We analyse the recently observed effect of an in-plane electric current through a Si quantum well on the conduction electron spin resonance. We find that the ratio of resonance shift and current density is independent of temperature and dissipation processes, but the channel current is reduced due to a parallel electric channel in heavily modulation doped samples. The inhomogeneous current distribution results in some broadening of the ESR line width. In high mobility Si/SiGe layers the current induced increase in the electron temperature is considerably larger than the increase in the lattice temperature. The signal amplitude scales with the square of electron mobility.
Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies
Informacja
SZANOWNI CZYTELNICY!
UPRZEJMIE INFORMUJEMY, ŻE BIBLIOTEKA FUNKCJONUJE W NASTĘPUJĄCYCH GODZINACH:
Wypożyczalnia i Czytelnia Główna: poniedziałek – piątek od 9.00 do 19.00