In this paper we summarize the results of our research concerning the diagnostics of micro- and nanostructure with scanning probe microscopy (SPM). We describe the experiments performed with one of the scanning probe microscopy techniques enabling also insulating surfaces to be investigated, i.e., atomic force microscopy (AFM). We present the results of topography measurements using both contact and non-contact AFM modes, investigations of the friction forces that appear between the microtip and the surface, and experiments connected with the thermal behaviour of integrated circuits, carried out with the local resolution of 20 nm.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00