Badania symulacyjne dynamicznej odporności na zakłócenia układów cyfrowych

Przedstawiono metodę pomiaru dynamicznej odporności na zakłócenia układów cyfrowych z zastosowaniem wzorcowego sygnału szumowego. Modyfikacja metody polega na dodatkowym ograniczeniu szerokości pasma stymulującego sygnału szumowego. Przeprowadzono badania symulacyjne z wykorzystaniem kilku modeli badanego układu cyfrowego, w tym modelu detektora progowego oraz szybkiego komparatora z histerezą, mające na celu określanie odporności na zakłócenia układów logicznych z zastosowaniem szumu gaussowskiego jako sygnału stymulującego o różnej szerokości pasma. Uzyskane wyniki potwierdziły tezę, że im węższe jest zadane pasmo sygnału szumowego, tym wyższy poziom mocy widmowej jest niezbędny do zakłócającej zmiany stanu logicznego. Jeśli szerokość pasma szumu jest znaczna, wówczas poziom gęstości widmowej mocy, niezbędny do zmiany stanu badanego układu, jest relatywnie niski.

The method of dynamic noise immunity measurement of digital circuits using a standard noise signal has been presented. The modification of the method rely on the additional bandwidth limitation of the stimulus noise signal. The simulations have been carried out using several models of tested digital devices including the threshold detector and the fast comparator with histeresis models aimed on noise immunity of digital circuits investigation with the application of Gaussian noise with different bandwidth as a stimuli. The achieved results confirmed the thesis that the narrower assigned bandwidth of the stimulating noise signal the higher power spectral density level is necessary to change the logic level of the device. For the considerable white noise bandwidth the level of noise power spectral density required for changing of logic state is relatively low.