Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Reliability wave in light of the nano development

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Reliability wave in light of the nano development
Autorzy:: Way, K.
Powiązania:: https://bibliotekanauki.pl/articles/2069588.pdf
Data publikacji:: 2007
Wydawca:: Uniwersytet Morski w Gdyni. Polskie Towarzystwo Bezpieczeństwa i Niezawodności
Tematy:: stress test
nanotechnology
Źródło:: Journal of Polish Safety and Reliability Association; 2007, 2; 251--253
2084-5316
Język:: angielski
Prawa:: Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki
: Artykuł

Przejdź do źródła

This talk is based on the Editorial of IEEE Transactions on Reliability, December, 2006 and discusses a framework for applying reliability principles and practices to the emerging nano technology fields.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Reliability wave in light of the nano development

Powiązane pozycje