Modification of bentonite by the Al/Fe metal oxide pillarization process was carried out with metal oxides. The bentonite pillars were successfully characterized using an X-Ray Diffraction (XRD) spectrophotometer. The results of XRD characterization showed the peak diffraction angle (2θ) in metal-pillared bentonite was 26.84° at 698.98 cps. Meanwhile, in thermally and chemically activated bentonite, the peak angles were marked at 20.64° and 26.7°. There is a shift in the peak angle after activation and pillarization. XRD patterns showed dioctahedral smectite and quartz accessory minerals.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00