number of sophisticated technical complexes with automatic control systems grows, the number of embedded sensors increases. The specific scientific problems that emerge while developing the sensors characterized by fault tolerance and long-term lifetime without metrological maintenance are considered. The possible ways of solution of these problems are outlined. The features of metrological diagnostics are demonstrated.
W miarę wzrostu liczby skomplikowanych technicznych kompleksów z automatycznymi systemami sterowania zwiększa się liczba wbudowanych czujników. Rozpatrywane są problemy naukowo-techniczne związane z konstrukcją czujników charakteryzujących się długim czasem pracy bez obsługi metrologicznej i odpornością na uszkodzenia. Zostały zarysowane drogi rozwiązania tych problemów i możliwości diagnostyki metrologicznej.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00