Identyfikacja i przetwarzanie cyfrowe sygnałów szumów RTS występujących w przyrządach półprzewodnikowych Identification and digital processing of RTS noise in semiconductor devices
W referacie przedstawiono metody identyfikacji szumów RTS. Zaproponowano graficzną metodę identyfikacji tych szumów oraz sposób wyznaczania średnich czasów trwania impulsów. Metodę oraz sposób wyznaczania średnich czasów trwania impulsów omówiono na przykładzie oceny szumów własnych przyrządów półprzewodnikowych z zakresu małych częstotliwości.
A new method for recognition of RTS noise is described. The method is useful in quick selection of semiconductor devices for further RTS examination. The results of median filtering of RTS noise are enclosed. An algorithm of estimating of RTS impulses mean times is described.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00