Zastosowanie systemu do pomiaru pojemności i współczynnika strat dielektrycznych w badaniach wysokonapięciowych układów izolacyjnych

Pomiary właściwości dielektrycznych materiałów i układów izolacyjnych wysokiego napięcia są jednymi z podstawowych rodzajów badań wykonywanych w laboratoriach wysokich napięć. Ważnymi wielkościami mierzonymi w tej grupie są pojemność C i współczynnik strat dielektrycznych tgd. Artykuł przedstawia projekt systemu pomiarowego zbudowanego w oparciu o automatyczny miernik C i tgd oraz sterowane źródło wysokiego napięcia, zawierające programowany generator przebiegów sinusoidalnych i wzmacniacz wysokonapięciowy. Zestaw taki, nadzorowany poprzez interfejs IEEE-488 (GPIB) z komputera z dedykowanym oprogramowaniem, przygotowanym w środowisku LabVIEW, pozwala stworzyć wirtualny przyrząd pomiarowy o szerokich możliwościach. W artykule opisano pierwszy etap praktycznej realizacji projektu, w którym zautomatyzowano obsługę miernika oraz archiwizowanie wyników pomiarów.

Measurements of the properties of dielectric materials and insulating system are one of the most common researches conducted in the high voltage laboratory. Important quantities measured in this group are the capacitance and dielectric loss factor. This paper describes project of measurement system built with automatic capacitance and loss factor precision measuring bridge and controlled HV source, containing an arbitrary waveform generator and HV amplifier. The system is supervised via IEEE-488 (GPIB) interface by a host computer with dedicated software, prepared in the LabVIEW environment, allowing you to create a virtual measuring instrument with extended capabilities. The article describes the first stage of practical realization of the project, in which control of instrument by host computer and data archiving have been implemented.