The Analysis Of Accuracy Of Selected Methods Of Measuring The Thermal Resistance Of IGBTs

Szczegóły
Opis

Tytuł:: The Analysis Of Accuracy Of Selected Methods Of Measuring The Thermal Resistance Of IGBTs
Autorzy:: Górecki, K.
Górecki, P.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/220969.pdf
Data publikacji:: 2015
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Tematy:: IGBT
thermal resistance
measurements
transistor
semiconductor devices
Źródło:: Metrology and Measurement Systems; 2015, 22, 3; 455-464
0860-8229
Język:: angielski
Prawa:: CC BY-NC-ND: Creative Commons Uznanie autorstwa - Użycie niekomercyjne - Bez utworów zależnych 3.0 PL
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki
: Artykuł

Przejdź do źródła

In the paper selected methods of measuring the thermal resistance of an IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistor) are presented and the accuracy of these methods is analysed. The analysis of the measurement error is performed and operating conditions of the considered device, at which each measurement method assures the least measuring error, are pointed out. Theoretical considerations are illustrated with some results of measurements and calculations.

Informacja

Powiązane pozycje